Abstract:
본 발명은 박막 트랜지스터 기판 및 그의 제조 방법에 관한 것으로 박막 트랜지스터 기판은 절연 기판과, 절연 기판 위에 형성되어 있는 게이트선, 게이트선의 일부인 게이트 전극, 게이트선의 일단에 연결되어 있는 게이트 패드를 포함하는 게이트 배선과, 기판 위에 형성되어 있는 게이트 절연층과, 게이트 절연층 위의 소정 영역에 형성되어 있는 반도체층과, 게이트 절연층 위에 있으며, 게이트선과 교차하도록 형성되어 있는 데이터선, 데이터선의 분지이며 반도체층의 일부분과 연결되도록 형성되어 있는 소스 전극, 소스 전극과 대향되어 있으며 반도체층의 다른 일부분과 연결되어 있는 드레인 전극, 데이터선의 일단에 연결되어 있는 데이터 패드를 포함하는 데이터 배선과, 데이터 배선 위에 형성되어 있으며 접촉구를 가지는 보호층과, 보호층 위에 형성되어 있으며, 접촉구를 통해 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 포함하고, 게이트 배선과 데이터 배선중 적어도 하나는 텅스텐층을 포함한다. 박막트랜지스터기판, 텅스텐, 배선
Abstract:
A metal line forming method is provided to simplify the processes by means of a wet plating technique instead of a vacuum layer forming apparatus and to reduce the manufacturing cost. A dielectric layer(31) is deposited on the upper portion of a substrate(30). A potential mask pattern made of a metal line is formed on the upper portion of the dielectric layer. The dielectric layer exposed by the potential mask pattern is etched. Thereafter, the substrate is activated so that a sheet layer(32) is formed on the surface thereof. The potential mask pattern and the upper portion thereof are removed by a lift off manner. A metal layer(33) is formed on the upper portion of a seed layer formed as a pattern. The substrate is made of materials selected from a group consisting of silicon wafer, glass, indium stone oxide, mica, black lead, molybdenum sulfide, copper, zinc, aluminum, stainless, magnesium, iron, nickel, gold, silver, polyimide, polyester, polycarbonate, acryl resin of plastic substrate.
Abstract:
A TFT substrate is provided to avoid pattern delamination of an upper interconnection by forming upper and lower interconnections for capping a layer made of an extremely low resistance material like copper. A gate interconnection is formed on an insulation substrate(10), including a gate line and a gate electrode(26). An active layer pattern and a resistive contact layer pattern are formed on the gate electrode. A data interconnection includes a data line crossing the gate line and source and drain electrodes(65,66) formed on the resistive contact layer pattern wherein the source and drain electrodes are separated from each other. The gate interconnection and/or the data interconnection are/is composed of a lower interconnection, an intermediate interconnection and an upper interconnection. The lower interconnection is made of an alloy of molybdenum and at least one element selected from a group of niobium, zirconium, tantalum, manganese and vanadium. The intermediate interconnection is disposed on the lower interconnection, made of copper. The upper interconnection contains a nitrogen element and/or an oxygen element in an alloy of molybdenum and at least one element selected from a group of niobium, zirconium, tantalum, manganese and vanadium. The lower interconnection can include a nitrogen element and/or an oxygen element wherein the content of the oxygen element and the oxygen element in the lower interconnection is less than that of the upper interconnection.
Abstract:
A method of manufacturing a display device is provided to shorten a manufacture time of display device by reducing the stacked number of metal layers constituting a second metal pattern and reduce a manufacture cost. A method of manufacturing a display device includes the steps of forming a gate insulation layer on a substrate(110) on which a first metal pattern having a gate wiring and a gate electrode(120) of a thin film transistor is formed; stacking a first metal layer having molybdenum and a second metal layer having aluminum on the gate insulation layer; forming a second metal pattern by simultaneously patterning the first and second metal layers; forming a passivation layer having a formation of contact hole exposing a portion of drain electrode; and selectively dry-etching the second metal layer of the drain electrode exposed to the contact hole and forming a pixel electrode contacted with the drain electrode from which the second metal layer is removed.
