公开(公告)号：WO2011064372A3

公开(公告)日：2011-08-11

申请号：PCT/EP2010068435

申请日：2010-11-29

Applicant: IBM ,  IBM UK ,  ROSSNAGEL STEPHEN ,  CABRAL JR CYRIL ,  MURRAY CONAL EUGENE ,  WISNIERFF ROBERT LUKE ,  KOESTER STEVEN JOHN ,  RODBELL KENNETH PARKER ,  GORDON MICHAEL ,  YAU JENG-BANG

Inventor： ROSSNAGEL STEPHEN ,  CABRAL JR CYRIL ,  MURRAY CONAL EUGENE ,  WISNIERFF ROBERT LUKE ,  KOESTER STEVEN JOHN ,  RODBELL KENNETH PARKER ,  GORDON MICHAEL ,  YAU JENG-BANG

IPC: G01T1/02

CPC classification number: G01T1/026

Abstract: A system for determining an amount of radiation includes a dosimeter configured to receive the amount of radiation, the dosimeter comprising a circuit having a resonant frequency, such that the resonant frequency of the circuit changes according to the amount of radiation received by the dosimeter, the dosimeter further configured to absorb RF energy at the resonant frequency of the circuit; a radio frequency (RF) transmitter configured to transmit the RF energy at the resonant frequency to the dosimeter; and a receiver configured to determine the resonant frequency of the dosimeter based on the absorbed RF energy, wherein the amount of radiation is determined based on the resonant frequency.

Abstract translation: 用于确定辐射量的系统包括配置成接收辐射量的剂量计，剂量计包括具有谐振频率的电路，使得电路的谐振频率根据剂量计接收的辐射量而变化， 剂量计进一步被配置为吸收电路的谐振频率处的RF能量; 射频（RF）发射器，其被配置为将所述谐振频率处的所述RF能量发射到所述剂量计; 以及接收器，被配置为基于吸收的RF能量确定剂量计的谐振频率，其中基于谐振频率确定辐射量。

公开(公告)号：GB2494231A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：GB201208932

申请日：2012-05-21

Applicant: IBM

Inventor： YAU JENG-BANG ,  GORDON MICHAEL ,  RODBELL KENNETH PARKER

IPC: H01L31/18 ,  G01T1/02 ,  H01L31/112

Abstract: An implantation mask 204 is formed on a SOI or bulk silicon substrate such that a first portion of the substrate is located under the implant mask and a second portion of the substrate is exposed to oxygen ion implantation 301, forming charge/hole traps 302 in a buried oxygen layer (BOX) 202 or in the bulk silicon layer only in the un-masked portion of the substrate. After the mask is removed, FETs formed on the first portion of the substrate may be CMOS devices. FETs formed on the second portion of the substrate exhibit enhanced radiation sensitivity on account of the enhanced BOX layer (Fig. 4; 401) and can function as an on-chip semiconductor dosimeter to monitor the radiation exposure history of other devices on the substrate. After the oxygen ion implantation step, the mask may be further patterned and a second ion implantation step may be performed to give an area within the first portion of the substrate which comprises a BOX layer with an intermediate density of hole traps (Fig. 6; 604) so that FETs with intermediate radiation sensitivity can be fabricated. Multiple dosimeters may be formed, and different filter layers can correspond to different radiation types, for example a cover formed over an on-chip FDSOI dosimeter can prevent the dosimeter from detecting alpha-particles, or a filter can attenuate low energy x-rays but pass high energy gamma rays.

公开(公告)号：DE112020004921T5

公开(公告)日：2022-08-04

申请号：DE112020004921

申请日：2020-11-30

Applicant: IBM

Inventor： KOZLOSKI JAMES ,  RAKSHIT SARBAJIT ,  GORDON MICHAEL ,  WELDEMARIAM KOMMINIST

IPC: G06V20/40 ,  G06N7/00 ,  G06T19/00

Abstract: Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung beschreiben vorausschauend ein Rekonstruieren eines physischen Ereignisses unter Verwendung von erweiterter Realität. Ausführungsformen beschreiben ein Erkennen relativer Zustände von Objekten, die sich in einem Bereich eines physischen Ereignisses befinden, unter Verwendung von Videoanalyse, um gesammelte Video-Feeds aus dem Bereich des physischen Ereignisses vor und nach einem physischen Ereignis zu analysieren, an dem mindestens eines der Objekte beteiligt ist, ein Erstellen eines Wissenskorpus, das die Videoanalyse und die gesammelten Video-Feeds umfasst, die dem physischen Ereignis und Verlaufsinformationen zugehörig sind, und ein Erfassen von Daten, durch die Datenverarbeitungseinheit, des Bereichs des physischen Ereignisses. Darüber hinaus beschreiben Ausführungsformen ein Erkennen möglicher Vorereignisse auf der Grundlage der erfassten Daten und des Wissenskorpus und ein Erzeugen einer virtuellen Rekonstruktion des physischen Ereignisses unter Verwendung der möglichen Vorereignisse, ein Anzeigen, durch die Datenverarbeitungseinheit, der erzeugten virtuellen Rekonstruktion des vorhergesagten physischen Ereignisses, wobei die angezeigte virtuelle Rekonstruktion des vorhergesagten physischen Ereignisses ein Bild des Bereichs des physischen Ereignisses überlagert.

公开(公告)号：DE112018003454T5

公开(公告)日：2020-04-09

申请号：DE112018003454

申请日：2018-06-18

Applicant: IBM

Inventor： MASSEY JOHN GREG ,  GORDON MICHAEL ,  RODBELL KENNETH

IPC: H01J35/08

Abstract: Bereitgestellt wird ein Bestrahlungssystem mit einer Strahlenquelle. Das System beinhaltet ferner einen zwischen der Strahlenquelle und einem zu bestrahlenden Objekt positionierten Abschwächer mit variabler Dicke, um für einen aus der Strahlenquelle auf das Objekt emittierten Strahl variierende Abschwächungsgrade bereitzustellen. Das System beinhaltet zudem einen zwischen dem Abschwächer mit variabler Dicke und dem Objekt positionierten Satz Erfassungseinrichtungen, um nur einen nach der Abschwächung des Strahls durch den Abschwächer mit variabler Dicke verbleibenden Teil des Strahls zu empfangen und zu messen.