프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법
    1.
    发明授权
    프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법 失效
    可编程抗火花装置制造方法

    公开(公告)号:KR100146554B1

    公开(公告)日:1998-11-02

    申请号:KR1019950009260

    申请日:1995-04-19

    Abstract: 본 발명은 프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 특히 캐패시터 형태의 구성을 가진 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.
    본 발명에 따른 프로그램 가능 안티퓨즈 소자는 , p형 실리콘 기판과; 상기 p형 실리콘 기판 위에 형성되며, 티타늄 텅스텐으로 된 의사 전극층과; 상기 의사 전극층의 일측 위에 형성되며, 티타늄 텅스텐/실리콘을 함유한 알루미늄/티타늄 텅스텐의 다층 금속막으로 된 제1전극층과; 상기 의사 전극층의 타측 위에 형성되며, 박막의 티타늄 산화막과 실리콘 산화막으로 된 절연층과; 상기 절연층 위에 형성되며, 티타늄 텅스텐/실리콘을 함유한 알루미늄/티타늄 텅스텐의 다층 금속막으로 된 제2전극층으로 구성되며, 절연층인 티타늄 산화막의 두께를 열처리시의 공정조건(시간 및 온도)을 변화하여 조절함으로써 프로그램 전압의 재현성과 제어성을 실현하도록 한 것이다.

    프로그램가능 통로배열(FPGA) 소자 제조방법
    2.
    发明授权
    프로그램가능 통로배열(FPGA) 소자 제조방법 失效
    现场可编程门阵列(FPGA)器件的制造方法

    公开(公告)号:KR100122438B1

    公开(公告)日:1997-11-12

    申请号:KR1019930026794

    申请日:1993-12-08

    Abstract: A fabrication method of FPGA is provided to improve reliability of filament formed in insulator between inter-metal layers. The method comprises the steps of: sequentially forming an W layer(6), TiW layer(10) for barrier metal, a silicon oxide(11), a silicon nitride(8), and an Al metal(12) for mask on a silicon substrate(9); defining a filament region and selective etching the Al metal(12); etching the silicon nitride(8) to form pillar; depositing a nitride layer(14); and forming a TiW pattern(15) and an Al pattern(7) to concentrate a programable region due to the differences of inter-metal insulators. Thereby, it is possible to easily control the structure of filament region.

    Abstract translation: 提供FPGA的制造方法,以提高金属间绝缘体中形成的灯丝的可靠性。 该方法包括以下步骤:顺序地形成W层(6),用于阻挡金属的TiW层(10),氧化硅(11),氮化硅(8)和用于掩模的Al金属(12) 硅基板(9); 限定长丝区域和选择性蚀刻Al金属(12); 蚀刻氮化硅(8)以形成柱; 沉积氮化物层(14); 以及由于金属间绝缘体的差异而形成TiW图案(15)和Al图案(7)以集中可编程区域。 由此,可以容易地控制灯丝区域的结构。

    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법
    3.
    发明授权
    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법 失效
    单片微波集成电路基板及其形成方法

    公开(公告)号:KR100160542B1

    公开(公告)日:1999-02-01

    申请号:KR1019940034390

    申请日:1994-12-15

    CPC classification number: H01L21/76264 H01L21/7627 H01L21/76283 Y10S438/96

    Abstract: 고주파수 대역(800㎒~10㎓)의 모노리틱마이크로웨이브 집적회로(MIC)의 제작을 가능하게 하는 실리콘 기판의 구조 및 그 제조방법이 개시된다.
    활성영역의 양측면에 그리고 실리콘 반도체 기판(40) 위에는 두개의 트렌치가 형성되고, 두 트렌치 각각의 내에는 900Å 정도의 산화막(47), 4000Å 정도의 저온 산화막(48), 2000Å 정도의 실리콘 산화막(49)이 형성되며 그 내부에는 산화막(50)이 채워진다.
    두 트렌치의 외측의 비활성영역에도 다공질실리콘 산화층이 형성된다.
    이런 구조의 실리콘 기판을 MMIC의 제작에 적용하면 제품의 생산성을 높이고 원가를 절감할 수 있게 된다.