Abstract:
절연 기판 위에 게이트 배선이 형성되어 있고, 게이트 절연막이 게이트 배선을 덮고 있으며, 게이트 절연막 위에 반도체 패턴이 형성되어 있다. 반도체 패턴과 게이트 절연막 위에는 소스 전극 및 드레인 전극과 데이터선을 포함하는 데이터 배선이 형성되어 있고, 데이터 배선 위에는 보호막이 형성되어 있다. 보호막 위에는 접촉 구멍을 통하여 드레인 전극과 연결되는 있는 화소 전극이 형성되어 있다. 이 때, 게이트 배선 및 데이터 배선은 Ag에 Zn, In, Sn 및 Cr 중의 어느 하나 이상의 물질이 혼합되어 이루어진 Ag 합금으로 이루어져 있다. 박막트랜지스터기판, 저항, 접착성, Ag, 내화학성
Abstract:
반사 투과형 액정표시장치 및 이의 제조 방법이 개시되어 있다. 광량이 풍부한 곳에서는 외부 광을 반사시켜 액정으로 공급하고, 광량이 부족한 곳에서는 자체 생산한 광을 액정으로 공급하기 위하여 광의 반사/투과가 모두 가능한 반사/투과 전극이 사용된다. 디스플레이 휘도를 보다 향상시킬 수 있으며, 광량이 풍부한 곳에서는 외부 광을 이용함으로 작은 소비전력으로 디스플레이를 수행하며 광량이 부족한 곳에서는 자체 생산된 광을 이용하여 디스플레이가 가능하다. 반사 투과형 액정표시장치, 반사/투과 전극
Abstract:
먼저, 질소를 주입하면서 은 또는 은 합금의 타겟을 스퍼터링하고 질화 은 또는 질화 은 합금의 제1 박막을 기판의 상부에 적층하고 다시 은 또는 은 합금을 스퍼터링하여 제2 도전막을 적층하고, 제1 및 제2 박막을 적층하고 패터닝하여 기판 위에 게이트선, 게이트 전극 및 게이트 패드를 포함하는 가로 방향의 게이트 배선을 형성한다. 다음, 게이트 절연막을 질화 규소를 적층하여 형성하고, 그 상부에 반도체층 및 저항 접촉층을 차례로 형성한다. 이어, 게이트 배선과 동일하게 게이트선과 교차하는 데이터선, 소스 전극, 드레인 전극 및 데이터 패드를 포함하는 데이터 배선을 형성한다. 이어, 질화 규소 또는 유기 물질을 적층하여 보호막을 형성하고 건식 식각으로 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드를 각각 드러내는 접촉 구멍을 형성한다. 이어 IZO 또는 ITO를 적층하고 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드와 각각 전기적으로 연결되는 화소 전극, 보조 게이트 패드 및 보조 데이터 패드를 형성한다. 질소, 은, 접착력, 비저항,
Abstract:
투명한 유리 기판 위에 금속 박막을 단일막 또는 이중막으로 증착한 후, 그 위에 감광막을 도포한다. 다음, 더미(du㎜y) 패턴이 인쇄된 마스크를 이용하여 감광막을 노광, 현상하여 활성 영역의 패턴과 활성 영역 외의 영역에서 활성 영역을 둘러싸는 더미 패턴을 형성한다. 이 때, 활성 영역과 더미 패턴간의 간격은 10㎛ 이상으로 형성하고, 더미 패턴의 폭은 5㎜ 이상으로 형성한다. 다음, 식각액을 사용하여 금속 박막을 식각한다. 이와 같이, 활성 영역 외의 영역에서 활성 영역을 둘러싸는 더미 패턴을 형성하여 패턴 검사시 테두리 얼룩으로 나타나는 패턴 가장자리의 불균일한 선폭이 더미 패턴에 형성되게 하고, 기판을 각 패널별로 절단할 때 더미 패턴 부분이 제거되게 함으로써, 액정 표시 장치의 화면의 열화를 방지할 수 있다.
Abstract:
먼저, 유리 기판을 산소 플라스마 처리한 다음, 기판의 상부에 은 또는 은 합금의 도전 물질을 적층하고 패터닝하여 기판 위에 게이트선, 게이트 전극 및 게이트 패드를 포함하는 가로 방향의 게이트 배선을 형성한다. 다음, 게이트 절연막을 질화 규소를 적층하여 형성하고, 그 상부에 반도체층 및 저항 접촉층을 차례로 형성한다. 이어, 반도체층 또는 저항성 접촉층의 규소층을 HF 처리하고 규소층의 상부에 은 합금의 도전 물질을 적층하고 패터닝하여 게이트선과 교차하는 데이터선, 소스 전극, 드레인 전극 및 데이터 패드를 포함하는 데이터 배선을 형성한다. 이어, 질화 규소 또는 유기 물질을 적층하여 보호막을 형성하고 건식 식각으로 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드를 각각 드러내는 접촉 구멍을 형성한다. 이어 IZO 또는 ITO를 적층하고 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드와 각각 전기적으로 연결되는 화소 전극, 보조 게이트 패드 및 보조 데이터 패드를 형성한다. 은, 접착력, 비저항, 산소, 플라스마, HF
Abstract:
먼저, 알루미늄 계열의 도전 물질을 적층하고 패터닝하여 기판 위에 게이트선, 게이트 전극 및 게이트 패드를 포함하는 가로 방향의 게이트 배선을 형성한다. 다음, 게이트 절연막, 반도체층 및 저항 접촉층을 차례로 형성한다. 이어, 알루미늄 계열의 도전 물질을 포함하는 금속을 적층하고 패터닝하여 게이트선과 교차하는 데이터선, 소스 전극, 드레인 전극 및 데이터 패드를 포함하는 데이터 배선을 형성한다. 이어, 보호막을 적층하고 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드 표면의 반응층을 각각 드러내는 접촉 구멍을 형성한다. 이어 비정질 ITO 및 IZO를 적층하고 패터닝하여 드레인 전극, 게이트 패드 및 데이터 패드와 각각 전기적으로 연결되는 화소 전극, 보조 게이트 패드 및 보조 데이터 패드를 형성한다. 비정질ITO, IZO, 크롬식각액, 알루미늄식각액