비뇨생식기 감염 질환 진단용 DNA칩
    1.
    发明申请
    비뇨생식기 감염 질환 진단용 DNA칩 审中-公开
    用于诊断溃疡性感染性疾病的DNA芯片

    公开(公告)号:WO2013042824A1

    公开(公告)日:2013-03-28

    申请号:PCT/KR2011/009150

    申请日:2011-11-29

    Abstract: 본 발명은 비뇨생식기 감염 질환 진단을 위한 올리고뉴클레오티드 프로브를 포함하는 DNA칩에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 비뇨생식기 감염 질환 원인균 14종에 대한 올리고뉴클레오티드 프로브가 고정되어 있는 비뇨생식기 감염 질환 진단용 DNA칩에 관한 것이다. 본 발명에 따른 비뇨생식기 감염 질환 진단용 DNA칩은 민감도, 특이도 및 재현성이 우수할 뿐만 아니라 다양한 검체를 대상으로 복합감염까지 포함하여 14종의 비뇨생식기 감염 질환 원인균의 감염 여부를 신속 정확하게 분석할 수 있어 비뇨생식기 감염 질환에 대한 1차 진료기관의 진단 및 처치에 유용하게 사용할 수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及包含用于诊断泌尿生殖系疾病的寡核苷酸探针的DNA芯片,更具体地,涉及用于诊断泌尿生殖系疾病的DNA芯片,具有用于14种泌尿生殖感染性疾病的致病生物的固定的寡核苷酸探针。 根据本发明的用于诊断泌尿生殖感染性疾病的DNA芯片不仅具有优异的灵敏度,特异性和再现性,而且包括各种临床标本的甚至复杂的感染,以便能够快速和准确地分析是否存在感染 14种泌尿生殖系疾病的致病生物,因此可以通过泌尿生殖器传染病治疗设施进行初步诊断和治疗。

    SDL-PCR을 이용한 유전자 분석방법
    2.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2012121486A9

    公开(公告)日:2012-09-13

    申请号:PCT/KR2012/000695

    申请日:2012-01-30

    Abstract: 본 발명은 SDL-PCR(Separation of displaced ligation probe-based PCR)을 이용한 유전자 분석방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 목적 유전자와 상보적인 염기서열을 포함하는 각각의 탐침들을 리가제(ligase)를 이용하여 연결반응시키고, 상기 탐침과 혼성화될 수 있는 또 다른 탐침을 첨가하여 혼성화시킨다음 연장(extention)반응시켜 주형 탐침을 제조하고, 공통의 프라이머를 이용하여 목적유전자의 주형 탐침을 증폭시키는 것을 특징으로 하는 SDL-PCR을 이용한 유전자 분석방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 SDL-PCR 방법은 연결 반응이 되지 않은 미반응 탐침 또는 genomic DNA를 태그를 이용하여 제거함으로써, 비특이적 증폭 반응을 최소화할 수 있을 뿐만 아니라 exonuclease를 이용하는 정제방법보다 빠른 시간 내에 정제가 가능하며 단일 튜브 내의 동일 용액에서 연결, 정제 및 중합효소연쇄반응이 가능하여 정확하고 신속하게 복수의 유전자를 동시에 증폭시킬 수 있다.

    전압제어 자화반전 기록방식의 MRAM 소자 및 이를이용한 정보의 기록 및 판독 방법
    3.
    发明公开
    전압제어 자화반전 기록방식의 MRAM 소자 및 이를이용한 정보의 기록 및 판독 방법 失效
    使用电压控制磁化作为书写类型的磁性随机存取存储器的信息存储和解释方法

    公开(公告)号:KR1020060071955A

    公开(公告)日:2006-06-27

    申请号:KR1020040110458

    申请日:2004-12-22

    CPC classification number: G11C11/15 G11C5/025 H01L43/08 H01L43/10

    Abstract: A voltage-controlled magnetization reversal writing type Magnetic Random Access Memory (MRAM) device. The MRAM device includes electrically conductive base electrodes, a piezoelectric layer, an insulation layer, a free ferromagnetic layer, a nonmagnetic layer, a pinned ferromagnetic layer, an antiferromagnetic layer and two electrically conductive reading lines. The electrically conductive base electrodes are provided with two writing lines having positive and negative electrodes. The left and right surfaces of piezoelectric layer are disposed to abut the writing lines of the electrically conductive base electrodes, respectively. The insulation layer is disposed beneath the piezoelectric layer and is formed to separate the positive and negative electrodes. The free ferromagnetic layer is disposed on the insulation layer. The nonmagnetic layer is disposed on the free ferromagnetic layer. The pinned ferromagnetic layer is disposed on the nonmagnetic layer. The antiferromagnetic layer is disposed on the pinned ferromagnetic layer. The two electrically conductive reading lines are formed to be perpendicular to each other.

