표시장치
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1020050121839A

    公开(公告)日:2005-12-28

    申请号:KR1020040046930

    申请日:2004-06-23

    Abstract: 영상의 표시품질을 향상시킨 표시장치가 개시되어 있다. 표시장치는 영상을 표시하기 위한 화소전극, 화소전극으로 구동신호를 전달하기 위한 제 1 신호선들을 포함하는 표시패널, 제 1 신호선들의 일부에 배치되며, 레진 및 레진에 포함된 도전볼을 포함하는 도전 부재 및 도전부재 상에 배치되고, 레진을 배출시켜 도전볼을 매개로 제 1 신호선들과 접촉하기 위해 제 1 신호선들과 오버랩 된 부분에 레진을 배출하기 위한 개구가 형성된 제 2 신호선을 갖는 구동신호 인가 부재를 포함한다. 이로써, 제 1 신호선들 및 제 2 신호선들이 도전볼과 전기적으로 양호하게 접촉되어 제 2 신호선으로부터 제 1 신호선으로 구동신호가 전송되도록 하여 표시장치로부터 발생된 영상의 표시품질을 보다 향상시킬 수 있다.

    Abstract translation: 一种显示装置,包括:显示面板,包括像素电极和多个将驱动信号传输到像素电极的第一信号线;第一信号线上的导电构件,所述导电构件具有树脂;以及第二信号线, 所述第二信号线具有开口,所述树脂通过所述开口行进以将所述第二信号线与所述第一信号线之一耦合。

    비전도성 기판의 단면 분석법 및 이를 위한 분석장치
    3.
    发明公开
    비전도성 기판의 단면 분석법 및 이를 위한 분석장치 无效
    分析非导电SYBSTRATE的方法和分析方法

    公开(公告)号:KR1020070067901A

    公开(公告)日:2007-06-29

    申请号:KR1020050129389

    申请日:2005-12-26

    CPC classification number: G01N23/225 G01N23/04 G01N23/2255 G01N2223/081

    Abstract: A method of analyzing a non-conductive substrate and an analyzing apparatus for performing the same are provided to efficiently prevent charge-up effect by milling a peripheral region of an analyzing target. A method of analyzing a non-conductive substrate includes the steps of: milling a section(90) in order to minutely smooth the section; forming a conductive layer(20) around the section; milling a first region(60) around of the section using an focused ion beam; milling a second region positioned opposite to the first region using the focused ion beam; filling the second region with a conductive material(30); and observing the section. The conductive layer is one selected from the group consisting of platinum(Pt), silver(Cu), copper(Cu), zinc(Zn), iron(F), tungsten(W), nickel(Ni), cobalt(Co), manganese(Mn), cadmium(Cd), and molybdenum(Mo). The conductive material is the same material as that of the conductive layer.

    Abstract translation: 提供分析不导电基板的方法和用于执行该非导电基板的分析装置,以通过铣削分析对象的周边区域来有效地防止充电效果。 分析不导电基板的方法包括以下步骤:铣削部分(90)以使所述部分平滑; 在所述部分周围形成导电层(20); 使用聚焦离子束研磨所述部分周围的第一区域(60); 使用聚焦离子束研磨与第一区域相对的第二区域; 用导电材料(30)填充所述第二区域; 并观察该部分。 导电层是从铂(Pt),银(Cu),铜(Cu),锌(Zn),铁(F),钨(W),镍(Ni),钴(Co) ,锰(Mn),镉(Cd)和钼(Mo)。 导电材料与导电层的材料相同。

    표시장치
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101075599B1

    公开(公告)日:2011-10-20

    申请号:KR1020040046930

    申请日:2004-06-23

    Abstract: 영상의표시품질을향상시킨표시장치가개시되어있다. 표시장치는영상을표시하기위한화소전극, 화소전극으로구동신호를전달하기위한제 1 신호선들을포함하는표시패널, 제 1 신호선들의일부에배치되며, 레진및 레진에포함된도전볼을포함하는도전부재및 도전부재상에배치되고, 레진을배출시켜도전볼을매개로제 1 신호선들과접촉하기위해제 1 신호선들과오버랩된 부분에레진을배출하기위한개구가형성된제 2 신호선을갖는구동신호인가부재를포함한다. 이로써, 제 1 신호선들및 제 2 신호선들이도전볼과전기적으로양호하게접촉되어제 2 신호선으로부터제 1 신호선으로구동신호가전송되도록하여표시장치로부터발생된영상의표시품질을보다향상시킬수 있다.

    액정표시장치의 표면분석방법
    6.
    发明公开
    액정표시장치의 표면분석방법 无效
    液晶显示器的表面分析方法

    公开(公告)号:KR1020070066524A

    公开(公告)日:2007-06-27

    申请号:KR1020050127810

    申请日:2005-12-22

    Abstract: A method for analyzing a surface in a liquid crystal display is provided to prevent electric charges generated by a charge effect from being introduced into an analyzing section due to an interruption section. A method for analyzing a surface in a liquid crystal display includes the steps of preparing for a material including an analyzing section(30) of the liquid crystal display, forming an interruption section(70) at the outer periphery of the upper surface of the analyzing section by using a connection ion beam, milling a side surface of the analyzing section by using the connection ion beam, performing a structural analysis on the analyzing section by using a scan electronic microscope, performing a component analysis on the analyzing section by using an electronic monochromator.

    Abstract translation: 提供了一种用于分析液晶显示器中的表面的方法,以防止由于中断部分而导致由电荷效应产生的电荷被引入分析部分。 一种用于分析液晶显示器中的表面的方法包括以下步骤:制备包括液晶显示器的分析部分(30)的材料,在分析物的上表面的外周形成中断部分(70) 通过使用连接离子束进行切断,使用连接离子束研磨分析部的侧面,通过使用扫描电子显微镜对分析部进行结构分析,使用电子元件对分析部进行成分分析 单色。

    접촉 저항 측정용 시료를 포함하는 박막 트랜지스터표시판 및 접촉 저항 측정 방법
    7.
    发明公开
    접촉 저항 측정용 시료를 포함하는 박막 트랜지스터표시판 및 접촉 저항 측정 방법 无效
    薄膜晶体管阵列包括用于测量接触电阻​​的实验组的测试和接触电阻的测量方法

    公开(公告)号:KR1020060074553A

    公开(公告)日:2006-07-03

    申请号:KR1020040113310

    申请日:2004-12-27

    Abstract: 본 발명은 접촉 저항 측정용 시료를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판 및 접촉 저항 측정 방법에 관한 것이다.
    게이트선 및 데이터선을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판으로서, 상기 게이트선이 확장된 게이트 패드, 상기 데이터선이 확장된 데이터 패드, 그리고 상기 게이트 패드 사이 또는 상기 데이터 패드 사이에 적어도 하나가 배치되어 있으며 상기 게이트 패드 또는 상기 데이터 패드의 접촉 저항을 측정하기 위한 시료를 포함하고, 상기 시료는, 제1 배선, 상기 제1 배선 위에 형성되어 있는 절연막, 상기 절연막 위에 형성되어 있으며 제1 접촉 구멍을 통하여 상기 제1 배선과 연결되는 제2 배선을 포함한다.
    이러한 방식으로, 배선 자체의 저항을 제외한 접촉 저항만을 정확하게 측정하여 불량 등의 경우에 원인 분석에 걸리는 시간을 줄일 수 있다.
    접촉저항, 전류원, 전압계, 배선, ITO, 박막, 표시판

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