Abstract:
GaN계 반도체 광소자(11a)에서는, 기판(13)의 주면(13a)은, 제1 GaN계 반도체의 c축을 따라 연장되는 기준축(Cx)에 직교하는 면으로부터 상기 제1 GaN계 반도체의 m축 방향으로 63도 이상 80도 미만의 범위의 경사각으로 경사져 있다. GaN계 반도체 에피택셜 영역(15)은, 주면(13a) 위에 마련되어 있다. GaN계 반도체 에피택셜 영역(15) 위에는, 활성층(17)이 마련되어 있다. 활성층(17)은, 하나 이상의 반도체 에피택셜층(19)을 포함한다. 반도체 에피택셜층(19)은, InGaN으로 이루어진다. 반도체 에피택셜층(19)의 막 두께 방향은, 기준축(Cx)에 대하여 경사져 있다. 이 기준축(Cx)은, 제1 GaN계 반도체의 [0001]축의 방향을 향하고 있다. 이것에 의해, 활성층에서의 In 편석에 따른 발광 특성의 저하가 억제된 GaN계 반도체 발광 소자를 제공한다.
Abstract:
우물층에 대한 캐리어의 주입 효율이 향상된 질화물계 반도체 발광 소자를 제공한다. 육방정계 질화갈륨계 반도체로 이루어지는 기판(5)과, 기판(5)의 주요면(S1)에 설치된 n형 질화갈륨계 반도체 영역(7)과, 이 n형 질화갈륨계 반도체 영역(7) 위에 설치된 단일 양자우물 구조의 발광층(11)과, 발광층(11) 위에 설치된 p형 질화갈륨계 반도체 영역(19)을 구비한다. 발광층(11)은 n형 질화갈륨계 반도체 영역(7)과 p형 질화갈륨계 반도체 영역(19) 사이에 설치되어 있고, 발광층(11)은 우물층(15)과 배리어층(13) 및 배리어층(17)을 포함하며, 우물층(15)은 InGaN이고, 주요면(S1)은 육방정계 질화갈륨계 반도체의 c축 방향에 직교하는 면으로부터 63도 이상 80도 이하 또는 100도 이상 117도 이하의 범위내의 경사각으로 경사진 기준 평면(S5)을 따라 연장되어 있다.
Abstract:
PURPOSE: A gallium nitride-based semiconductor laser diode is provided to generate optical laser having wavelength over 50nm by using a semi-polar plane. CONSTITUTION: An active layer(29) is installed to generate optical laser having wavelength over 50nm. Light held in a core semiconductor region(19) has long wavelength. A first optical guide layer(27) and a second optical guide layer(27) have a double structure. A clad layer(21) is formed by at least one of AlGaN and InAlGaN. The thickness of a first epitaxial semiconductor region(15) is thicker than the that of the core semiconductor region.
Abstract:
PURPOSE: A III-family nitride semiconductor laser diode is provided to easily stabilize an oscillation mode in an optical guide layer by forming thick optical guide layer and active layer. CONSTITUTION: A III-family nitride substrate(13) includes a semi-polar major face(13a). An n-type clad layer(15) is composed of a III-family nitride containing aluminum. A p-type clad layer(19) is composed of an active layer(17) and the III-family nitride containing aluminum. A first optical guide layer(21) is installed between the n-type clad layer and the active layer. A second optical guide layer is installed between the p-type clad layer and the active layer.
Abstract:
PURPOSE: A gallium nitride-based semiconductor optical device, a method for manufacturing the same, and an epitaxial wafer are provided to obtain a low piezo effect by forming an indium gallium nitride well layer. CONSTITUTION: A gallium nitride-based semiconductor optical device(11a) includes a supporter(13), a gallium nitride-based semiconductor region(15), and a semiconductor epitaxial layer(19) for an active layer(17). The gallium nitride-based semiconductor optical device includes a gallium nitride-based semiconductor region(21) which is installed on the active layer. The gallium nitride-based semiconductor region includes an electronic block layer(23), a p-type clad layer(25), and a p-type contact layer(27). The gallium nitride-based semiconductor optical device includes optical trapping layers(29, 31).
Abstract:
본 발명은 Ⅴ족 구성 원소로서 Sb을 포함하는 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체층을 갖는 수광층과 n형 InP창층을 갖고 있고 암전류를 저감 가능한 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 수광 소자를 제공한다. 이 수광 소자는, 수광층(21)의 GaAsSb층의 성장시에 공급된 안티몬의 메모리 효과에 의해, 수광층(23) 상에 성장되는 InP층(23)에, 불순물로서 안티몬이 포함된다. Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 수광 소자(11)에서, InP층(23)은 불순물로서 안티몬을 포함하고, InP층(23)에는 n형 도펀트로서 실리콘이 첨가되어 있다. InP층(23) 중의 안티몬 불순물은 정공을 생성하도록 작용하지만, 이 생성 캐리어를 InP층(23)중에 첨가된 실리콘이 보상하여, InP층(23)의 제2 부분(23d)은 충분한 n 도전성을 나타낸다.
Abstract:
본 발명은 육방정계 Ⅲ족 질화물의 c축이 m축의 방향으로 경사진 지지 기체의 반극성면 상에서, 저임계값 전류를 가능하게 하는 레이저 공진기를 갖는 Ⅲ족 질화물 반도체 레이저 소자를 제공한다. 레이저 공진기가 되는 제1 및 제2 단면(27, 29)이, mn면에 교차한다. Ⅲ족 질화물 반도체 레이저 소자(11)는, mn면과 반극성면(17a)의 교차선의 방향으로 연장되는 레이저 도파로를 갖는다. 이에 따라, 저임계값 전류를 가능하게 하는 밴드 천이의 발광을 이용할 수 있다. 레이저 구조체(13)에서는, 제1 면(13a)은 제2 면(13b)의 반대측의 면이다. 제1 및 제2 단면(27, 29)은, 제1 면(13a)의 엣지(13c)에서 제2 면(13b)의 엣지(13d)까지 연장된다. 단면(27, 29)은, 드라이 에칭에 의해 형성되지 않고, c면, m면 또는 a면 등의 이제까지의 벽개면과는 다르다.