VORRICHTUNG ZUM KALIBRIEREN EINES ZEITVERSCHACHTELTEN ANALOG-ZU-DIGITAL-WANDLERS

    公开(公告)号:DE102020105315A1

    公开(公告)日:2020-10-01

    申请号:DE102020105315

    申请日:2020-02-28

    Applicant: INTEL CORP

    Abstract: Eine Vorrichtung zum Kalibrieren eines zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandlers, umfassend eine Mehrzahl von zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandler-Schaltungen, wird bereitgestellt. Die Vorrichtung umfasst eine analoge Signalerzeugungsschaltung, ausgebildet zum Erzeugen eines analogen Kalibrierungssignals basierend auf einem digitalen Kalibrierungssignal, das eine oder mehrere digitale Datensequenzen zur Kalibrierung repräsentiert. Das analoge Kalibrierungssignal ist ein Breitband-Signal. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Kopplungsschaltung, die ausgebildet ist zum steuerbaren Koppeln eines Eingangsknotens des zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandlers mit entweder der analogen Signalerzeugungsschaltung oder mit einem Knoten, der in der Lage ist zum Bereitstellen eines analogen Signals zur Digitalisierung.

    ZEITVERSCHACHTELTES ANALOG-ZU-DIGITAL-WANDLER-SYSTEM

    公开(公告)号:DE112019006765T5

    公开(公告)日:2021-10-28

    申请号:DE112019006765

    申请日:2019-03-29

    Applicant: INTEL CORP

    Abstract: Ein zeitverschachteltes Analog-zu-Digital-Wandler- (ADC) System, ist bereitgestellt. Das zeitverschachtelte ADC-System umfasst eine zeitverschachtelte erste und zweite ADC-Schaltung und einen Schaltkreis. Der Schaltkreis ist ausgebildet, ein analoges Eingangssignal zur Digitalisierung an zumindest eines von der ersten ADC-Schaltung, der zweiten ADC-Schaltung oder Masse zu liefern, und das analoge Kalibriersignal selektiv an zumindest eines von der ersten ADC-Schaltung, der zweiten ADC-Schaltung oder Masse zu liefern. Ferner umfasst das zeitverschachtelte ADC-System eine Ausgangsschaltung, die ausgebildet ist zum selektiven Erzeugen, basierend auf zumindest einem von einem ersten digitalen Signal, ausgegeben durch die erste ADC-Schaltung, und einem zweiten digitalen Signal, ausgegeben durch die zweite ADC-Schaltung, eines digitalen Ausgangssignals.

    VORRICHTUNG ZUM KALIBRIEREN EINES ZEITVERSCHACHTELTEN ANALOG-ZU-DIGITAL-WANDLERS

    公开(公告)号:DE102019108175A1

    公开(公告)日:2020-10-01

    申请号:DE102019108175

    申请日:2019-03-29

    Applicant: INTEL CORP

    Abstract: Eine Vorrichtung zum Kalibrieren eines zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandlers, der eine Mehrzahl von zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandler-Schaltungen umfasst, ist bereitgestellt. Die Vorrichtung umfasst eine Takterzeugungsschaltung, die ausgebildet ist, um eine Mehrzahl von phasenverschobenen Taktsignalen für die Mehrzahl von zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandler-Schaltungen und ein Referenztaktsignal zu erzeugen. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Referenzsignalerzeugungsschaltung, die ausgebildet ist, um ein Referenzsignal basierend auf dem Referenztaktsignal zu erzeugen. Das Referenzsignal ist ein Rechtecksignal. Die Vorrichtung umfasst zusätzlich eine Kopplungsschaltung, die ausgebildet ist, um einen Eingangsknotens des zeitverschachtelten Analog-zu-Digital-Wandlers steuerbar entweder mit der Referenzsignalerzeugungsschaltung oder mit einem Signalknoten, der fähig ist, ein analoges Signal zur Digitalisierung bereitzustellen, zu koppeln.

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