CELLULE LOGIQUE PROTEGEE CONTRE LES ALEAS

    公开(公告)号:FR2905192A1

    公开(公告)日:2008-02-29

    申请号:FR0653444

    申请日:2006-08-24

    Abstract: L'invention concerne une cellule mémoire susceptible de mémoriser une information sous la forme d'un premier niveau logique et d'un deuxième niveau logique complémentaires l'un de l'autre, comprenant un premier moyen de stockage (MS1) et un deuxième moyen de stockage (MS2) aptes chacun à mémoriser le premier niveau logique et le deuxième niveau logique.Selon l'invention, la cellule mémoire comprend également un moyen de liaison pour, en dehors d'un accès à la cellule mémoire, isoler électriquement une entrée (E1) du premier moyen de stockage à une sortie (S2) du deuxième moyen de stockage, et / ou une entrée (E2) du deuxième moyen de stockage à une sortie (S1) du premier moyen de stockage.Application à la réalisation de mémoires de type SRAM.

    Mesure de la durée d'une impulsion

    公开(公告)号:FR3092402A1

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:FR1900935

    申请日:2019-01-31

    Abstract: Mesure de la durée d'une impulsion La présente description concerne un dispositif (1) comprenant : un premier circuit (11) comportant une première chaine d'étages (113a) identiques définissant des première et deuxième lignes à retard ; un deuxième circuit (14) comportant une deuxième chaine d'étages (113b) identiques aux étages de la première chaine, la deuxième chaine définissant des troisième et quatrième lignes à retard ; et un troisième circuit (13) reliant sélectivement la troisième ligne à retard, la quatrième ligne à retard ou une première entrée (133) du troisième circuit à une même entrée (112) du premier circuit (11). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

    Détecteur de rayons X
    3.
    发明专利

    公开(公告)号:FR3116618A1

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:FR2011963

    申请日:2020-11-20

    Abstract: Détecteur de rayons X La présente description concerne un détecteur de rayons X (20) comprenant : - un premier circuit électronique (22) comprenant un premier transistor bipolaire de type NPN (23) ; et - un deuxième circuit (26) configuré pour comparer une tension (SG) du circuit électronique à une valeur de référence (Sref) sensiblement égale à la valeur de ladite tension (SG) lorsque le premier circuit (22) a reçu une quantité seuil de rayons X. Figure pour l'abrégé : Fig. 2

    Mesure de la durée d'une impulsion

    公开(公告)号:FR3092402B1

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:FR1900935

    申请日:2019-01-31

    Abstract: Mesure de la durée d'une impulsion La présente description concerne un dispositif (1) comprenant : un premier circuit (11) comportant une première chaine d'étages (113a) identiques définissant des première et deuxième lignes à retard ; un deuxième circuit (14) comportant une deuxième chaine d'étages (113b) identiques aux étages de la première chaine, la deuxième chaine définissant des troisième et quatrième lignes à retard ; et un troisième circuit (13) reliant sélectivement la troisième ligne à retard, la quatrième ligne à retard ou une première entrée (133) du troisième circuit à une même entrée (112) du premier circuit (11). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

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