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公开(公告)号:WO2019066183A1
公开(公告)日:2019-04-04
申请号:PCT/KR2018/005635
申请日:2018-05-16
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 전자 장치가 개시된다. 본 전자 장치는 스토리지 및 스토리지에 저장된 대상 데이터에 커널 데이터가 적용되는 간격을 나타내는 스트라이드(stride) 정보에 기초하여 대상 데이터 및 커널 데이터를 컨볼루션(convolution) 연산하는 프로세서를 포함하며, 프로세서는 제1 스트라이드 정보에 기초하여 대상 데이터를 복수의 서브 데이터로 분할하고, 제1 스트라이드 정보와 상이한 제2 스트라이드 정보에 기초하여 복수의 서브 데이터 및 복수의 서브 데이터에 각각 대응되는 복수의 서브 커널 데이터를 컨볼루션 연산하며, 복수의 연산 결과를 병합하고, 복수의 서브 커널 데이터는 제1 스트라이드 정보에 기초하여 커널 데이터가 분할된 데이터이며, 제2 스트라이드 정보는 대상 데이터에 커널 데이터가 적용되는 간격이 1일 수 있다.
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公开(公告)号:WO2018226014A1
公开(公告)日:2018-12-13
申请号:PCT/KR2018/006400
申请日:2018-06-05
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 전자 장치가 개시된다. 전자 장치는 메모리 및, 뉴럴 네트워크에 의한 학습에 따라 생성된 복수의 필터에서 선정된 주요 패턴의 필터 별로, 뉴럴 네트워크의 입력 데이터를 필터링하기 위한 연산 명령어를 확인하고, 확인된 연산 명령어를 메모리에 저장하는 프로세서를 포함한다.
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公开(公告)号:KR1020060000407A
公开(公告)日:2006-01-06
申请号:KR1020040049258
申请日:2004-06-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01N27/14
Abstract: 가스 크로마토그래피의 관 오븐 및 가스 분석장치에 관한 것으로서, 상기 관오븐은 기체(air)보다 열용량 및 열전도율이 우수한 매질을 수용하는 용기와 상기 용기 내에 구비되고, 상기 매질을 가열하기 위한 열을 제공하는 히터를 포함한다. 또한, 상기 히터를 이격된 상태로 감싸고, 제공되는 분석 가스를 상 분리하는 코일형 컬럼을 포함한다. 상술한 구성을 갖는 관 오븐은 소형화 및 경량화의 조건을 만족하고, 상기 관오븐을 포함하는 가스 분석 장치는 실험실뿐만 아니라 작업 현장에서 직접 사용될 수 있다.
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公开(公告)号:KR1020150019845A
公开(公告)日:2015-02-25
申请号:KR1020130097242
申请日:2013-08-16
Applicant: 삼성전자주식회사 , 서울대학교산학협력단
CPC classification number: G06F3/0622 , G06F3/0619 , G06F3/0637 , G06F3/0659 , G06F3/0673 , G06F13/16 , G06F21/79 , H04L63/145
Abstract: According to an embodiment of the present invention, a memory access method of a memory control part of an integrity monitoring system sharing memory with a host system includes: a step of receiving a memory access command from a local processor of the integrity monitoring system; a step of accessing a system memory of the host system corresponding to the memory access command; a step of receiving corresponding data from the system according to the access command; and a step of delivering the received data to the local processor. The system memory includes a security area accessed when the memory access command is received from the local processor. An embodiment of the present invention, provided are a method and a device for monitoring the integrity of data processed in the host system in an SoC environment.
Abstract translation: 根据本发明的实施例,与主机系统共享存储器的完整性监控系统的存储器控制部分的存储器访问方法包括:从完整性监视系统的本地处理器接收存储器访问命令的步骤; 访问对应于存储器访问命令的主机系统的系统存储器的步骤; 根据访问命令从系统接收相应数据的步骤; 以及将接收的数据传送到本地处理器的步骤。 当从本地处理器接收到存储器访问命令时,系统存储器包括访问的安全区域。 本发明的实施例提供了一种用于监视在SoC环境中在主机系统中处理的数据的完整性的方法和装置。
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公开(公告)号:KR1020130089418A
公开(公告)日:2013-08-12
申请号:KR1020120010753
申请日:2012-02-02
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G06F9/3001 , G06F9/30181 , G06F9/3889 , G06F9/3897 , G06F9/52 , G06F17/5009 , G06F17/5022 , G06F17/5045 , G06F2217/68
Abstract: PURPOSE: Operation unit and design method including an application specific instruction-set processor (ASIP) are provided to offer a lower power, high integration and high performance operation unit and is applied to a specific application by sharing resources in an operation unit including more than one ASIP. CONSTITUTION: An execution unit (420) is connected to more than two processors (400,410) and executes instruction received from the processors. The execution units process single instruction multiple data (SIMD) operation of data received from the processors. The execution unit receives a request signal for performing instruction from the processor. When there is another task being performed when receiving the request signal, the execution unit transmits a standby signal to the processor from which the request signal is received.
Abstract translation: 目的:提供包括应用特定指令集处理器(ASIP)在内的操作单元和设计方法,以提供更低功率,高集成度和高性能的操作单元,并通过在包括多个操作单元的操作单元中共享资源来应用于特定应用 一个ASIP。 构成:执行单元(420)连接到两个以上的处理器(400,410),并且执行从处理器接收的指令。 执行单元处理从处理器接收的数据的单指令多数据(SIMD)操作。 执行单元从处理器接收用于执行指令的请求信号。 当在接收请求信号时执行另一任务时,执行单元向待接收请求信号的处理器发送待机信号。
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公开(公告)号:KR1020080076251A
公开(公告)日:2008-08-20
申请号:KR1020070015953
申请日:2007-02-15
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: A specimen for analyzing an element, a method for manufacturing the same, and a method for analyzing the element using the same are provided to analyze ingredients of a reference specimen by using signals obtained through the irradiation of an electronic beam into a thin film for the reference specimen. A specimen(100) for analyzing an element includes a first rotational shaft(130), a second rotational shaft(140), a substrate(110) and a thin film(120). The first rotational shaft is spaced apart from the second rotational shaft in parallel to each other. The first and second rotational shafts are disposed on a stage of a device of analyzing elements. The substrate has a film form having flexibility such that the substrate is wounded around the first and second rotational shafts.
Abstract translation: 提供用于分析元件的样本,其制造方法和使用其的元件的分析方法,以通过使用通过将电子束照射获得的信号转换为薄膜来分析参考样品的成分 参考标本。 用于分析元件的样品(100)包括第一旋转轴(130),第二旋转轴(140),基底(110)和薄膜(120)。 第一旋转轴与第二旋转轴彼此平行地间隔开。 第一和第二旋转轴设置在分析元件的装置的台上。 基板具有具有柔性的膜形式,使得基板围绕第一和第二旋转轴受伤。
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