Abstract:
생체정보 추정 장치가 개시되며, 일 실시예에 따른 생체정보 추정 장치는 피검체로부터 생체신호를 획득하는 센서부 및 생체신호의 2차 미분신호를 기초로 소정 구간에서 변곡점을 검출하고, 변곡점이 존재하지 않으면 제로-크로싱(zero-crossing) 지점을 검출하여, 검출된 변곡점 또는 제로-크로싱 지점을 기초로 생체정보 추정을 위한 특징을 추출하는 프로세서를 포함할 수 있다.
Abstract:
생체정보 추정 장치가 개시된다. 일 실시예에 따르면 생체정보 추정 장치는 사용자로부터 맥파신호를 획득하는 맥파센서와, 맥파신호의 파형을 구성하는 복수의 요소 파형의 성분을 추출하고 추출된 요소 파형의 성분을 기초로 심혈관 연관 특징(feature)을 획득하되, 적어도 일부의 요소 파형의 성분은 전후 요소 파형 중의 적어도 하나의 성분을 기초로 추출하는 프로세서를 포함할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A sputtering deposition apparatus is provided to reduce contact resistance, thereby reduces loss of current through the straight type contact surface by increasing a contact surface between a feedthrough bar and a connection part of a coil. CONSTITUTION: The sputtering deposition apparatus with coil comprises a reaction chamber; a wafer put inside the reaction chamber; a source molecular target arranged inside the reaction chamber; a feedthrough bar which is arranged between the wafer and the source molecular target inside the reaction chamber, and one end of which chambered; and a coil which has a contacted connection part correspondingly to one end of the feedthrough bar, and which is formed between the wafer and the source molecular target so that the coil forms a plane parallel to a plane of the wafer, wherein a DC current is supplied into the coil through the feedthrough bar, the coil is formed in a circular shape, and the feedthrough bar is connected to the connection part of the coil by a screw.
Abstract:
본 발명은 가열램프의 용량을 개선한 RTP (Rapid Thermal Process)장비에 관한 것으로서, 웨이퍼를 어닐링(annealing)하는 RTP장비의 가열램프들에 있어서, 가열램프부의 가장자리에 구성되는 가열램프들은 가장자리에 존재하기 때문에, 열손실이 생기고, 그를 보충하기 위한 높은 전원 공급에 의해 가열램프들의 손상이 일어나게 된다. 그러므로 가열램프부의 가장자리에 구성되는 가열램프들의 용량을 기존에 사용된 가열램프들보다 큰 것으로 사용해줌으로써, 가열램프의 수명을 길게 할 수 있으며, 그 만큼 작업효율이 증가하는 이점이 있다.
Abstract:
본 발명은 반도체소자의 제조장치에서 고진공을 사용하는 프로세스챔버의 고진공정도를 측정하는 이온 게이지에 관한 것으로서, 전자를 방출하는 필라멘트(16)의 정위치이탈을 검출하는 핀 커버(14)와, 상기 방출되는 전자를 가속시키는 그리드(18)와, 상기 가속된 전자를 집속시켜서 전기적신호로 변화시키는 콜렉터(20)를 튜브(10)내에 구비하고, 그리고 상기 필라멘트(16)가 상기 핀커버(14)의 상부에 전기적으로 절연되면서 지지되게 하는 적어도 3지점에 설치된 지지용 세라믹(22a, 22b, 22c)를 갖는 절연지지대에 의해 고정된다. 상술한 이온 게이지에 의하면, 조그마한 충격에 의해서 필라멘트가 끊어지기 전에는 그 필라멘트가 핀커버의 정위치에서 이탈되지 않으므로 전원공급단자에 어떠한 손상도 끼치지 않게 된다.
Abstract:
PURPOSE: A method for preventing flakes of a dome shield is provided to prevent a wafer from being contaminated by particles like etch byproducts, by coating an aluminum layer on the dome shield. CONSTITUTION: The surface of the dome shield(12) is coated with an aluminum layer to prevent the etch byproducts(14) fixed to the surface of the dome shield from being desorbed from the surface of the dome shield. A dummy wafer coated with aluminum is introduced to the inside of a plasma etch chamber and is dry-etched by using radio frequency so that the surface of the dome shield is coated with the aluminum separated from the surface of the dummy wafer.