대상물 용융결합 장치 및 방법
    3.
    发明公开
    대상물 용융결합 장치 및 방법 审中-实审
    保护性接合装置和对象的方法

    公开(公告)号:KR1020150090494A

    公开(公告)日:2015-08-06

    申请号:KR1020140011200

    申请日:2014-01-29

    CPC classification number: H01L33/486 H01L21/52 H01L25/0753

    Abstract: 대상물용융결합장치가개시되며, 상기대상물용융결합장치는, 대상물용융결합장치는, 대상물에서기판과상기기판상의칩을용융결합시키는대상물용융결합장치에있어서, 복수개의온도영역을형성하는히팅유닛; 상기대상물이상기복수개의온도영역을순차적으로통과하도록상기대상물을이송시키는이송유닛; 및상기복수개의온도영역중 하나이상의온도영역에서상기칩을하측방향으로가압할수 있도록구비되는누름지지유닛을포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种物体共晶接合装置。 用于将基板和基板的芯片组合在一个物体中的物体共晶接合装置包括:形成温度区域的加热单元; 允许对象连续通过温度区域的传送单元; 以及压力支撑单元,其在至少一个温度区域中向下加压所述芯片。

    절단장치
    4.
    发明公开
    절단장치 无效
    切割装置

    公开(公告)号:KR1020120019075A

    公开(公告)日:2012-03-06

    申请号:KR1020100082194

    申请日:2010-08-24

    Abstract: PURPOSE: A cutting device is provided to cut a substrate without damaging a film and reduce the time to cut the substrate. CONSTITUTION: A cutting device comprises an image capturing unit(2), a control unit(3), and a cutting unit(4). The image capturing unit takes images of the given area of substrate-based composite including a film and a substrate attached to the film. The control unit analyzes the images and detects the position of the substrate in the substrate-based composite. The cutting unit cuts only the substrate under control by the control unit. The image capture unit comprises an aligning unit(21) and a vision unit(22). The aligning unit aligns the substrate-based composite. The vision unit takes the images of the substrate-based composite aligned.

    Abstract translation: 目的:提供切割装置以切割基材而不损坏胶片并减少切割基材的时间。 构成:切割装置包括图像捕获单元(2),控制单元(3)和切割单元(4)。 图像拍摄单元拍摄包含胶片和附着在胶片上的基板的基板复合体的给定区域的图像。 控制单元分析图像并检测基板复合体中基板的位置。 切割单元仅在控制单元的控制下切割基板。 图像捕获单元包括对准单元(21)和视觉单元(22)。 对齐单元对准基板基复合材料。 视觉单元拍摄基于基底的复合材料的图像。

    식각 연마 장치 및 이를 이용한 유리의 식각 연마 방법
    5.
    发明授权
    식각 연마 장치 및 이를 이용한 유리의 식각 연마 방법 失效
    식각연마장치및이를이용한유리의식각연마방

    公开(公告)号:KR100726323B1

    公开(公告)日:2007-06-11

    申请号:KR1020060134489

    申请日:2006-12-27

    Inventor: 유병소 정홍진

    Abstract: An etching/polishing apparatus and a method for etching/polishing glass using the same are provided to shorten an etching/polishing time by circulating a fluid between glasses which are dipped in the fluid to etch surfaces of the glasses. A loading/arranging unit(180) is loaded with plural glasses at regular intervals. A fluid carrying unit(110) carries a fluid between the glasses loaded in the loading/arranging unit which is dipped in the fluid, to etch surfaces of the glasses. A filtering unit(120) filters and eliminates impurities from the etched glasses. The fluid carrying unit includes a fluid circulation portion, a fluid guide portion for guiding the fluid in the fluid circulation portion, and a fluid circulating member.

    Abstract translation: 提供一种用于蚀刻/抛光玻璃的蚀刻/抛光设备和方法,以通过在浸在流体中的玻璃之间循环流体以蚀刻玻璃表面来缩短蚀刻/抛光时间。 加载/布置单元(180)以规则的间隔装载多个眼镜。 流体承载单元(110)在装载在装载/布置单元中的浸入流体中的玻璃之间承载流体,以蚀刻玻璃的表面。 过滤单元(120)过滤并消除蚀刻玻璃中的杂质。 流体运送单元包括流体循环部分,用于引导流体循环部分中的流体的流体引导部分以及流体循环部件。

    기판가공장치 및 기판가공방법
    7.
    发明公开
    기판가공장치 및 기판가공방법 无效
    装置和处理基板的方法

    公开(公告)号:KR1020120016931A

    公开(公告)日:2012-02-27

    申请号:KR1020100079469

    申请日:2010-08-17

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: PURPOSE: An apparatus and a method for processing a substrate are provided to improve a processing efficiency by reducing a time requiring for processing a substrate by processing a target area in a detected substrate. CONSTITUTION: An align unit(20) aligns a substrate to determine the position thereof. The align unit comprises a plurality of support members supporting the both sides of the substrate and also includes a transport unit. The transport unit transfers the support members to be close to each other or separated from each other. A support member(211) pressing the both sides of the substrate is formed in the support member. A detecting unit(30) detects the location of a target region of the substrate. A processing unit processes the target region which is detected by the detection unit.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于处理衬底的装置和方法,以通过减少通过处理检测到的衬底中的目标区域来处理衬底的时间来提高处理效率。 构成:对准单元(20)对准衬底以确定其位置。 对准单元包括支撑基板的两侧的多个支撑构件,并且还包括输送单元。 传送单元将支撑构件彼此靠近或相互分离。 在支撑构件上形成有压靠基板两侧的支撑构件(211)。 检测单元(30)检测基板的目标区域的位置。 处理单元处理由检测单元检测到的目标区域。

    발광소자의 검사방법 및 검사장치
    8.
    发明公开
    발광소자의 검사방법 및 검사장치 审中-实审
    用于测试发光装置的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020140138384A

    公开(公告)日:2014-12-04

    申请号:KR1020130058108

    申请日:2013-05-23

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 발광소자의 검사방법 및 검사장치가 개시되며, 상기 발광소자의 검사방법은, 상기 발광소자에 제1 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제1 전기 특성 및 광 특성을 측정하는 단계; 및 상기 발광소자에 제2 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제2 전기 특성을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

    Abstract translation: 公开了一种用于测试发光器件的方法和装置。 用于测试发光器件的方法包括以下步骤:通过向发光器件施加第一信号来测量发光器件的第一电特性和光学特性; 以及通过向所述发光器件施加第二信号来测量所述发光器件的第二电特性。

    전자부품 검사 및 분류장치
    9.
    发明公开
    전자부품 검사 및 분류장치 审中-实审
    用于测试和分类电子组件的装置

    公开(公告)号:KR1020140135869A

    公开(公告)日:2014-11-27

    申请号:KR1020130055621

    申请日:2013-05-16

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 본 발명은, 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛, 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛, 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 특성별로 분류하는 분류유닛으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치를 제공한다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种用于检查和分类电子部件的装置。 该装置包括:输送单元,其包括转盘,该转盘安装成围绕轴旋转以从供应单元承载电子部件; 检查单元,其沿着传送路径检查由所述输送单元承载的电子部件的属性; 以及分类单元,根据属性对由检查单元检查的电子部件进行分类。

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