公开(公告)号：CN113495042A

公开(公告)日：2021-10-12

申请号：CN202110367194.9

申请日：2021-04-06

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 若山育央

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明涉及粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序，设定与作为测定对象的粒径相应的适当的测定时间，节省无用的测定时间。粒径测定方法包括：测试测定步骤，在包括预先设定的多个测定时刻的测试测定时间内对试样照射光，测定被试样散射的散射光的测试测定强度；自相关函数计算步骤，计算表示测试测定强度的自相关与时间之间的关系的自相关函数；设定步骤，基于到自相关函数低于规定的阈值为止的时间和对该时间加计而设定的预备时间，设定预先设定的多个测定时刻中的在正式测定中使用的一部分测定时刻；正式测定步骤，在包括一部分测定时刻的正式测定时间内测定散射光的正式测定强度；以及粒径计算步骤，基于正式测定强度计算试样的粒径。

公开(公告)号：CN107870037B

公开(公告)日：2021-06-29

申请号：CN201710640422.9

申请日：2017-07-31

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志

IPC: G01J3/04 ,  G01N21/01 ,  G02B5/02

Abstract: 本发明提供一种能减少由光纤的弯曲所产生的测定误差并且提高供给至分光测定部的光的光量的分光测定装置。分光测定装置具备：分光测定部，对通过狭缝射入的光进行分光测定；以及光漫射单元，使从多个光纤供给的光漫射，以漫射后的光直接或者经由透镜或反射镜射入所述狭缝的方式相对于所述狭缝进行物理固定。

公开(公告)号：CN112798105A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN202011271709.7

申请日：2020-11-13

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 中岛一八 ,  野口宗裕

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明提供光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置，高精度地进行使用了CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正。具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法包括：曝光步骤，使曝光时间变化而使强度恒定的基准光依次入射CMOS线性图像传感器的注目受光元件；测定值获取步骤，依次获取所述注目受光元件的测定值；实际线性误差计算步骤，依次计算表示基于与所述测定值对应的所述曝光时间得到的线性值与该测定值之差的实际线性误差；以及拟合步骤，对所述各实际线性误差执行表示第一线性误差的第一函数的拟合。

公开(公告)号：CN112747902A

公开(公告)日：2021-05-04

申请号：CN202011196495.1

申请日：2020-10-30

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 三岛俊介 ,  大岛浩正

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明提供一种光学测定方法和处理装置。光学测定方法包括以下步骤：获取已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯的第一检测结果；获取已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯的第二检测结果；计算关于第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值；至少基于第一校准系数和校正值来决定第三校准系数；获取第三标准灯的第三检测结果；以及基于第三检测结果和第三校准系数，来对第三标准灯赋予测光量的值。

公开(公告)号：CN106338469B

公开(公告)日：2020-09-01

申请号：CN201610532006.2

申请日：2016-07-07

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大泽祥宏 ,  水口勉 ,  野口宗裕

IPC: G01N21/01

Abstract: 本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与第一检测元件接合，用于冷却检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。

公开(公告)号：CN108458786A

公开(公告)日：2018-08-28

申请号：CN201810122162.0

申请日：2018-02-07

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 前田吾郎

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备：CCD(Charge Coupled Device)检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。

公开(公告)号：CN108204788A

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201711363844.2

申请日：2017-12-18

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈本宗大 ,  佐佐木勇贵 ,  罗先钦

IPC: G01B11/06 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01B11/0625 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/255 ,  G01N21/8422 ,  G01N2021/6417 ,  G01B11/06 ,  G01M11/00

Abstract: 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光，生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱，测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小，确定用于光学特性的测定的检测数据，基于所确定的检测数据，测定光学特性(S6、S6A)。

公开(公告)号：CN106990052A

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201611160666.9

申请日：2016-12-15

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈本宗大 ,  佐野弘幸

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/01

CPC classification number: G02B21/244 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G02B21/06 ,  G02B21/361 ,  G01N21/27 ,  G01N21/01 ,  G01N2021/0106

Abstract: 提供一种能够实现小型化且提高了通用性的光学特性测定装置以及光学系统。光学特性测定装置包含：第一光学元件，其将来自被测定物的测定光变换为平行光；反射型透镜，其通过反射来自第一光学元件的平行光来将该平行光变换为会聚光；受光部，其接收来自反射型透镜的会聚光；以及驱动机构，其使第一光学元件相对于被测定物的相对位置变化。

公开(公告)号：CN105277490A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510340652.4

申请日：2015-06-18

Applicant: 大塚电子株式会社 ,  国立大学法人东京农工大学

Inventor： 泉谷悠介 ,  岩井俊昭

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N21/51 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4412 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/45 ,  G01N2015/0222 ,  G01N2021/0389 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2201/062

Abstract: 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。

公开(公告)号：CN102680097B

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201210063704.4

申请日：2012-03-12

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 佐野弘幸 ,  田口都一

IPC: G01J3/28 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置，用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤：使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器，第二波长范围为上述第一波长范围的一部分；从与由分光测量器检测出的第一光谱中的第二波长范围以外的范围相对应的部分中获取表示杂散光成分的特性信息；以及对特性信息进行外插处理直至第一波长范围中的第二波长范围为止，来获取表示产生于上述分光测量器的杂散光成分的图案。