Abstract:
본 발명은 비점수차를 갖는 렌즈를 이용하여 초점오차신호를 검출하고, 이를 이용하여 미세 형상을 측정하는 비점수차 렌즈를 이용한 형상측정장치에 관한 것이다. 본 발명의 비점수차 렌즈를 이용한 형상측정장치는 빛을 조사하는 광원과, 상기 광원으로부터 조사된 빛을 다점으로 통과시키는 다수의 구멍이 2차원 배열로 형성된 마스크를 포함하여 구성되어 측정대상물에 다점광을 제공하는 조명부와 ; 상기 측정대상물로부터 반사된 빛이 맺히는 결상수단와, 상기 결상수단과 측정 대상물 사이에 설치된 비점수차렌즈를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Abstract:
주파수 안정화 레이저 장치 및 레이저 주파수 안정화 방법이 개시된다. 반도체 레이저는 빔을 방출한다. 외부반사체는 공진 주파수를 가지며, 방출된 빔의 주파수와 공진 주파수가 동일한 경우에는 방출된 빔을 반도체 레이저로 피드백한다. 간섭신호 생성부는 방출된 빔의 파장을 검출하기 위한 간섭신호를 생성하고, 제어부는 생성된 간섭신호로부터 파장을 검출한다. 본 발명에 따른 주파수 안정화 레이저 장치 및 레이저 주파수 안정화 방법에 의하면, 반도체 레이저로부터 방출되는 빔의 주파수를 안정화시킬 수 있고 안정된 주파수를 갖는 빔을 장시간 출력가능하며, 반도체 레이저의 온도 또는 반도체 레이저로 인가되는 전류를 조절하여 각 프리 스펙트럴 범위(free spectral ranges) 별로 안정된 주파수를 갖는 빔을 선택적으로 장시간 출력가능하고 출력하는 빔의 주파수를 높은 분해능을 가지고 정확하게 산출할 수 있다. 반도체 레이저, 안정화, 주파수, 파장, 간섭신호, 빔
Abstract:
3차원 좌표측정 장치 및 방법이 개시된다. 광생성부는 광을 생성하고 기준 광섬유는 생성된 광을 조사하며 대상 광섬유는 측정대상물에 가설되어 생성된 광을 조사한다. 광검출기는 복수로 구비되면 기준 광섬유 및 대상 광섬유에서 각각 조사된 광에 의해 생성된 간섭무늬를 검출하고, 연산부는 검출된 복수의 간섭무늬로부터 측정대상물의 3차원 위치벡터를 산출한다. 본 발명에 따르면 측정대상물의 3차원 좌표를 고분해능을 가지고 신속하게 측정할 수 있고, 측정 대상범위가 넓어 측정대상물이 큰 구조물인 경우에도 그 형상을 용이하게 측정할 수 있다. 또한, 측정대상물의 이동에 따른 광원이나 광검출기의 동반 이동이 없이 자유로이 이동하는 측정대상물의 이동 경로에 대한 3차원 좌표를 측정할 수 있으며, 따라서 광원과 광검출기를 이동시키기 위한 별도의 이송축이 필요하지 않다. 3차원 좌표, 광, 간섭무늬, 고분해능
Abstract:
본 발명은 서로 다른 물리량인 거리(변위)와 각도 변화를 동시에 측정하기 위해 하나의 광원에서 나온 빛을 하나의 광축 상에 둠으로써 정밀 측정기기나 가공기기의 스테이지(이송대)에 의해 위치 이동되는 측정기나 가공기의 변위와 각도 변화를 아베 오차(abbe error) 없이 동시에 측정할 수 있도록 한 것이다.
Abstract:
본 발명은 원자간력 현미경에 관한 것으로 광섬유에서 조사되어 외팔보에서 반사되는 빛의 세기가 외팔보의 변위에 민감하게 변하도록 패브리 페로 간섭계를 구성하여 광섬유와 외팔보와의 거리를 정확하게 측정할 수 있도록 한 것이다. 즉, 본 발명은 단면이 광원의 빔과 외팔보의 반사면에 반사된 빔을 투과 또는 반사할 수 있도록 오목곡면으로 가공된 광섬유와 외팔보의 반사면으로 패브리 페로 공진기를 형성하고 공진기에서 반사되는 신호를 검출하여 외팔보 탐침의 변위를 측정하고 더 나아가서는 외팔보 탐침의 변위변화에 대응하는 보정신호(feedback)를 생성하여 압전소자를 Z축 방향으로 구동시켜 외팔보 탐침의 변위가 일정하게 유지되도록 한 것이다.
Abstract:
본발명은거리측정장치에관한것이다. 본발명의거리측정장치는이미지센서및 이미지센서구동부를포함한다. 이미지센서는포토다이오드, 제1 커패시터및 제2 커패시터, 그리고포토다이오드의출력을제1 커패시터및 제2 커패시터로각각전달하는제1 전송게이트및 제2 전송게이트를포함한다. 이미지센서구동부는제1 전송게이트및 제2 전송게이트를상보적으로구동한다.