발광소자의 검사방법 및 검사장치
    2.
    发明公开
    발광소자의 검사방법 및 검사장치 审中-实审
    用于测试发光装置的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020140138384A

    公开(公告)日:2014-12-04

    申请号:KR1020130058108

    申请日:2013-05-23

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 발광소자의 검사방법 및 검사장치가 개시되며, 상기 발광소자의 검사방법은, 상기 발광소자에 제1 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제1 전기 특성 및 광 특성을 측정하는 단계; 및 상기 발광소자에 제2 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제2 전기 특성을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

    Abstract translation: 公开了一种用于测试发光器件的方法和装置。 用于测试发光器件的方法包括以下步骤:通过向发光器件施加第一信号来测量发光器件的第一电特性和光学特性; 以及通过向所述发光器件施加第二信号来测量所述发光器件的第二电特性。

    전자부품 검사 및 분류장치
    3.
    发明公开
    전자부품 검사 및 분류장치 审中-实审
    用于测试和分类电子组件的装置

    公开(公告)号:KR1020140135869A

    公开(公告)日:2014-11-27

    申请号:KR1020130055621

    申请日:2013-05-16

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 본 발명은, 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛, 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛, 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 특성별로 분류하는 분류유닛으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치를 제공한다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种用于检查和分类电子部件的装置。 该装置包括:输送单元,其包括转盘,该转盘安装成围绕轴旋转以从供应单元承载电子部件; 检查单元,其沿着传送路径检查由所述输送单元承载的电子部件的属性; 以及分类单元,根据属性对由检查单元检查的电子部件进行分类。

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