    균일한 국소영역의 보자력 분포와 미세한 결정립 및균일한 결정립 크기 분포를 가지는 고밀도 자기 기록 매체및 그 제조 방법
    4.
    发明公开
    균일한 국소영역의 보자력 분포와 미세한 결정립 및균일한 결정립 크기 분포를 가지는 고밀도 자기 기록 매체및 그 제조 방법 无效
    高密度磁记录介质具有均匀精细域的精细分布,以及精细和均匀的结晶粉末尺寸分布及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020040033492A

    公开(公告)日:2004-04-28

    申请号:KR1020020062592

    申请日:2002-10-14

    Inventor: 신성철 임미영

    CPC classification number: G11B5/656 G11B5/72 G11B5/7325 G11B5/851

    Abstract: PURPOSE: A high density magnetic recording medium having a coercivity distribution of a uniform fine domain, and a fine and uniform crystalline powder size distribution, and a manufacturing method thereof are provided to offer a CoCrPt alloy thin film having a structural characteristic fit to the high density magnetic recording medium. CONSTITUTION: The CoCrPt alloy thin film is the (Co82Cr18)100-xPtx alloy thin film that a Pt composition is 1-14 atomic percents. A Ti thin film is placed to a lower part of the (Co82Cr18)100-xPtx alloy thin film. A thickness of the (Co82Cr18)100-xPtx alloy thin film is 400 angstroms and the thickness of the Ti thin film is 1100 angstroms.

    Abstract translation: 目的:提供具有均匀细微区域的矫顽力分布和微细且均匀的结晶粉末尺寸分布的高密度磁记录介质及其制造方法,以提供具有适合高结构特征的CoCrPt合金薄膜 密度磁记录介质。 构成:CoCrPt合金薄膜是(Co82Cr18)100-xPtx合金薄膜,Pt组成为1-14原子百分比。 将Ti薄膜放置在(Co82Cr18)100-xPtx合金薄膜的下部。 (Co82Cr18)100-xPtx合金薄膜的厚度为400埃,Ti薄膜的厚度为1100埃。

    광자기 현미경 자력계
    5.
    发明授权
    광자기 현미경 자력계 失效
    광자기현미경자력계

    公开(公告)号:KR100371600B1

    公开(公告)日:2003-02-11

    申请号:KR1020000055900

    申请日:2000-09-22

    Inventor: 신성철 최석봉

    Abstract: PURPOSE: A magnetometer of a magneto-optical microscope is provided to simultaneously carry out the functions of a magneto-optical microscope and a magneto-optical magnetometer, thereby measuring a Hysteresis loop and an activation magnetization moment in an ultra fine local area. CONSTITUTION: A magnetometer of a magneto-optical microscope includes an electromagnet unit(130) applying a magnetic field to a magnetic material(117'), a polarized optical microscope(110) for outputting a polarized optical image signal for a magnetized state of a surface of the magnetic material, a CCD camera unit(120) for real-time photographing the image signal, a data conversion element(140) for converting a change of the image signal photographed by the CCD camera unit to a Hysteresis Loop and an activation magnetization moment, an output element(150) for outputting the converted result, and a magnetic field controller(160) for outputting a control signal to the electromagnet unit to remotely control a strength of the magnetic field applied to the magnetic material.

    Abstract translation: 目的:提供磁光显微镜的磁力计,以同时执行磁光显微镜和磁光磁力计的功能,由此测量超细局部区域中的磁滞回线和活化磁矩。 本发明提供一种磁光显微镜的磁力计,包括:向磁性材料(117')施加磁场的电磁铁单元(130);输出用于磁化状态的偏振光学图像信号的偏振光学显微镜(110) 磁性材料的表面,用于实时拍摄图像信号的CCD照相机单元(120),用于将由CCD照相机单元拍摄的图像信号的变化转换成滞后环的数据转换元件(140) 磁化力矩,用于输出转换结果的输出元件(150)以及用于向电磁体单元输出控制信号以远程控制施加到磁性材料的磁场的强度的磁场控制器(160)。

    니켈-백금 다층막으로 형성된 광자기 기록매체
    6.
    发明授权
    니켈-백금 다층막으로 형성된 광자기 기록매체 失效
    具有NIKEL-PLATINUM多层薄膜的磁光记录介质

    公开(公告)号:KR100222095B1

    公开(公告)日:1999-10-01

    申请号:KR1019970000134

    申请日:1997-01-06

    CPC classification number: G11B11/10582 G11B11/10586 Y10S428/90 Y10T428/265

    Abstract: 본 발명은 광자기 기록, 특히 고밀도의 광자기 기록에 적합한 기록매체로서, 소정의 두께와 적층수를 가지는 니켈층 및 백금층의 다층으로 구성되어 상온에서 수직 자기이방성을 가지는 광자기 기록매체에 관한 것이다.
    본 발명에 따르면, 기판 및 상기 기판상에 형성된 Ni층 및 Pt층의 다층을 포함하는 광자기 기록매체에 있어서, 상기 Ni층은 9Å 내지 21Å의 두께를 가지며, 상기 Pt층은 3Å 내지 4Å 이하의 두께를 가지며, 상기 Ni층 및 Pt층은 10층 내지 35층으로 적층되도록 함으로써 바람직한 물성을 가지도록 구성된 신규한 광자기 기록매체가 제공된다.

