하드마스크 층의 형성 방법, 반도체 소자의 제조방법, 및 이에 따른 반도체 소자
    7.
    发明授权
    하드마스크 층의 형성 방법, 반도체 소자의 제조방법, 및 이에 따른 반도체 소자 有权
    形成硬掩模层的方法,制造半导体器件的方法和半导体器件

    公开(公告)号:KR101776265B1

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:KR1020140065273

    申请日:2014-05-29

    Abstract: 일구현예에따르면, 기판위에재료층을형성하는단계, 상기재료층 위에하드마스크조성물을적용하는단계, 그리고상기하드마스크조성물을다단계(multi-step) 열처리하는단계를포함하는하드마스크층의형성방법으로서, 상기다단계열처리는공정 1 또는공정 2에따라진행되며, 상기공정 1은 50 ℃내지 170 ℃의온도에서열처리하는베이크공정 1-1, 및 100 ℃내지 500 ℃의온도에서열처리하는베이크공정 1-2를포함하고, 상기공정 2는 50 ℃내지 300 ℃의온도에서열처리하는베이크공정 2-1, 100 ℃내지 500 ℃의온도에서열처리하는베이크공정 2-2, 및 150 ℃내지 600 ℃의온도에서열처리하는베이크공정 2-3을포함하며, 상기베이크공정 1-2의온도는상기베이크공정 1-1의온도보다높거나같고, 상기베이크공정 2-2의온도는상기베이크공정 2-1의온도보다높거나같고상기베이크공정 2-3의온도는상기베이크공정 2-2의온도보다높거나같은하드마스크층의형성방법을제공한다. 단, 상기베이크공정 1-1의완결시점과상기베이크공정 1-2의개시시점이동일한경우상기베이크공정 1-2의온도는상기베이크공정 1-1의온도보다높아야하고, 상기베이크공정 2-1의완결시점과상기베이크공정 2-2의개시시점이동일한경우상기베이크공정 2-2의온도는상기베이크공정 2-1의온도보다높아야하며, 상기베이크공정 2-2의완결시점과상기베이크공정 2-3의개시시점이동일한경우상기베이크공정 2-3의온도는상기베이크공정 2-2의온도보다높아야한다.

    Abstract translation: 根据一个实施例,提供了一种形成硬掩模层的方法,该方法包括在基底上形成材料层,在该材料层上施加硬掩模组合物,并且多步热处理该硬掩模组合物 作为一种方法,根据步骤1中的多级热处理工序1或方法2进行是在烘烤热处理步骤1-1烘烤的步骤,和在500至100℃℃的温度下在50℃至170℃的温度下进行热处理 如图1-2所示,步骤2包括用于在50-300℃的温度下进行热处理的烘烤步骤2-1,用于在100-500℃的温度下进行热处理的烘烤步骤2-2, 烘烤步骤1-2的温度高于或等于烘烤步骤1-1的温度,并且烘焙步骤2-2的温度低于烘烤步骤2-1的温度 高于或等于烘烤步骤2-3的温度 温度提供或大于烘烤步骤2-2的温度高形成硬掩模层的方法。 如果烘烤过程1-1的完成时刻与烘烤过程1-2的开始时刻相同,则烘烤过程1-2的温度应当高于烘烤过程1-1的温度, 1等于烘烤步骤2-2的起点时,烘烤步骤2-2的温度应高于烘烤步骤2-1的温度, 当步骤2-3的起点相同时,烘烤步骤2-3的温度应高于烘烤步骤2-2的温度。

    하드마스크 조성물용 모노머, 상기 모노머를 포함하는 하드마스크 조성물 및 상기 하드마스크 조성물을 사용하는 패턴형성방법
    9.
    发明公开
    하드마스크 조성물용 모노머, 상기 모노머를 포함하는 하드마스크 조성물 및 상기 하드마스크 조성물을 사용하는 패턴형성방법 无效
    HARDMASK组合物和HARDMASK组合物的单体包括单体和使用HARDMASK组合物形成图案的方法

    公开(公告)号:KR1020150013415A

    公开(公告)日:2015-02-05

    申请号:KR1020140191112

    申请日:2014-12-26

    Abstract: Provided in an embodiment is a monomer for a hardmask composition which satisfies the solubility in a solvent, gap-filling properties, and planarizing properties, while obtaining the chemical resistance, heat resistance, and etching resistance. The present invention relates to a monomer for a hardmask composition represented by chemical formula 1, a hardmask composition, and a method for forming a pattern. In chemical formula 1a, L^1 and L^2 are independently single bond or a substituted or unsubstituted alkylene group of C1 to C6.

    Abstract translation: 在一个实施方案中提供了在获得耐化学性,耐热性和耐蚀刻性的同时满足溶剂中的溶解性,间隙填充性和平坦化性质的硬掩模组合物的单体。 本发明涉及由化学式1表示的硬掩模组合物的单体,硬掩模组合物和形成图案的方法。 在化学式1a中,L 1和L 2独立地是单键或C1至C6的取代或未取代的亚烷基。

Patent Agency Ranking