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公开(公告)号:KR1020090086356A
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:KR1020090009977
申请日:2009-02-06
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
CPC classification number: H01J37/32541 , H01J37/3222 , H01J37/32458 , H01J37/32559 , H01J2237/332 , H01J2237/334 , H05H1/46 , H05H2001/463
Abstract: A plasma processing apparatus is provided to improve plasma ignition and ignition stability by arranging a slot to a vertical top direction of a tilted surface. A plasma processing apparatus(11) includes a processing vessel(12) having a top opening, a dielectric(15), and an antenna(24). The dielectric has a tilted surface, and is arranged in order to close the top opening of the processing vessel. The tilted surface is tilted in order to consecutively change a thickness size of a bottom surface. The antenna is arranged on a top surface of the dielectric. The antenna generates plasma on the bottom surface of the dielectric by supplying a microwave to the dielectric. The antenna has a plurality of slots positioned in a vertical top direction of the tilted surface.
Abstract translation: 提供了一种等离子体处理装置,用于通过将倾斜表面的垂直顶部方向布置成槽来改善等离子体点火和点火稳定性。 等离子体处理装置(11)包括具有顶部开口的处理容器(12),电介质(15)和天线(24)。 电介质具有倾斜表面,并且被布置成封闭处理容器的顶部开口。 倾斜的表面倾斜以连续地改变底面的厚度尺寸。 天线布置在电介质的顶表面上。 天线通过向电介质提供微波在电介质的底表面上产生等离子体。 天线具有位于倾斜表面的垂直顶部方向上的多个狭槽。
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公开(公告)号:KR1020110028461A
公开(公告)日:2011-03-18
申请号:KR1020107028917
申请日:2009-06-16
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H01L21/3065 , C23C16/511 , H01L21/31 , H05H1/46
CPC classification number: H01L21/6719 , H01J37/32192 , H01J37/32238 , H01J37/3244 , H01J37/32449 , H01L21/67126 , H01L21/68785
Abstract: 플라즈마 처리 장치(11)는, 그 내부에서 피(被)처리 기판(W)에 플라즈마 처리를 행하는 처리 용기(12)와, 처리 용기(12) 내에 배치되고, 그 위에 피처리 기판(W)을 보지(保持)하는 보지대(14)와, 보지대(14)와 대향하는 위치에 설치되고, 마이크로파를 처리 용기(12) 내에 도입하는 유전체판(16)과, 보지대(14)에 보지된 피처리 기판(W)의 중앙 영역을 향하여 플라즈마 처리용의 반응 가스를 공급하는 반응 가스 공급부(13)를 구비한다. 여기에서, 반응 가스 공급부(13)는, 보지대(14)와 대향하는 대향면이 되는 유전체판(16)의 하면(63)보다도 유전체판(16)의 내방측의 후퇴한 위치에 배치되는 인젝터 베이스(61)를 포함한다. 인젝터 베이스(61)에는, 플라즈마 처리용의 반응 가스를 처리 용기(12) 내에 공급하는 공급 구멍(66)이 형성되어 있다.
Abstract translation: 等离子体处理装置11具备:对处理容器11内的被处理基板W和处理容器12内的处理容器12进行等离子体处理的处理容器12; 设置在与保持基座14相对的位置并向处理容器12中引入微波的电介质板16和保持在保持基座14上的电介质板16 以及反应气体供应单元13,用于向要处理的基板W的中心区域供应用于等离子体处理的反应气体。 反应气体供给部13相对于电介质板16的与保持板14相对的下表面63配置在电介质板16的内侧的后方位置, 和一个基地61。 在喷射器基座61上形成有用于向处理容器12内供给等离子体处理用的反应气体的供给孔66。
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公开(公告)号:KR101114848B1
公开(公告)日:2012-03-07
申请号:KR1020107017481
申请日:2009-02-06
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H05H1/46 , H01L21/3065
CPC classification number: H05H1/46 , H01J37/32192 , H01J37/32238
Abstract: 처리용기(2)의서셉터(3)와대향하는천장면에유전체판(20)을설치하고, 유전체판(20)의상면에는마이크로파를투과시키는복수의슬롯(33)을가지는슬롯안테나(30)를설치하고, 유전체판(20)의하면주연부에, 유전체판(20)과는별도의부재로구성되어있고이상방전을방지하는돌기부재(21)를구비한다. 돌기부재(21)의원통부의외주면(22)과처리용기(2)의측벽내주면(5a)과의간극또는돌기부재(21)의원통부의두께를조정함으로써유전체판(20) 주변부에서의전계강도를제어한다.
