반도체 세정 공정 시스템 및 반도체 장치의 제조 방법
    4.
    发明公开
    반도체 세정 공정 시스템 및 반도체 장치의 제조 방법 审中-实审
    半导体清洁制程系统及制造半导体装置的方法

    公开(公告)号:KR1020170029758A

    公开(公告)日:2017-03-16

    申请号:KR1020150126736

    申请日:2015-09-08

    Abstract: 반도체세정공정시스템은반도체기판이로딩되는공정챔버, 공정챔버내부로유기불화물, 유기산및 유기용매를포함하는세정액을공급하는세정액공급부, 공정챔버로부터배출된세정액을회수하는회수부, 회수부에수집된회수액의불소농도를측정하는제1 농도측정부, 및상기제1 농도측정부에의해측정된상기불소농도에따라상기세정액공급부에상기유기불화물을보충하는서브-세정액공급부를포함한다.

    Abstract translation: 半导体清洗处理系统被收集到回收单元,用于回收从清洗液供给部排出的清洗液回收部,用于供给含有有机氟化物,有机酸和有机溶剂到所述处理室中的清洗液中的处理室,所述处理室是半导体衬底装载 以及副清洁液体供应单元,用于根据由第一浓度测量单元测量的氟浓度向清洁液体供应单元供应有机氟化物。

    기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
    5.
    发明公开
    기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 审中-实审
    基板处理装置和基板处理方法

    公开(公告)号:KR1020170027919A

    公开(公告)日:2017-03-13

    申请号:KR1020150124255

    申请日:2015-09-02

    Abstract: 본발명의일 실시예에따른기판처리장치는, 인산수용액및 실리콘화합물을포함하는약액을이용하여기판을처리하는기판처리유닛및 상기기판처리유닛으로상기약액을공급하는약액공급유닛을포함하되, 상기약액공급유닛은, 상기약액을샘플링하여상기약액의농도를측정하는농도측정부를포함하되, 상기농도측정부는약액의수분의농도를측정하는제 1 농도측정부및 상기약액의실리콘의농도를측정하는제 2 농도측정부를포함한다.

    Abstract translation: 一种基板处理装置和基板处理方法,该装置包括使用化学溶液处理基板的基板处理器,所述化学溶液包括磷酸水溶液和硅化合物; 以及向所述基板处理单元供给所述化学溶液的化学溶液供给体,所述化学溶液供给体包含测定所述化学溶液浓度的浓度测定器,所述浓度测定器包括测定所述化学溶液的水浓度的第一浓度测定器 ; 以及测量化学溶液的硅浓度的第二浓度测量器。

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