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公开(公告)号:DE102017117650A1
公开(公告)日:2019-02-07
申请号:DE102017117650
申请日:2017-08-03
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: SCHMID WOLFGANG , BRÖLL MARKUS
Abstract: Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Kontaktstruktur für ein optoelektronisches Halbleiterbauelement angegeben, umfassend die Schritte:a) Bereitstellen eines Aufwachssubstrats mit einem darauf aufgewachsenen Halbleiterkörper, der einen ersten und zweiten Bereich, und einen aktiven Bereich aufweist,b) Erzeugen einer ersten Aussparung, die sich ausgehend vom zweiten Bereich vollständig durch den aktiven Bereich bis in den ersten Bereich erstreckt und den ersten Bereich nicht vollständig durchdringt,c) Einbringen eines ersten elektrisch leitfähigen Kontaktmaterials in die erste Aussparung,d) Befestigen des Halbleiterkörpers mit der dem Aufwachssubstrat abgewandten Seite auf einem Trägersubstrat, und Ablösen des Aufwachssubstrats vom Halbleiterkörper,e) Erzeugen einer zweiten Aussparung, die sich ausgehend vom ersten Bereich bis zur ersten Aussparung erstreckt, so dass die erste Aussparung und die zweite Aussparung eine Durchführung durch den Halbleiterkörper bilden,f) Einbringen eines zweiten elektrisch leitfähigen Kontaktmaterials in die zweite Aussparung derart, dass das erste und das zweite Kontaktmaterial eine elektrisch leitfähige Kontaktstruktur durch den Halbleiterkörper bilden.Weiterhin wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement mit einer Kontaktstruktur angegeben.
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公开(公告)号:DE102015111046A1
公开(公告)日:2017-01-12
申请号:DE102015111046
申请日:2015-07-08
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: KREUTER PHILIPP , BRÖLL MARKUS , MÜLLER JENS
Abstract: In mindestens einer Ausführungsform umfasst der optoelektronische Halbleiterchip (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2). Die Halbleiterschichtenfolge (2) weist eine erste Seite (21) und eine zweite Seite (23, 24) sowie eine dazwischen liegende aktive Zone (22) auf. Die beiden Seiten zeigen unterschiedliche Leitfähigkeitstypen auf. Von der ersten Seite (21) her durch die aktive Zone (22) hindurch ist die zweite Seite (23, 24) mit einer elektrischen Durchkontaktierung (3) kontaktiert. Die Durchkontaktierung (3) beinhaltet einen Basisbereich (31), der als Zylinder, Kegelstumpf oder Pyramidenstumpf geformt ist und der in lateraler Richtung, senkrecht zu einer Wachstumsrichtung (G) der Halbleiterschichtenfolge (2), ringsum von einer elektrischen Isolationsschicht (32) umgeben ist. Die Durchkontaktierung (3) weist einen Kontaktbereich (33) auf, der als Kegelstumpf oder Pyramidenstumpf oder sphärischer oder asphärischer Körper geformt ist und der entlang der Wachstumsrichtung (G) dem Basisbereich (31) unmittelbar nachfolgt sowie in direktem Kontakt mit der zweiten Seite (23, 24) steht. Ein erster Flankenwinkel (a) des Basisbereichs (31) ist anders als ein zweiter Flankenwinkel (b) des Kontaktbereichs (33).
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公开(公告)号:DE102013022696B4
公开(公告)日:2025-02-20
申请号:DE102013022696
申请日:2013-05-14
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: BRÖLL MARKUS , KLEMP CHRISTOPH , SCHMID WOLFGANG
Abstract: Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements (10) mit den folgenden Schritten:- Bereitstellen eines Halbleiterkristalls (100), der eine Oberfläche (110) aufweist;- Aufbringen einer ersten Schicht (200), die ein Dielektrikum aufweist, auf die Oberfläche (110);- Aufbringen und Strukturieren einer Fotolackschicht (300) auf der ersten Schicht (200), wobei die Fotolackschicht (300) so strukturiert wird, dass sie eine Öffnung (310) aufweist;- Teilweises Herauslösen der ersten Schicht, um einen ersten und einen zweiten lateralen Bereich (120, 121, 122) der Oberfläche (110) freizulegen, wobei in einem dritten lateralen Bereich (11) die erste Schicht (200) auf der Oberfläche angeordnet ist, wobei die Fotolackschicht (300) während des Herauslösens der ersten Schicht (200) teilweise unterätzt wird;- Aufbringen einer Kontaktfläche (410), die ein erstes Metall aufweist, im ersten lateralen Bereich (121) der Oberfläche (110);- Entfernen der Fotolackschicht (300);- Aufbringen einer zweiten Schicht (500), die ein optisch transparentes, elektrisch leitfähiges Material aufweist, auf die Kontaktfläche (410) und den zweiten lateralen Bereich (120, 122) der Oberfläche (110);- Aufbringen einer dritten Schicht (600), die ein zweites Metall aufweist, auf die zweite Schicht (500).
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公开(公告)号:DE112018000553A5
公开(公告)日:2019-10-10
申请号:DE112018000553
申请日:2018-01-23
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: WANG XUE , BRÖLL MARKUS
IPC: H01L33/30
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公开(公告)号:DE102013105035A1
公开(公告)日:2014-11-20
申请号:DE102013105035
申请日:2013-05-16
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: SCHMID CHRISTIAN , GROSSER JULIA , FLÖTER RICHARD , BRÖLL MARKUS
Abstract: Ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Halbleiterchips umfasst Schritte zum Bereitstellen eines Substrats, zum Abscheiden einer Opferschicht, zum Abscheiden einer funktionellen Halbleiterschichtenfolge, zum lateralen Strukturieren der funktionellen Halbleiterschichtenfolge und zum Oxidieren der Opferschicht in einem feuchtthermischen Oxidationsprozess.
