Optoelektronischer Halbleiterchip

    公开(公告)号:DE102017112099A1

    公开(公告)日:2018-12-06

    申请号:DE102017112099

    申请日:2017-06-01

    Abstract: Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (100) mit einer Halbleiterschichtenfolge (10) beschrieben, die auf einem Phosphid-Verbindungshalbleitermaterial oder Arsenid-Verbindungshalbleitermaterial basiert, wobei die Halbleiterschichtenfolge (10) einen p-Typ Halbleiterbereich (4), einen n-Typ Halbleiterbereich (2) und eine zwischen dem p-Typ Halbleiterbereich (4) und dem n-Typ Halbleiterbereich (2) angeordnete aktive Schicht (3) enthält,wobei eine n-dotierte Halbleiterschicht (21) des n-Typ Halbleiterbereichs (2) an einer von der aktiven Schicht (3) abgewandten Seite an eine p-dotierte Halbleiterschicht (11) angrenzt, wobei die n-dotierte Halbleiterschicht (21) und die p-dotierte Halbleiterschicht (11) einen Tunnelübergang (13) ausbilden, und wobei die p-dotierte Halbleiterschicht (11) an eine elektrische Kontaktschicht (12) angrenzt, die ein transparentes leitfähiges Oxid aufweist.

    Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips

    公开(公告)号:DE102017125821A1

    公开(公告)日:2019-05-09

    申请号:DE102017125821

    申请日:2017-11-06

    Abstract: Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (10) angegeben mit einem p-dotierten Bereich (11), einem aktiven Bereich (12), welcher dazu ausgelegt ist im Betrieb des optoelektronischen Halbleiterchips (10) elektromagnetische Strahlung zu emittieren und welcher eine Haupterstreckungsebene aufweist, einem n-dotierten Bereich (13), und einem Barrieren-Bereich (14). Der aktive Bereich (12) ist in einer vertikalen Richtung (z) zwischen dem p-dotierten Bereich (11) und dem n-dotierten Bereich (13) angeordnet, wobei die vertikale Richtung (z) senkrecht zur Haupterstreckungsebene des aktiven Bereichs (12) ist, und der aktive Bereich (12) basiert auf einer III-V Halbleiterverbindung. Der Barrieren-Bereich (14) erstreckt sich parallel zum aktiven Bereich (12), der Barrieren-Bereich (14) weist Gallium auf, und der Barrieren-Bereich (14) ist dazu ausgelegt das Eindringen von Defekten in den aktiven Bereich (12) zu hemmen. Außerdem wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips (10) angegeben.

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