公开(公告)号：FR3092402B1

公开(公告)日：2021-10-22

申请号：FR1900935

申请日：2019-01-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS

Inventor： LECAT--MATHIEU DE BOISSAC CAPUCINE ,  ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES ,  ROCHE PHILIPPE ,  MALHERBE VICTOR

IPC: G01R29/02

Abstract: Mesure de la durée d'une impulsion La présente description concerne un dispositif (1) comprenant : un premier circuit (11) comportant une première chaine d'étages (113a) identiques définissant des première et deuxième lignes à retard ; un deuxième circuit (14) comportant une deuxième chaine d'étages (113b) identiques aux étages de la première chaine, la deuxième chaine définissant des troisième et quatrième lignes à retard ; et un troisième circuit (13) reliant sélectivement la troisième ligne à retard, la quatrième ligne à retard ou une première entrée (133) du troisième circuit à une même entrée (112) du premier circuit (11). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3055463A1

公开(公告)日：2018-03-02

申请号：FR1658080

申请日：2016-08-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS

Inventor： ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES

IPC: G11C11/412 ,  H01L23/62

Abstract: L'invention concerne un élément de mémorisation comprenant deux inverseurs CMOS (10, 11), couplés tête-bêche entre deux noeuds (52, 53) ; et un transistor MOS (51), connecté en condensateur entre lesdits noeuds (52, 53).

公开(公告)号：FR3133705B1

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：FR2202331

申请日：2022-03-17

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS

Inventor： ABOUZEID FADY ,  ROCHE PHILIPPE

IPC: H01L21/768

Abstract: Dispositif électronique Dispositif électronique (100, 200) comprenant : une première puce électronique (110) et une deuxième puce électronique (130) ; et un circuit d’interconnexion (150) comprenant une première surface (151) plane ; une première région (115) d’une première surface (116) de la première puce électronique (110) étant assemblée par collage hybride à une première région (157) de la première surface du circuit d’interconnexion (150), une première région (134) d’une première surface (133) de la deuxième puce électronique (130) étant assemblée par collage hybride à une deuxième région (154) de la première surface du circuit d’interconnexion (150) pour que la première puce électronique (110) soit reliée électriquement à la deuxième puce électronique (130) à travers le circuit d’interconnexion (150) ;la première surface de la première puce électronique (110) comprenant une deuxième région (114) qui n’est pas en contact avec le circuit d’interconnexion (150) et comprenant au moins un plot de connexion (111). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3066613B1

公开(公告)日：2019-07-19

申请号：FR1754359

申请日：2017-05-17

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS ,  UNIV AIX MARSEILLE ,  UNIV DE TOULON ,  CENTRE NAT RECH SCIENT

Inventor： COCHET MARTIN ,  SOUSSAN DIMITRI ,  ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES ,  ROCHE PHILIPPE

IPC: G01T1/02 ,  H01L31/0248

Abstract: Le dispositif de mesure de particules ionisantes comprend un module d'acquisition (4) comportant des premier et deuxième étages d'acquisition (8, 9) comportant respectivement des sensibilités différentes à des particules ionisantes absorbées par le module d'acquisition (4) et configurés pour générer respectivement des premier et deuxième signaux d'acquisition (5, 6) ayant chacun une caractéristique variable en fonction de la quantité de particules ionisantes absorbées, et un module de traitement (7) comportant un étage de mesure (10) configuré pour générer à partir des premier et deuxième signaux d'acquisition (5, 6), un paramètre relatif Nr entre lesdites caractéristiques variables et un étage de calcul (11) configuré pour calculer une dose totale ionisante (TID) en utilisant une loi polynomiale de degré 1 ou 2 en Nr.