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公开(公告)号:DE102018101700A1
公开(公告)日:2019-07-25
申请号:DE102018101700
申请日:2018-01-25
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: HOLLAND BRENDAN , BRÖLL MARKUS
IPC: H01L33/44 , H01L31/0216
Abstract: Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement (1) mit einer Halbleiterschichtenfolge (10) mit einem ersten Bereich (101) eines ersten Leitungstyps, einer Reflexionsschicht (140) einer zwischen der Halbleiterschichtenfolge (10) und der Reflexionsschicht (140) angeordneten Passivierungsschicht (120) angegeben. Ferner umfasst das optoelektronische Halbleiterbauelement (1) eine erste Barriereschicht (131), die zwischen dem ersten Bereich (101) der Halbleiterschichtenfolge (10) und der Passivierungsschicht (120) angeordnet ist, und/oder eine zweite Barriereschicht (132), die zwischen der Reflexionsschicht (140) und der Passivierungsschicht (120) angeordnet ist. Die erste Barriereschicht (131) vermindert oder unterbindet eine Diffusion von Kontaminanten aus der Passivierungsschicht (120) in die Halbleiterschichtenfolge (10)und die zweite Barriereschicht (132) vermindert oder unterbindet eine Diffusion von Kontaminanten aus der Passivierungsschicht (120) in die Reflexionsschicht (140).
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公开(公告)号:DE102017112099A1
公开(公告)日:2018-12-06
申请号:DE102017112099
申请日:2017-06-01
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: WANG XUE , BRÖLL MARKUS , WERNER KATHARINA , SUNDGREN PETRUS
Abstract: Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (100) mit einer Halbleiterschichtenfolge (10) beschrieben, die auf einem Phosphid-Verbindungshalbleitermaterial oder Arsenid-Verbindungshalbleitermaterial basiert, wobei die Halbleiterschichtenfolge (10) einen p-Typ Halbleiterbereich (4), einen n-Typ Halbleiterbereich (2) und eine zwischen dem p-Typ Halbleiterbereich (4) und dem n-Typ Halbleiterbereich (2) angeordnete aktive Schicht (3) enthält,wobei eine n-dotierte Halbleiterschicht (21) des n-Typ Halbleiterbereichs (2) an einer von der aktiven Schicht (3) abgewandten Seite an eine p-dotierte Halbleiterschicht (11) angrenzt, wobei die n-dotierte Halbleiterschicht (21) und die p-dotierte Halbleiterschicht (11) einen Tunnelübergang (13) ausbilden, und wobei die p-dotierte Halbleiterschicht (11) an eine elektrische Kontaktschicht (12) angrenzt, die ein transparentes leitfähiges Oxid aufweist.
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公开(公告)号:DE102017101637A1
公开(公告)日:2018-08-02
申请号:DE102017101637
申请日:2017-01-27
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: WANG XUE , BRÖLL MARKUS
Abstract: Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (20) beschrieben, umfassend eine Halbleiterschichtenfolge (10), die ein Phosphid-Verbindungshalbleitermaterial aufweist, wobei die Halbleiterschichtenfolge (10) einen p-Typ Halbleiterbereich (4) einen n-Typ Halbleiterbereich (2), und eine zwischen dem p-Typ Halbleiterbereich (4) und dem n-Typ Halbleiterbereich (2) angeordnete aktive Schicht (3) enthält. Weiterhin umfass der optoelektronische Halbleiterchip eine an den p-Typ Halbleiterbereich (4) angrenzende Stromaufweitungsschicht (8), die ein transparentes leitfähiges Oxid aufweist, und eine metallische p-Anschlussschicht (12), die zumindest bereichsweise an die Stromaufweitungsschicht (8) angrenzt. Der p-Typ Halbleiterbereich (4) weist eine p-Kontaktschicht (7) auf, die an die Stromaufweitungsschicht (8) angrenzt. Die p-Kontaktschicht (7) weist mit C dotiertes GaP auf, wobei die C-Dotierstoffkonzentration mindestens 5 * 10cmbeträgt, und wobei die p-Kontaktschicht (7) weniger als 100 nm dick ist.
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9.
公开(公告)号:DE102012217539A1
公开(公告)日:2014-05-15
申请号:DE102012217539
申请日:2012-09-27
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: BEHRINGER MARTIN RUDOLF , KLEMP CHRISTOPH , BRÖLL MARKUS
IPC: H01L23/544 , H01L29/04 , H01L33/02 , H01L33/44
Abstract: Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Bauteil (101, 301, 501), umfassend ein Substrat (103, 303, 503), auf welchem eine Halbleiterschichtenfolge (105, 305, 505) aufgebracht ist, wobei die Halbleiterschichtenfolge (105, 305, 505) zumindest einen Identifikator (115, 315) zum Identifizieren des Bauteils (101, 301, 501) aufweist. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauteils (101, 301, 501).
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公开(公告)号:DE102018115594A1
公开(公告)日:2020-01-02
申请号:DE102018115594
申请日:2018-06-28
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: MICHAELIS BENJAMIN , BRÖLL MARKUS , WALTER ROBERT , EBERHARD FRANZ , HUBER MICHAEL , SCHMID WOLFGANG
IPC: H01L33/36 , H01L21/283 , H01L21/301 , H01L21/768 , H01L23/482 , H01L33/14
Abstract: Ein Halbleiterbauelement (10, 15) umfasst eine erste druckverspannte Schicht (130) über einem Halbleiterkörper (120). Ein Material der ersten druckverspannten Schicht (130) ist ausgewählt aus Ta, Mo, Nb oder Verbindungen aus Ta, Mo oder Nb.
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