Abstract:
전자 장치 및 전자 장치의 제어 방법이 개시된다. 특히, 본 개시에 따른 전자 장치의 제어 방법은 적어도 하나의 카메라를 통해 복수의 이미지를 획득하는 단계, 복수의 이미지 각각에 대한 RGB 데이터를 제1 신경망 모델에 입력하여, 복수의 이미지에 포함된 오브젝트에 대한 2 차원의 포즈 정보를 획득하는 단계, 복수의 이미지 중 적어도 하나의 이미지에 대한 RGB 데이터를 제2 신경망 모델에 입력하여 오브젝트의 투명 여부를 식별하는 단계, 오브젝트가 투명한 오브젝트이면, 복수의 이미지 별 2 차원의 포즈 정보를 바탕으로 스테레오 정합(stereo matching)을 수행하여, 오브젝트에 대한 3 차원의 포즈 정보를 획득하는 단계 및 오브젝트가 불투명한 오브젝트이면, 복수의 이미지 중 하나의 이미지 및 하나의 이미지에 대응되는 뎁스(depth) 정보를 바탕으로 오브젝트에 대한 3 차원의 포즈 정보를 획득하는 단계를 포함한다.
Abstract:
로봇이 개시된다. 본 개시에 따른 로봇은, 뎁스 카메라, 라이다 센서 및 프로세서;를 포함하고, 프로세서는, 뎁스 카메라를 이용하여 제1 뎁스 정보를 포함하는 제1 뎁스 이미지를 획득하고, 라이다 센서를 이용하여 제1 뎁스 이미지의 제1 영역에 대응되는 제2 뎁스 정보를 획득하고, 제2 뎁스 정보와 제1 영역에 포함된 제1 뎁스 정보의 뎁스 차이를 획득하고, 뎁스 차이가 임계값보다 크면, 제1 영역 주위의 보정 대상 영역을 식별하고, 뎁스 차이를 바탕으로 제1 뎁스 정보를 보정하기 위한 필터에 대한 정보를 획득하고, 제1 뎁스 정보, 제2 뎁스 정보 및 필터에 대한 정보를 바탕으로 보정 대상 영역에 대응되는 제1 뎁스 정보를 보정하여 제2 뎁스 이미지를 획득한다.
Abstract:
Provided is a method for controlling a display of multiple objects according to an input related to operation of a mobile terminal and the mobile terminal therefor. The method of the present invention comprises the following steps: changing, if an input related to operation of the mobile terminal is received while a layout constituted with multiple areas where multiple objects are respectively displayed, one or more of the multiple areas corresponding to the input related to the operation of the mobile terminal; and displaying a layout composed of the changed areas. The input related to the operation of the mobile terminal may be a motion of the mobile terminal, a user′s breath, or a gesture. If an input related to operation of the mobile terminal is detected while one of the areas constituting the layout is being touched, the remaining areas except for the touched area are rearranged. In this case, objects that are respectively displayed in the remaining areas may be objects searched in correspondence to the property of an object displayed on the touched area. Thus, a user can easily change not only the areas of the layout but also components corresponding to the areas of the layout.
Abstract:
다중 일함수 금속 질화물 게이트 전극을 갖는 모스 트랜지스터들이 제공된다. 상기 모스 트랜지스터들은 반도체 기판 및 상기 반도체 기판 상에 배치된 중심 게이트 전극을 구비한다. 상기 중심 게이트 전극은 금속 질화물로 이루어진다. 상기 중심 게이트 전극의 양 측벽들 상에 각각 소오스측 게이트 전극 및 드레인측 게이트 전극이 제공된다. 상기 소오스/드레인측 게이트 전극들은 질소보다 작은 음전기성(electronegativity)을 갖는 제1 불순물들중 어느 하나 또는 질소보다 큰 음전기성을 갖는 제2 불순물들중 어느 하나를 함유하는(containing) 도우프트 금속 질화물(doped metal nitride)로 이루어진다. 상기 모스 트랜지스터들을 채택하는 씨모스 집적회로 소자들 및 그 제조방법들 또한 제공된다.