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公开(公告)号:KR1020100102203A
公开(公告)日:2010-09-20
申请号:KR1020107017481
申请日:2009-02-06
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H05H1/46 , H01L21/3065
CPC classification number: H05H1/46 , H01J37/32192 , H01J37/32238
Abstract: 처리 용기(2)의 서셉터(3)와 대향하는 천장면에 유전체판(20)을 설치하고, 유전체판(20)의 상면에는 마이크로파를 투과시키는 복수의 슬롯(33)을 가지는 슬롯 안테나(30)를 설치하고, 유전체판(20)의 하면 주연부에, 유전체판(20)과는 별도의 부재로 구성되어 있고 이상 방전을 방지하는 돌기 부재(21)를 구비한다. 돌기 부재(21)의 원통부의 외주면(22)과 처리 용기(2)의 측벽 내주면(5a)과의 간극 또는 돌기 부재(21)의 원통부의 두께를 조정함으로써 유전체판(20) 주변부에서의 전계 강도를 제어한다.
Abstract translation: 在与处理容器2的基座3相对的天花板面上设置有电介质板20,在电介质板20的上表面设有具有多个微波传输用的缝隙33的缝隙天线30 并且,在电介质板20的下表面的周缘设置有由与电介质板20分体的部件形成并防止异常放电的突起部件21。 突出部件21的圆筒部的外周面22与处理容器2的侧壁的内周面5a或突出部件21的圆筒部的厚度之间的间隙被调整, 控制。
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公开(公告)号:KR101174277B1
公开(公告)日:2012-08-16
申请号:KR1020107028917
申请日:2009-06-16
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H01L21/3065 , C23C16/511 , H01L21/31 , H05H1/46
CPC classification number: H01L21/6719 , H01J37/32192 , H01J37/32238 , H01J37/3244 , H01J37/32449 , H01L21/67126 , H01L21/68785
Abstract: 플라즈마처리장치(11)는, 그내부에서피(被)처리기판(W)에플라즈마처리를행하는처리용기(12)와, 처리용기(12) 내에배치되고, 그위에피처리기판(W)을보지(保持)하는보지대(14)와, 보지대(14)와대향하는위치에설치되고, 마이크로파를처리용기(12) 내에도입하는유전체판(16)과, 보지대(14)에보지된피처리기판(W)의중앙영역을향하여플라즈마처리용의반응가스를공급하는반응가스공급부(13)를구비한다. 여기에서, 반응가스공급부(13)는, 보지대(14)와대향하는대향면이되는유전체판(16)의하면(63)보다도유전체판(16)의내방측의후퇴한위치에배치되는인젝터베이스(61)를포함한다. 인젝터베이스(61)에는, 플라즈마처리용의반응가스를처리용기(12) 내에공급하는공급구멍(66)이형성되어있다.
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公开(公告)号:KR101094976B1
公开(公告)日:2011-12-20
申请号:KR1020090009977
申请日:2009-02-06
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
Abstract: 유전체와 슬롯과의 위치 관계를 규정하고, 재질에 따른 천판의 최적의 형상을 규정함으로써, 플라즈마 발화성 및 발화 안정성이 보다 우수한 플라즈마 처리 장치를 제공한다. 플라즈마 처리 장치(11)는, 상부 개구를 갖는 처리 용기(12)와, 하면에 두께 치수가 연속적으로 변화되도록 기울어진 경사면(16a, 16b)을 갖고, 처리 용기(12)의 상부 개구를 폐쇄하도록 배치되는 유전체(15)와, 유전체(15)의 상면에 배치되고, 유전체(15)에 마이크로파를 공급하여 유전체(15)의 하면에 플라즈마를 발생시키는 안테나(24)를 구비한다. 그리고, 안테나(24)는 경사면(16a, 16b)의 수직 상방에 위치하는 복수의 슬롯(25)을 갖는다. 또한, 플라즈마 처리 장치(11)는, 상부 개구를 갖는 처리 용기(12)와, 하면에 링 형상의 홈(16)을 갖고, 처리 용기(12)의 상부 개구를 폐쇄하도록 배치되는 유전체(15)와, 유전체(15)에 마이크로파를 공급하고, 유전체(15)의 하면에 플라즈마를 발생시키는 안테나(24)를 구비한다. 그리고, 광속을 c, 마이크로파의 주파수를 f, 유전체(15)를 구성하는 재료의 비유전율을 εr로 하면, 홈의 홈 폭(w)은 [수식 1]을 충족시킨다.
[수식 1]
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