-
公开(公告)号：KR101143005B1
公开(公告)日：2012-05-08
申请号：KR1020050049614
申请日：2005-06-10
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L29/786 , H01L21/027
CPC classification number: H01L27/1288 , G03F1/28 , G03F1/32 , H01L27/1214 , H01L27/14689 , H01L51/56
Abstract: An exposure mask is provided, which includes: a light blocking opaque area blocking incident light; a translucent area; and a transparent area passing the most of incident light, wherein the translucent area generates the phase differences in the range of about −70° to about +70°.
-
公开(公告)号：KR1019980030840A
公开(公告)日：1998-07-25
申请号：KR1019960050321
申请日：1996-10-30
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G11B17/02
Abstract: 본 발명은 차량 탑제용 CD의 오토 체인저에 관한 것으로, 사용자가 전원을 온시키면 CD-플레이어를 CD-매가진의 1 번 트라이의 위치로 이동시키면서 초기화한 후 CD-매가진이 장착되었는 가를 매가진 스위치를 통하여 인식하고, 사용자가 원하는 CD의 재생을 요구하면 엘리베이터 모터를 회전시켜 해당 트라이의 위치까지 슬라이드 센서를 통하여 정확한 위치까지 이동시키고, 디스크 로드/이젝트 모터를 정회전시켜 CD-플레이어에 로딩시키도록 한 후 사용자가 원하는 CD의 정보나 곡을 재생시키고, 정지 키이를 온시키면 디스크 로드/이젝트 모터를 역회전시켜 트라이에 이젝트시키고, CD의 선택에 따른 신호가 입력되면 현재 CD-플레이어의 위치를 확인하면서 이동해야 할 트라이의 위치를 인식하여 비교 결과에 따라 CD-플레이어를 위 쪽 또는 아래 쪽으로 � �동시키면서 사용자가 원하는 곡이나 정보를 간단히 재생시키도록 한 것이다.
-
-
-
-
Patent Agency Ranking
-
7.发明公开다수 전자빔 조건의 멀티 스캔을 연산하여 새로운 패턴 이미지를 창출하는 반도체 소자의 디펙트 검사 장치 및 방법 无效用于通过计算多个电子束导电多次扫描来检测半导体发现缺陷的方法和方法来创建迭代图案
公开(公告)号：KR1020100061018A
公开(公告)日：2010-06-07
申请号：KR1020080119887
申请日：2008-11-28
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66 , H01L21/027
CPC classification number: H01J37/241 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01L22/12 , H01L21/67288
Abstract: PURPOSE: A method and an apparatus for inspecting defect of a semiconductor device are provided to generate a new pattern image by calculating a plurality of pattern images. CONSTITUTION: A detection unit(110) is collided with a semiconductor substrate to extract a secondary electron. A transform unit(120) changes a signal of the secondary electron into an electric signal. An amplifier(130) amplifies the electric signal of the secondary electron. An image processing unit converts the amplified electrical signal into a digital signal. The digital signal is displayed on a monitor(140) as a pattern image.
Abstract translation: 目的：提供一种用于检查半导体器件的缺陷的方法和装置，以通过计算多个图案图像来生成新的图案图像。 构成：检测单元（110）与半导体衬底相撞以提取二次电子。 变换单元（120）将二次电子的信号改变为电信号。 放大器（130）放大二次电子的电信号。 图像处理单元将放大的电信号转换为数字信号。 数字信号作为图案图像显示在监视器（140）上。
-
公开(公告)号：KR100846633B1
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：KR1020060110420
申请日：2006-11-09
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G06T7/001 , G06T2207/10056 , G06T2207/20056 , G06T2207/30148
Abstract: 결함 검출 방법 및 장치는 반도체 기판 상의 검사 영역의 제1 이미지를 획득하고, 제1 이미지를 퓨리에 변환 및 로우 패스 필터링하여 제2 이미지를 획득한 후, 제2 이미지를 기 설정된 기준 이미지와 비교하여 검사 영역의 결함을 검출한다. 제2 이미지와 기준 이미지의 각 픽셀별 그레이 레벨의 상관도를 이용하여 결함 유무를 판단한다. 결함이 존재시, 가로 픽셀 및 세로 픽셀에서 상관도 값이 최소인 위치를 조합하여 결함의 위치를 확인한다.
-
公开(公告)号：KR100792687B1
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：KR1020060108782
申请日：2006-11-06
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148
Abstract: A method for detecting a pattern defect of a semiconductor substrate is provided to easily detect a defect of a semiconductor substrate even if the defect of a detected pattern is detected in a high test density, by comparing a preliminary defect position of the detected pattern with a previously obtained reference defect position so that the accordant defect only is detected as a defect of the pattern. A preliminary defect of a pattern formed on a semiconductor substrate is detected. The position of the preliminary defect of the pattern is compared with the position of a previously obtained reference defect. A preliminary defect existing in the same position as the reference defect is set as a defect of the pattern. In forming the pattern of the semiconductor substrate, the information about the position of a reference defect affecting the operation of a circuit composed of the pattern is obtained.
Abstract translation: 提供了一种用于检测半导体衬底的图案缺陷的方法，即使通过将检测到的图案的预备缺陷位置与检测到的图案的预备缺陷位置进行比较，也可以在高测试密度中检测到检测图案的缺陷，从而容易地检测半导体衬底的缺陷 先前获得的参考缺陷位置，使得仅将相应的缺陷检测为图案的缺陷。 检测在半导体衬底上形成的图案的初步缺陷。 将图案的初始缺陷的位置与先前获得的参考缺陷的位置进行比较。 存在于与参考缺陷相同位置的初步缺陷被设置为图案的缺陷。 在形成半导体衬底的图案时，获得关于影响由图案构成的电路的动作的参考缺陷的位置的信息。
-
公开(公告)号：KR100186769B1
公开(公告)日：1999-04-15
申请号：KR1019960009971
申请日：1996-03-28
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김종안
IPC: G08G1/0968
Abstract: 본 발명은 자동차의 네비게이션(NAVIGATION)장치에 있어서, 화면에 방향 유도용 화살표 및 잔여 교차로 숫자를 표시하여 자동차 운행중에 쉽게 판독하여가며 목적지에 도달할 수 있도록 하는 자동차 네비게이션용 경로유도 표시방법 및 장치에 관한것으로 기존의 지도화면 표시방법은 운전자가 쉽게 판독할 수 없는 문제점이 있어 이를 해결한 것이다.
이러한 본 발명은 자동차용 네비게이션 화면표시에 있어서, 화면 전체에 진행방향 유도용 화살표와 목적지 까지의 잔여 교차로 수만 크게 표시시켜 자동차 운행중에 쉽게 판독 가능하게 하고 지도화면은 필요시에만 표시되게 하는 한편 목적지 안내 음성신호를 출력시켜 화면을 보지 않고도 목적지에 도착할 수 있도록 하므로써 이루어 진다.
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
35
records
(took 0.019 seconds)
