公开(公告)号：DE112018005501T5

公开(公告)日：2020-07-09

申请号：DE112018005501

申请日：2018-09-07

Applicant: IBM

Inventor： SIU VINCE ,  LU MINHUA ,  COLGAN EVAN ,  BUDD RUSSELL ,  KNICKERBOCKER JOHN

IPC: G01N21/00

Abstract: Es wird eine tauchfeste Sensoreinheit, die als kleines Pellet gestaltet ist, zum Prüfen von biologischen und anderen flüssigen Proben bereitgestellt. Bei einer Erscheinungsform weist die Sensoreinheit auf: ein Gehäuse; und einen oder mehrere Sensoren, die in dem Gehäuse enthalten sind, wobei das Gehäuse die Sensoren hermetisch abdichtet, so dass die Sensoreinheit völlig tauchfest in einem flüssigen Analyten ist. Ferner werden ein Verfahren und ein System zur Analyse einer flüssigen Probe unter Verwendung der vorliegenden Sensoreinheit bereitgestellt.

公开(公告)号：DE112019001825B4

公开(公告)日：2022-02-03

申请号：DE112019001825

申请日：2019-05-17

Applicant: IBM

Inventor： LU MINHUA ,  SIU VINCE ,  BUDD RUSSELL ,  COLGAN EVAN ,  KNICKERBOCKER JOHN

IPC: G01N21/80

Abstract: Verfahren, das aufweist:Beleuchten eines mit einer Probe benetzten Teststreifens mit ausgewählten Spektren des Lichts, wobei der Teststreifen Test-Pads aufweist, die so konfiguriert sind, dass sich bei Vorhandensein eines Analyten in der Probe die Farbe ändert;Gewinnen zumindest eines digitalen Bilds des Teststreifens; undAnalysieren der Farbintensität aus dem zumindest einen digitalen Bild in Abhängigkeit von Kalibrierungskurven, um eine Analyt-Konzentration in der Probe unter Korrektur in Bezug auf eine oder mehrere beeinflussende Substanzen in der Probe zu bestimmen, die sich auf die Farbintensität auswirken, wobei das Verfahren ferner aufweist:Gewinnen zumindest eines digitalen Bilds von Kalibrierungs-Pads, wobei die Kalibrierungs-Pads Farbreferenzstellen aufweisen, die eine Reihenskala von schwarzen, weißen, roten, grünen und blauen Farben mit bekannter Chromatizität bilden;Analysieren einer Farbe der Farbreferenzstellen aus dem zumindest einen digitalen Bild der Kalibrierungs-Pads durch i) Aufspalten des zumindest einen digitalen Bilds der Kalibrierungs-Pads in die Kanäle seiner Komponenten Rot, Grün und Blau (RGB) und ii) Messen einer Intensität von jedem der RGB-Kanäle;Gewinnen von graphischen Darstellungen der Intensität von jedem der RGB-Kanäle in Abhängigkeit von der bekannten Chromatizität der Farbreferenzstellen; undSpeichern der graphischen Darstellungen.

公开(公告)号：DE112019001825T5

公开(公告)日：2020-12-24

申请号：DE112019001825

申请日：2019-05-17

Applicant: IBM

Inventor： LU MINHUA ,  SIU VINCE ,  BUDD RUSSELL ,  COLGAN EVAN ,  KNICKERBOCKER JOHN

IPC: G01N21/80

Abstract: Es werden Techniken für ein Teststreifen-Analyse- und Teststreifen-Lesesystem auf Grundlage der Kolorimetrie bereitgestellt. Bei einem Aspekt weist ein Verfahren der Teststreifen-Analyse Folgendes auf: Beleuchten eines mit einer Probe benetzten Teststreifens mit ausgewählten Spektren des Lichts, wobei der Teststreifen Test-Pads aufweist, die so konfiguriert sind, dass sich bei Vorhandensein eines Analyten in der Probe die Farbe ändert; Gewinnen zumindest eines digitalen Bilds des Teststreifens; und Analysieren der Farbintensität aus dem zumindest einen digitalen Bild in Abhängigkeit von Kalibrierungskurven, um eine Analyt-Konzentration in der Probe unter Korrektur in Bezug auf eine oder mehrere beeinflussende Substanzen in der Probe zu bestimmen, die sich auf die Farbintensität auswirken. Außerdem wird ein Kalibrierungsverfahren sowie eine Lesegerät-Einheit bereitgestellt.

公开(公告)号：DE102016205173A1

公开(公告)日：2016-10-06

申请号：DE102016205173

申请日：2016-03-30

Applicant: IBM

Inventor： BUDD RUSSELL ,  LEOBANDUNG EFFENDI ,  LI NING ,  PLOUCHART JEAN-OLIVIER ,  SADANA DEVENDRA

IPC: H01L31/18 ,  H01L27/12 ,  H01L31/173 ,  H01S5/026

Abstract: Ein Verfahren zum Ausbilden monolithisch integrierter III-V-Optoelektronik mit einem komplementären Metalloxid-Silizium-Halbleiter-(CMOS, Complementary Metal-Oxide-Semiconductor-)Bauelement. Das Verfahren kann aufweisen: das Ausbilden eines versenkten Wellenleiters in einer versenkten Oxid-(BOX)-Schicht eines Halbleiter-auf-Isolator-(SOI-)Substrats; ein Ausbilden eines ersten optoelektronischen Bauelements und eines zweiten optoelektronischen Bauelements angrenzend an den versenkten Wellenleiter; und ein Ausbilden eines CMOS-Bauelements auf einer Halbleiterschicht über der BOX-Schicht.