다단 증폭 회로
    1.
    发明授权
    다단 증폭 회로 有权
    多级放大电路

    公开(公告)号:KR101591339B1

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:KR1020090074009

    申请日:2009-08-11

    CPC classification number: H03F3/45179 H03F3/68 H03F3/72

    Abstract: 본발명은복수개의증폭회로가연결된다단증폭회로에관한것으로, 본발명의일실시예는제어신호에응답하여, 입력되는제1 아날로그전압을샘플링하거나제1 아날로그전압과제1 아날로그전압으로부터변환된제1 디지털전압의차이값을증폭하는제1 증폭회로; 제어신호에응답하여, 입력되는제2 아날로그전압을샘플링하거나제2 아날로그전압과제2 아날로그전압으로부터변환된제2 디지털전압의차이값을증폭하고, 제1 증폭회로와상보적으로동작하는제2 증폭회로; 및제1 증폭회로의출력전압및 제2 증폭회로의출력전압을입력받고, 제어신호에응답하여제1 증폭회로의출력전압을리셋(reset)시키고제2 증폭회로를이용하여출력전압을결정하거나, 제2 증폭회로의출력전압을리셋시키고제1 증폭회로를이용하여출력전압을결정하는공유증폭기를포함한다.

    다단 증폭 회로
    2.
    发明公开
    다단 증폭 회로 有权
    多级放大电路

    公开(公告)号:KR1020110016348A

    公开(公告)日:2011-02-17

    申请号:KR1020090074009

    申请日:2009-08-11

    Abstract: PURPOSE: A multistage amplifying circuit is provided to minimize the distortion of the output voltage of the multistate amplifying circuit by eliminating memory defect which is capable of generating between a first stage amplifier and a second state amplifier. CONSTITUTION: A first amplifying circuit(112) samples a first analog voltage. The first amplifying circuit amplifies a difference value of the first analog voltage and a first digital voltage. A second amplifying circuit samples a second analog voltage. The second amplifying circuit amplifies a difference value of the second analog voltage and a second digital voltage. A sharing amplifier(120) receives the output voltage of the first amplifying circuit and the output voltage of the second amplifying circuit. The sharing amplifier resets the output voltage of the first amplifying circuit. The sharing amplifier determines an output voltage using the second amplifying circuit.

    Abstract translation: 目的:提供多级放大电路,通过消除能够在第一级放大器和第二状态放大器之间产生的存储器缺陷来最小化多态放大电路的输出电压的失真。 构成:第一放大电路(112)对第一模拟电压进行采样。 第一放大电路放大第一模拟电压和第一数字电压的差值。 第二放大电路对第二模拟电压进行采样。 第二放大电路放大第二模拟电压和第二数字电压的差值。 共享放大器(120)接收第一放大电路的输出电压和第二放大电路的输出电压。 共享放大器复位第一放大电路的输出电压。 共享放大器使用第二放大电路确定输出电压。

    이미지 처리 장치와 이를 포함하는 이미지 처리 시스템
    5.
    发明公开
    이미지 처리 장치와 이를 포함하는 이미지 처리 시스템 审中-实审
    图像处理装置和具有图像处理装置的图像处理系统

    公开(公告)号:KR1020160012802A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:KR1020140095003

    申请日:2014-07-25

    CPC classification number: H04N5/378 H04N5/3698 H04N5/3745

    Abstract: 본발명의실시예에따른이미지처리장치는픽셀로부터출력된픽셀신호에관련된이미지신호의레벨에기초하여스위치제어신호들을생성하는스위치신호생성기, 제1입력단자와제2입력단자를포함하는증폭기, 램프신호를생성하는램프신호생성기, 및상기스위치제어신호들을이용하여복수의커패시터들의배열을조절하고, 조절된배열을이용하여상기픽셀신호와상기램프신호각각의감쇠여부를제어하고, 제어의결과에따라생성된신호들을상기제1입력단자와상기제2입력단자로전송하는감쇠제어회로를포함한다.