Abstract:
NMOS 트랜지스터 및 PMOS 트랜지스터 각각에서 최적의 Vt 값을 가지도록 하기 위하여 NMOS 트랜지스터 및 PMOS 트랜지스터 각각의 게이트 전극 구성 재료로서 서로 다른 일함수를 가지는 금속 물질을 사용하는 CMOS 트랜지스터를 구비하는 반도체 소자 및 그 제조 방법에 대하여 개시한다. 본 발명에 따른 반도체 소자는 제1 도전형의 제1 채널이 형성되는 제1 MOS 트랜지스터와, 상기 제1 도전형과는 다른 제2 도전형의 제2 채널이 형성되는 제2 MOS 트랜지스터를 가지는 CMOS 트랜지스터를 구비한다. 상기 제1 MOS 트랜지스터는 제1 게이트 절연막과, 상기 제1 게이트 절연막 위에 형성된 Al-금속 합금층과 그 위에 형성된 폴리실리콘층과의 적층 구조를 포함하는 제1 게이트 전극을 포함한다. 일함수, CMOS, 합금, Vfb, Vt
Abstract:
A method for fabricating a dual metal gate transistor is provided to form a dual metal gate having excellent matching with a basic process of silicon without damaging a gate insulation layer by selectively inducing silicon reaction of metal by a conductive diffusion blocking layer. A first well(100a) of first conductivity type and a second well(100b) of second conductivity type different from the first conductivity type are formed in a semiconductor substrate(100). A gate insulation layer(200) is formed on the first and the second wells. A metal layer(300) is formed on the gate insulation layer. A conductive diffusion blocking layer(400) is formed on the metal layer on the first well. A silicon layer(500) is formed on the metal layer having the conductive diffusion blocking layer. An annealing process is performed on the semiconductor substrate so that the metal layer on the second well is reacted with the silicon layer to form a metal silicon compound layer(600). The metal layer is made of metal having a work function proper for forming a pMOS. The metal silicon compound layer is made of a silicon compound having a work function proper for forming nMOS of the metal.
Abstract:
A MOS transistors having a multi-work function metal nitride gate electrode, a CMOS integrated circuit devices employing the same, and its manufacturing method are provided to prevent short channel effect by using a source side gate electrode that is made of a doped metal nitride and has a work function different from a central gate electrode. A central gate electrode(21c) is arranged on a semiconductor substrate and comprised of a metal nitride. A source side gate electrode(21s) and a drain side gate electrode(21d) are respectively adjacent to both sidewalls of the central gate electrode and comprised of a doped metal nitride containing first impurities and second impurities. The first impurities have electronegativity less than nitrogen. The second impurities have electronegativity greater than the nitrogen. The source side gate electrode and the drain side gate electrode have work functions different from the central gate electrode. A source region(42s) is formed in the semiconductor substrate. The source region is adjacent to the source side gate electrode and opposite to the drain side gate electrode. A drain region(42d) is formed in the semiconductor substrate. The drain region is adjacent to the drain side gate electrode and opposite to the source side gate electrode.
Abstract:
게이트 전체에 금속 실리사이드가 형성되도록 하는 반도체 소자 제조 방법이 제공된다. 반도체 소자 제조 방법은 (a) 반도체 기판 내에 형성된 소오스/드레인 영역을 차폐하고 게이트 전극의 상면을 노출시키는 단계와, (b) 노출된 게이트 전극 상면에 Ni 또는 Ni 합금을 도포하고, 게이트 전극을 300℃ 내지 500℃에서 가열하여 게이트 전극을 1차 상변화시키는 단계 및 (c) 게이트 전극의 1차 상변화가 완료된 기판을 (b) 단계의 온도보다 높은 온도에서 가열하여 게이트 전극을 2차 상변화시켜 완전 실리사이드화된 게이트 전극을 형성하는 단계를 포함한다. 실리사이드, 금속 게이트, 니켈
Abstract:
이중금속층을 이용한 샐리사이드 공정 및 이를 사용하여 반도체 소자를 제조하는 방법이 제공된다. 상기 샐리사이드 공정은 실리콘을 함유하는 반도체기판 상에 주금속막(main metal layer)을 형성하는 것을 포함한다. 상기 주금속막 상에 적어도 한 종류의 합금원소(at least one species of alloy element)를 함유하는 주금속 합금막(main metal alloy layer)을 형성한다. 상기 주금속막 및 주금속 합금막을 갖는 반도체기판을 열처리하여 주금속 합금 실리사이드막을 형성한다. 바람직한 실시예에 의하면, 상기 주금속막은 니켈막이고, 상기 주금속 합금막은 니켈 탄탈륨 합금막으로 형성할 수 있다. 이 경우에, 개선된 열적 안정성 및 전기적 특성을 갖는 니켈 탄탈륨 실리사이드막을 형성할 수 있다.