公开(公告)号：KR1020140138384A

公开(公告)日：2014-12-04

申请号：KR1020130058108

申请日：2013-05-23

Applicant: (주)큐엠씨

Inventor： 유병소 ,  장현삼 ,  이병식 ,  정홍진 ,  김종수 ,  이형권 ,  박영호 ,  송안나

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

Abstract: 발광소자의 검사방법 및 검사장치가 개시되며, 상기 발광소자의 검사방법은, 상기 발광소자에 제1 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제1 전기 특성 및 광 특성을 측정하는 단계; 및 상기 발광소자에 제2 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제2 전기 특성을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

Abstract translation: 公开了一种用于测试发光器件的方法和装置。 用于测试发光器件的方法包括以下步骤：通过向发光器件施加第一信号来测量发光器件的第一电特性和光学特性; 以及通过向所述发光器件施加第二信号来测量所述发光器件的第二电特性。