公开(公告)号：WO2022248297A1

公开(公告)日：2022-12-01

申请号：PCT/EP2022/063398

申请日：2022-05-18

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： BRICK, Peter ,  WINDISCH, Reiner ,  KLAFTA, Thomas ,  GHASEMI AFSHAR, Farhang ,  HETZL, Martin ,  LANKES, Simon

IPC: G01S7/484 ,  G01S7/4911 ,  G01S17/931

Abstract: Es wird eine Strahlung emittierende Vorrichtung (100) angegeben, die auf einer sich in lateralen Richtungen (x, y) erstreckenden Montageebene (6) angeordnet ist und dazu vorgesehen ist, Licht entlang einer Abstrahlrichtung (z) abzustrahlen, wobei die Abstrahlrichtung (z) eine Richtung senkrecht zur Montageebene (6) umfasst. Die Strahlung emittierende Vorrichtung (100) weist zumindest eine Laserlichtquelle (1) auf, und ein der zumindest einen Laserlichtquelle (1) nachgeordnetes und zumindest ein Optikelement (21, 22, 23) umfassendes nichtabbildendes Optiksystem (2) zur Formung eines Strahlprofils der Strahlung emittierenden Vorrichtung (100) entlang der lateralen Richtungen (x, y). In einem Ausführungsbeispiel sind die auf einem Trägersubstrat (7) angeordnete Laserlichtquelle (1) und ein Licht reflektierende Optikelement (21), das als gekrümmte oder facettierte Reflektoroberfläche ausgebildet sein kann, auf der Montageebene (6) innerhalb eines Gehäusekörpers (5) angeordnet. Die Ebene, in der das Strahlprofil den größten Öffnungswinkel aufweist wird als schnelle Achse (13) ("fast axis") bezeichnet, während die Ebene, in der das Strahlprofil den kleinsten Öffnungswinkel aufweist als langsame Achse (14) ("slow axis") bezeichnet wird. Die Laserlichtquelle (1) kann eine kantenemittierende Laserdiode (1) oder eine vertikal emittierende Laserdiode mit horizontaler Kavität und mit integrierter Spiegelschicht aufweisen. Die Laserlichtquelle (1) kann auch eine oberflächenemittierende Laserdiode mit vertikaler Kavität (vertical cavity surface emitting laser, VCSEL) umfassen. Das Optiksystem kann ein kollimierendes Optikelement (22) und ein divergierendes Optikelement (23) aufweisen. Weiterhin werden ein Messsystem mit der Strahlung emittierenden Vorrichtung (100) und ein Fahrzeug mit dem Messsystem angegeben.

公开(公告)号：WO2021028352A1

公开(公告)日：2021-02-18

申请号：PCT/EP2020/072292

申请日：2020-08-07

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： LANKES, Simon ,  SPRENGER, Dennis

IPC: H01L33/48 ,  H01L33/50 ,  H01L33/44 ,  H01L33/46

Abstract: Es wird ein optoelektronisches Bauelement (1) angegeben, das zumindest einen Halbleiteremitter (10) umfasst, der einen zur Emission von elektromagnetischer Strahlung eines ersten Wellenlängenbereichs eingerichteten aktiven Bereich (100) aufweist. Ferner umfasst das optoelektronische Bauelement (1) zumindest eine Wellenlängenkonversionsplatte (20), die eine Auskoppelfläche (20A) und eine seitlich zu dieser angeordnete quer zu dieser ausgerichtete Seitenfläche (20B) aufweist, und einen Träger (30), auf dem der Halbleiteremitter (10) und die Wellenlängenkonversionsplatte (20) angeordnet sind. Die Auskoppelfläche (20A) ist von dem Träger (30) abgewandt. Der Halbleiteremitter (10) ist dazu eingerichtet, die Wellenlängenkonversionsplatte (20) an der Seitenfläche (20B) mit elektromagnetischer Strahlung zu bestrahlen. Die Wellenlängenkonversionsplatte (20) ist dazu eingerichtet eine Mischstrahlung, umfassend zumindest einen Teil der Strahlung des ersten Wellenlängenbereichs und eine konvertierte Strahlung eines zweiten Wellenlängenbereichs, aus der Auskoppelfläche (20A) zu emittieren.

公开(公告)号：WO2022029292A2

公开(公告)日：2022-02-10

申请号：PCT/EP2021/072011

申请日：2021-08-06

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： WINDISCH, Reiner ,  LANKES, Simon

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J3/12 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/1226 ,  G01J2003/2806 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803

Abstract: Die Erfindung betrifft einen Detektor zur Spektroskopie im Nahbereich eines Messobjektes mit einem Gehäuse (10) mit wenigstens einer Apertur (21) zum Zuführen eines von dem Messobjekt reflektierten oder abgestrahlten Lichtbündels, wobei das Gehäuse das wenigstens eine Querschnittsebene aufweist, in der die wenigstens eine Apertur eine erste und eine zweite nicht zusammenhängende Schnittfläche aufweist. Eine Detektoranordnung zum wellenlängen- und winkelabhängigen Detektieren von Licht, ist in dem Gehäuse (10) lateral beabstandet von der wenigstens einen Apertur (21) angeordnet. Der Detektor umfasst ein erstes und ein zweites einer Detektorfläche gegenüberliegendes Reflektorelement (15) in dem Gehäuse. Das erste Reflektorelement ist (13) in einem Strahlengang der wenigstens einen Apertur (21) angeordnet und lenkt ein durch die wenigstens eine Apertur einfallendes Lichtbündel auf das zweite Reflektorelement lenkt, das ausgestaltet ist, ein einfallendes Lichtbündel auf die Detektorfläche zu lenken.