    Abstract translation: 根据本发明的实施例,图像处理装置包括:开关信号发生器,用于基于与从像素输出的像素信号相关联的图像信号的电平产生开关控制信号; 放大器,包括第一和第二输入端子; 灯信号发生器,用于产生灯信号; 以及衰减控制电路,用于通过使用开关控制信号来控制多个电容器的阵列,通过使用受控阵列来控制每个像素信号和灯信号的衰减,以及根据控制结果生成的信号 第一和第二输入端子。

    DTV의 아날로그 프론트 엔드, 이를 포함하는 디지털 TV 시스템, 및 이들의 동작 방법
    6.
    发明公开
    DTV의 아날로그 프론트 엔드, 이를 포함하는 디지털 TV 시스템, 및 이들의 동작 방법 有权
    具有数字电视,数字电视系统的模拟前端及其方法

    公开(公告)号:KR1020120119534A

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:KR1020110037515

    申请日:2011-04-21

    Abstract: PURPOSE: An analog front end of a digital television, a digital television system including the same and an operating method are provided to include a phase locked loop, thereby generating sampling frequency including low jitter which is universally used for the diverse digital television standard. CONSTITUTION: A first selection circuit(32) outputs differential audio intermediate frequency signals or differential TV broadcasting signals in response to a first selection signal. A second selection circuit(34a) outputs at least one of clock signals having different sampling frequency in response to a second selection signal. An analog digital converter(36) converts output signals of the first selection circuit into digital codes according to the sampling frequency of the clock signals. The first selection circuit includes a single-to-differential converter and first and second multiplexers.

    Abstract translation: 目的:提供数字电视的模拟前端,包括该数字电视的数字电视系统和操作方法,以包括锁相环,从而产生包括普遍用于多种数字电视标准的低抖动的采样频率。 构成:响应于第一选择信号,第一选择电路(32)输出差分音频中频信号或差分电视广播信号。 第二选择电路(34a)响应于第二选择信号输出具有不同采样频率的时钟信号中的至少一个。 模拟数字转换器(36)根据时钟信号的采样频率将第一选择电路的输出信号转换成数字码。 第一选择电路包括单对差分转换器和第一和第二多路复用器。

    반도체 테스트 시스템 및 이 시스템의 테스트 방법
    7.
    发明授权
    반도체 테스트 시스템 및 이 시스템의 테스트 방법 失效
    半导体测试系统及其测试方法

    公开(公告)号:KR100487946B1

    公开(公告)日:2005-05-06

    申请号:KR1020020051598

    申请日:2002-08-29

    CPC classification number: G06F11/2733 G01R31/31908 G01R31/31926

    Abstract: 본 발명은 반도체 테스트 시스템 및 이 시스템의 테스트 방법을 공개한다. 이 시스템은 복수개의 데이터 입출력 핀들을 구비하고, 복수개의 데이터 입출력 핀들을 통하여 데이터를 입출력하는 테스터, 테스터에 의해서 테스트되는 복수개의 반도체 칩들, 및 리드 동작시에 복수개의 반도체 칩들 각각으로부터 출력되는 데이터를 순차적으로 테스터로 출력하는 리드 회로와, 라이트 동작시에 테스터로부터 입력되는 데이터를 동시에 복수개의 칩들로 동시에 인가하는 라이트 회로를 구비하는 제어회로로 구성되어 있다. 따라서, 테스터의 데이터 입출력 핀의 수에 제한되지 않고 많은 수의 반도체 칩들을 동시에 테스트하는 것이 가능하다.

    레벨 쉬프터
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:KR100476453B1

    公开(公告)日:2005-03-17

    申请号:KR1020020072018

    申请日:2002-11-19

    Inventor: 박호진 이호영

    Abstract: 본 발명은 레벨 쉬프터를 공개한다. 이 회로는 제1전원전압과 접지전압사이에 연결되고 입력 신호를 반전하는 제1인버터, 제2전원전압과 제1노드사이에 연결되고 제1인버터의 출력신호에 응답하여 제1노드를 충전하는 제1풀업 트랜지스터, 제2전원전압과 제2노드사이에 연결되고 입력 신호에 응답하여 제2노드를 충전하는 제2풀업 트랜지스터, 제1노드와 접지전압사이에 연결되고 제1인버터의 출력신호에 응답하여 제1노드를 방전하는 제1풀다운 트랜지스터, 제2노드와 접지전압사이에 연결되고 입력 신호에 응답하여 제2노드를 방전하는 제2풀다운 트랜지스터, 제2전원전압과 접지전압사이에 연결되고 제1노드의 전압 레벨의 변화에 응답하여 제2노드의 전압 레벨의 변화를 가속화하는 제2인버터, 및 제2전원전압과 접지전압사이에 연결되고 제2노드의 전압 레벨의 변화에 응답하여 상기 제 1노드의 전압 레벨의 변화를 가속화하는 제3인버터로 구성되어 있다. 따라서, 입력 신호의 레벨이 낮아지거나 동작 주파수가 높아지더라도 출력 신호의 스윙 폭이 줄어들지 않고, 듀티 비가 개선될 수 있다.

