Abstract:
플라즈마 처리 장치(11)는, 배기공(13)으로부터 하방측으로 연장되는 제1 배기로(15)와, 제1 배기로(15)의 배기 방향의 하류측 단부(端部)에 접속되어 있고, 제1 배기로(15)와 수직인 방향으로 연장되며, 배기 방향에 대하여 직교하는 단면에 있어서 상하 방향보다도 폭 방향이 긴 횡장 단면 형상의 제2 배기로(16)와, 제2 배기로(16)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 제2 배기로(16)와 수직인 방향으로 연장되는 제3 배기로(17)와, 제3 배기로(17)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 처리 용기(12) 내를 감압하는 펌프(18)와, 제2 배기로(16) 내에 설치되어 있고, 제2 배기로(16)를 폐쇄 가능하여, 배기 방향의 상류측과 하류측과의 압력을 조정하는 압력 조정용 밸브 플레이트(20)를 갖는 압력 조정 밸브(21)와, 제3 배기로(17) 내에 설치되어 있고, 제3 배기� ��(17)의 개폐를 행하는 셧오프 밸브 플레이트(22)를 갖는 셧오프 밸브(23)를 구비한다.
Abstract:
(과제) 봉지 부재(sealing member)의 열화에 의한 시일성(sealability)의 저하 및 파티클의 발생을 방지하여, 가동률을 유지할 수 있는 게이트 밸브 및 반도체 제조 장치를 제공한다. (해결 수단) 반도체 제조 장치의 프로세스 처리가 행해지는 처리 유닛(10)과 프로세스 처리가 행해지는 웨이퍼를 반송하는 반송실(8)과의 사이에 형성되는 게이트 밸브(20)로서, 처리 유닛(10)측의 게이트 밸브(20a)와, 처리 유닛(10)측의 게이트 밸브(20a)에 구비한 O링(34a)과, 반송실(8)측의 게이트 밸브(20b)와, 반송실(8)측의 게이트 밸브(20b)에 구비한 O링(34b)과, 처리 유닛(10)측의 게이트 밸브(20a)와 반송실(8)측의 게이트 밸브(20b)와의 사이에 단열재(30)를 구비한다. 게이트 밸브, 봉지 부재, O 링
Abstract:
A method of cleaning a plasma-treating apparatus including a treating vessel (32) which is capable of evacuation and in which a work (W) is treated with a plasma. The method comprises: a first cleaning step in which a plasma is generated while supplying a cleaning gas to the treating vessel and the pressure inside the treating vessel is kept at a first pressure to thereby clean the vessel; and a second cleaning step in which a plasma is generated while supplying a cleaning gas to the treating vessel and the pressure inside the treating vessel is kept at a second pressure higher than the first pressure to clean the vessel. The treating vessel is efficiently and rapidly cleaned without damaging the inner wall surface of the treating vessel or the member(s) present in the vessel.
Abstract:
플라즈마 처리 장치(11)는, 배기공(13)으로부터 하방측으로 연장되는 제1 배기로(15)와, 제1 배기로(15)의 배기 방향의 하류측 단부(端部)에 접속되어 있고, 제1 배기로(15)와 수직인 방향으로 연장되며, 배기 방향에 대하여 직교하는 단면에 있어서 상하 방향보다도 폭 방향이 긴 횡장 단면 형상의 제2 배기로(16)와, 제2 배기로(16)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 제2 배기로(16)와 수직인 방향으로 연장되는 제3 배기로(17)와, 제3 배기로(17)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 처리 용기(12) 내를 감압하는 펌프(18)와, 제2 배기로(16) 내에 설치되어 있고, 제2 배기로(16)를 폐쇄 가능하여, 배기 방향의 상류측과 하류측과의 압력을 조정하는 압력 조정용 밸브 플레이트(20)를 갖는 압력 조정 밸브(21)와, 제3 배기로(17) 내에 설치되어 있고, 제3 배기로(17)의 개폐를 행하는 셧오프 밸브 플레이트(22)를 갖는 셧오프 밸브(23)를 구비한다.
Abstract:
플라즈마 처리 장치(11)는, 배기공(13)으로부터 하방측으로 연장되는 제1 배기로(15)와, 제1 배기로(15)의 배기 방향의 하류측 단부(端部)에 접속되어 있고, 제1 배기로(15)와 수직인 방향으로 연장되며, 배기 방향에 대하여 직교하는 단면에 있어서 상하 방향보다도 폭 방향이 긴 횡장 단면 형상의 제2 배기로(16)와, 제2 배기로(16)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 제2 배기로(16)와 수직인 방향으로 연장되는 제3 배기로(17)와, 제3 배기로(17)의 배기 방향의 하류측 단부에 접속되어 있고, 처리 용기(12) 내를 감압하는 펌프(18)와, 제2 배기로(16) 내에 설치되어 있고, 제2 배기로(16)를 폐쇄 가능하여, 배기 방향의 상류측과 하류측과의 압력을 조정하는 압력 조정용 밸브 플레이트(20)를 갖는 압력 조정 밸브(21)와, 제3 배기로(17) 내에 설치되어 있고, 제3 배기로(17)의 개폐를 행하는 셧오프 밸브 플레이트(22)를 갖는 셧오프 밸브(23)를 구비한다.
Abstract:
A gate valve and a manufacturing apparatus of a semiconductor are provided to improve availability ratio of a semiconductor manufacturing apparatus by preventing generation of a particle due to deterioration of a sealing member. A process is performed in a process room(10). A transfer room(8) transfers a substrate to be processed. A gate valve of a process room side opens and closes an opening part of the process room side. A sealing member seals a gap between the opening part of the process room and a valve body of the gate valve of the process room side. A gate valve(20) of a transfer room side opens and closes an opening part of a transfer room side. An insulating material(30) prevents thermal conduction between the gate valve of the process room side and the gate valve of the transfer room side.