公开(公告)号：FR3066613A1

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：FR1754359

申请日：2017-05-17

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS ,  UNIV AIX MARSEILLE ,  UNIV DE TOULON ,  CENTRE NAT RECH SCIENT

Inventor： COCHET MARTIN ,  SOUSSAN DIMITRI ,  ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES ,  ROCHE PHILIPPE

IPC: G01T1/02 ,  H01L31/0248

Abstract: Le dispositif de mesure de particules ionisantes comprend un module d'acquisition (4) comportant des premier et deuxième étages d'acquisition (8, 9) comportant respectivement des sensibilités différentes à des particules ionisantes absorbées par le module d'acquisition (4) et configurés pour générer respectivement des premier et deuxième signaux d'acquisition (5, 6) ayant chacun une caractéristique variable en fonction de la quantité de particules ionisantes absorbées, et un module de traitement (7) comportant un étage de mesure (10) configuré pour générer à partir des premier et deuxième signaux d'acquisition (5, 6), un paramètre relatif Nr entre lesdites caractéristiques variables et un étage de calcul (11) configuré pour calculer une dose totale ionisante (TID) en utilisant une loi polynomiale de degré 1 ou 2 en Nr.

公开(公告)号：FR3092402A1

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：FR1900935

申请日：2019-01-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS

Inventor： LECAT--MATHIEU DE BOISSAC CAPUCINE ,  ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES ,  ROCHE PHILIPPE ,  MALHERBE VICTOR

IPC: G01R29/02

Abstract: Mesure de la durée d'une impulsion La présente description concerne un dispositif (1) comprenant : un premier circuit (11) comportant une première chaine d'étages (113a) identiques définissant des première et deuxième lignes à retard ; un deuxième circuit (14) comportant une deuxième chaine d'étages (113b) identiques aux étages de la première chaine, la deuxième chaine définissant des troisième et quatrième lignes à retard ; et un troisième circuit (13) reliant sélectivement la troisième ligne à retard, la quatrième ligne à retard ou une première entrée (133) du troisième circuit à une même entrée (112) du premier circuit (11). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3000296B1

公开(公告)日：2015-02-27

申请号：FR1262812

申请日：2012-12-26

Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE ,  ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2

Inventor： THONNART YVAIN ,  GIRAUD BASTIEN ,  ABOUZEID FADY ,  CLERC SYLVAIN ,  NOEL JEAN-PHILIPPE

IPC: H01L27/088

公开(公告)号：FR2956516B1

公开(公告)日：2012-12-07

申请号：FR1051043

申请日：2010-02-15

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 ,  CENTRE NAT RECH SCIENT

Inventor： ABOUZEID FADY ,  CLERC SYLVAIN

IPC: G11C11/412 ,  H01L29/786

公开(公告)号：FR2951337B1

公开(公告)日：2012-06-08

申请号：FR0957053

申请日：2009-10-09

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： FIRMIN FABIAN ,  CLERC SYLVAIN ,  SCHOELLKOPF JEAN-PIERRE ,  ABOUZEID FADY

IPC: H03K3/3562

公开(公告)号：FR3003996A1

公开(公告)日：2014-10-03

申请号：FR1352849

申请日：2013-03-28

Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE ,  ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2

Inventor： CLERC SYLVAIN ,  ABOUZEID FADY ,  GIRAUD BASTIEN ,  NOEL JEAN-PHILIPPE ,  ROCHE PHILIPPE ,  THONNART YVAIN

IPC: H01L21/00 ,  G06F1/04 ,  H03K5/19 ,  H03K19/003 ,  H03K19/08

Abstract: Procédé de commande d'un circuit intégré, comportant : -la fourniture (100) d'un circuit intégré comprenant : • une pluralité de cellules logiques, incluant chacune des premier et second transistors à effet de champ ; • une cellule d'arbre d'horloge, incluant des troisième et quatrième transistors à effet de champ ; -l'application (102) de première et seconde différences de potentiel électrique de grille arrière sur les, respectivement, premier et second transistors de mêmes cellules logiques ; -l'application (104) d'une troisième différence de potentiel électrique de grille arrière sur le troisième transistor, présentant une valeur supérieure à la première différence de potentiel appliquée au même moment, ou -l'application d'une quatrième différence de potentiel électrique de grille arrière sur le quatrième transistor, présentant une valeur supérieure à la seconde différence de potentiel appliquée au même moment.