    웨이퍼 테스트시 외부 전압 공급원을 사용하지 않고 활성화된 테스트 신호를 발생하는 반도체 집적회로
    9.
    发明公开
    웨이퍼 테스트시 외부 전압 공급원을 사용하지 않고 활성화된 테스트 신호를 발생하는 반도체 집적회로 失效
    用于提供内部信号的半导体IC电路,用于激活电压水平,不通过激活外部测试仪驱动固定的信号垫进行测试

    公开(公告)号:KR1020000065712A

    公开(公告)日:2000-11-15

    申请号:KR1019990012324

    申请日:1999-04-08

    Abstract: PURPOSE: A semiconductor IC circuit is provided to apply an internal signal for commanding an operation of a signal pad to activation voltage level without connecting the signal pad to a driver of external tester, the signal pad is fixed to activation when testing a wafer. CONSTITUTION: A semiconductor IC circuit(10) has many signal pads, and has a predetermined signal pad among many signal pads, where the signal pad is fixed to activation while testing a wafer. A test mode enable signal generator(120) responds to a power-up signal for indicating a state of an operation power-supply of the semiconductor IC circuit and a mode address for indicating the wafer test mode, and then generates a mode enable signal. The test mode driver responds to a test mode enable signal, ignores(don't care) a voltage level applied to the signal pad from the external part, and fixes an internal signal for informing an operation of the signal pad to activation.

    Abstract translation: 目的:提供半导体IC电路,用于将信号焊盘的操作的内部信号施加到激活电压电平,而不将信号焊盘连接到外部测试仪的驱动器,在测试晶片时,信号焊盘固定为激活。 构成:半导体IC电路(10)具有许多信号焊盘,并且在许多信号焊盘之间具有预定的信号焊盘,其中信号焊盘在测试晶片时固定为激活。 测试模式使能信号发生器(120)响应用于指示半导体IC电路的操作电源的状态的上电信号和用于指示晶片测试模式的模式地址,然后产生模式使能信号。 测试模式驱动器响应测试模式使能信号,忽略(不在乎)来自外部部分施加到信号焊盘的电压电平,并固定内部信号以通知信号焊盘的操作激活。

    분리 확장 데이터 출력모드를 갖는 반도체 메모리장치
    10.
    发明授权
    분리 확장 데이터 출력모드를 갖는 반도체 메모리장치 失效
    具有隔离扩展数据输出模式的半自动存储器件

    公开(公告)号:KR100183871B1

    公开(公告)日:1999-04-15

    申请号:KR1019960018519

    申请日:1996-05-29

    Abstract: 본 발명은 분리 확장 데이터 출력모드를 갖는 반도체 메모리장치에 관한 것이다. 본 발명은, 하나의 어드레스에 의해 동시에 선택되는 복수의 메모리셀 블락과, 하나의 입출력 핀을 통해 한 페이지 싸이클 동안 연속적으로 입력되는 복수의 입력데이터를 분리클락에 의해 분리하여 서로 다른 데이터버스에 각각 출력하는 데이터 입력버퍼와, 상기 복수의 메모리셀 블락과 상기 데이터 입력버퍼 사이에 개재되고 상기 서로 다른 데이터버스에 전달된 데이터를 상기 복수의 메모리셀 블락의 각 입출력 라인에 각각 전달하는 라이트 드라이버와, 상기 복수의 메모리셀 블락으로부터 각 입출력 라인에 전달된 데이터를 증폭하여 상기 서로 다른 데이터버스에 각각 출력하는 감지증폭기, 및 상기 서로 다른 데이터버스에 전달된 출력데이터를 한 페이지 싸이클 동안 연속적으로 받아서 분리클락에 의해 분리하여 하나의 입출력 핀을 통해 연 속 출력하는 데이터 출력버퍼를 구비하는 것을 특징으로 한다. 따라서 본 발명은 한 tHPC 동안에 복수의 데이터를 하나의 입출력 핀을 통해 쓰거나 읽을 수 있으므로, 데이터의 리드/라이트 성능이 크게 향상된다.

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