    니켈-백금 다층막으로 형성된 광자기 기록매체
    7.
    发明公开
    니켈-백금 다층막으로 형성된 광자기 기록매체 失效
    由镍 - 铂多层膜形成的磁光记录介质

    公开(公告)号:KR1019980065257A

    公开(公告)日:1998-10-15

    申请号:KR1019970000134

    申请日:1997-01-06

    Abstract: 본 발명은 광자기 기록, 특히 고밀도의 광자기 기록에 적합한 기록매체로서, 소정의 두께와 적층수를 가지는 니켈층 및 백금층의 다층으로 구성되어 상온에서 수직 자기이방성을 가지는 광자기 기록매체에 관한 것이다.
    본 발명에 따르면, 기판 및 상기 기판상에 형성된 Ni층 및 Pt층의 다층을 포함하는 광자기 기록매체에 있어서, 상기 Ni층은 9Å 내지 21Å의 두께를 가지며, 상기 Pt층은 3Å 내지 4Å 이하의 두께를 가지며, 상기 Ni층 및 Pt층은 10층 내지 35층으로 적층되도록 함으로써 바람직한 물성을 가지도록 구성된 신규한 광자기 기록매체가 제공된다.

    단분산 입자를 마스크로 이용하는 자성금속 점 정렬형성방법
    9.
    发明公开
    단분산 입자를 마스크로 이용하는 자성금속 점 정렬형성방법 失效
    使用胶体光刻的金属颗粒阵列的制造方法

    公开(公告)号:KR1020060086513A

    公开(公告)日:2006-08-01

    申请号:KR1020050007276

    申请日:2005-01-26

    CPC classification number: B82B3/0014 G11C11/161

    Abstract: 본 발명은 단분산 입자를 마스크로 활용한 자성 금속 점 정렬 형성방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 패턴화를 요하는 금속박막 위에 구형의 단분산 입자를 배열하는 단계; 코팅된 단일막 또는 이중막을 반응성 이온 식각 조건을 조절하여 고분자 입자의 크기를 조절하는 단계; 고분자 마스크를 이용하여 아르곤 이온 식각 또는 금속을 증착하는 단계; 및 금속 패턴으로부터 마스크를 제거하는 단계를 포함하는 금속 점 정렬의 형성방법에 관한 것이다.
    본 발명은 종래 광식각 공정으로는 구현하기 어려운 100nm 이하의 미세패턴화가 가능하고, 간단한 공정에 의해 다양한 크기와 모양의 금속패턴을 형성할 수 있으며, 미리 원하는 성질의 자성금속을 증착하므로 자성금속의 선택이 자유롭고, 마스크의 크기 및 모양 조절함에 따라서 원하는 금속패턴의 제조가 가능하다.
    또한 본 발명에 의한 나노 패턴은 새로운 나노패턴의 형성을 위한 마스크, 반도체 메모리의 기억소자를 위한 마스크, 촉매의 패턴화된 기저 물질, 바이오센서 등의 생물소자, 반사 방지막 및 광소자 등으로 응용이 가능하다.

    박막 스트레스 측정장치 및 이를 위한 프로브의 제조방법
    10.
    发明公开
    박막 스트레스 측정장치 및 이를 위한 프로브의 제조방법 失效
    用于测量薄膜应力的装置及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020000051142A

    公开(公告)日:2000-08-16

    申请号:KR1019990001423

    申请日:1999-01-19

    CPC classification number: G01L1/24

    Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring a thin film stress and a method for manufacturing a probe therefor are provided to measure stress generated by forming a thin film on a substrate in real time with the growth of the thin film by an atom layer sensitivity for optimizing the physical property of the stress acting on the thin film and performing a quantitative test, thereby improving the reliability of the thin film. CONSTITUTION: An apparatus for measuring a thin film stress includes a light source(10), a bundle of optical fiber probes(30) including a plurality of light dissipating optical fibers(31), a plurality of light receiving optical fibers(32), and a capillary(21) to be inserted with the light dissipating and receiving optical fibers, a substrate holder(51) for fixing an end part of a substrate(50) for causing bending of the substrate by forming a thin film, an element for controlling a distance from a surface of the substrate, on which the thin film is not formed, to the probes, and a light detection element(40) for converting light from the light receiving optical fibers into electrical signals.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于测量薄膜应力的装置及其制造方法,用于测量在基板上实时形成薄膜所产生的应力,随着薄膜的生长以原子层的灵敏度优化 作用在薄膜上的应力的物理性质并进行定量测试,从而提高薄膜的可靠性。 一种用于测量薄膜应力的装置,包括光源(10),包括多个光散射光纤(31)的光纤探针束(30),多个光接收光纤(32), 和用于散射和接收光纤的毛细管(21),用于固定用于通过形成薄膜而使基板弯曲的基板(50)的端部的基板保持件(51),用于 控制从其上没有形成薄膜的基板的表面到探针的距离,以及用于将来自光接收光纤的光转换成电信号的光检测元件(40)。

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