    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법
    4.
    发明授权
    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법 失效
    单片微波集成电路基板及其形成方法

    公开(公告)号:KR100146659B1

    公开(公告)日:1998-08-01

    申请号:KR1019940034389

    申请日:1994-12-15

    Abstract: 고주파수 대역(800MHz~10GHz)의 모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로(MMIC)의 제작을 가능하게 하는 실리콘 기판이 구조 및 그 제조방법이 개시된다. 실리콘 반도체 기판(41)의 양측으로부터 두 트렌치 각각으로 까지의 사이에는, 적어도 30㎛ 이상의 두께로 형성된 다공질 실리콘 산화막(60)이 형성되어 있다. 실리콘 산화막(48)과 실리콘 질화막(49)은 다공질 실리콘층의 형성시 반드시 발생되는 실리콘 반도체 기판(41)으로의 응력을 충분히 감소시킬 수 있을 정도의 두께로 각각 형성된다. 본 발명에 따른 실리콘 기판을 MMIC의 제작에 적용하면 제품의 생산성을 높이고 원가를 절감할 수 있게 된다.

    프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법
    5.
    发明公开
    프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법 失效
    可编程反熔丝元件及其制造方法

    公开(公告)号:KR1019960039297A

    公开(公告)日:1996-11-25

    申请号:KR1019950009260

    申请日:1995-04-19

    Abstract: 본 발명은 프로그램 가능 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 특히 캐패시터 형태의 구성을 가진 안티퓨즈 소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.
    본 발명에 따른 프로그램 가능 안티퓨즈 소자는, p형 실리콘 기판과; 상기 p형 실리콘 기판 위에 형성되며, 티타늄 텅스텐으로 된 의사 전극층과; 상기 의사 전극층의 일측 위에 형성되며, 티타늄텅스텐/실리콘을 함유한 알루미늄/티타늄 텅스텐의 다층 금속막으로 된 제1전극층과; 상기 의사 전극층의 타측 위에 형성되며, 박막의 티타늄 산화막과 실리콘 산화막으로 된 절연층과; 상기 절연층 위에 형성되며, 티타늄텅스텐/실리콘을 함유한 알루미늄/티타늄 텅스텐의 다층 금속막으로 된 제2전극층으로 구성되며, 절연층인 티타늄 산화막의 두께를 열처리시의 공정조건(시간 및 온도)을 변화하여 조절함으로써 프로그램 전압의 재현성과 제어성을 실현하도록 한다.

    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법

    公开(公告)号:KR1019960026114A

    公开(公告)日:1996-07-22

    申请号:KR1019940034390

    申请日:1994-12-15

    Abstract: 고주파수 대역(800MHz~10GHz)의 모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로(MMIC)의 제작을 가능하게 하는 실리콘 기판의 구조 및 그 제조방법이 개시된다.
    활성 영역의 양측면에 그리고 실리콘 반도체 기판(40) 위에는 두개의 트렌치가 형성되고, 두 트렌치 각각의 내에는 900Å 정도의 산화막(47), 4000Å 정도의 저온 산화막(48), 2000Å 정도의 실리콘 질화막(49)이 형성되며 그 내부에는 산화막(50)이 채원진다.
    두 트렌치 외측의 비활성 영역에도 다공질 실리콘 산화층이 형성된다. 이런 구조의 실리콘 기판을 MMIC의 제작에 적용하면 제품의 생산성을 높이고 원가를 절감할 수 있게 된다.

    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법
    7.
    发明公开
    모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로용 기판 및 그 제조방법 失效
    用于单片微波集成电路的衬底及其制造方法

    公开(公告)号:KR1019960026920A

    公开(公告)日:1996-07-22

    申请号:KR1019940034389

    申请日:1994-12-15

    Abstract: 고주파수 대역(800㎒~10㎓)의 모노리틱 마이크로 웨이브 집적회로(MMIC)의 제작을 가능하게 하는 실리콘 기판의 구조 및 그 제조방법이 개시된다.실리콘 반도체 기판(41)의 양측으로부터 두 트렌치 각각으로 까지의 사이에는, 적어도 30㎛ 이상의 두께로 형성된 다공질 실리콘 산화막(60)이 형성되어 있다.
    실리콘 산화막(48)과 실리콘 질화막(49)은 다공질 실리콘 층의 형성시 반드시 발생되는 실리콘 반도체 기판(41)으로의 응력을 충분히 감소시킬 수 있을 정도의 두께로 각각 형성된다.
    본 발명에 따른 실리콘 기판을 MMIC의 제작에 적용하면 제품의 생산성을 높이고 원가를 절감할 수 있게 된다.

Patent Agency Ranking