公开(公告)号：CN1168513A

公开(公告)日：1997-12-24

申请号：CN97110117.5

申请日：1997-04-15

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 福田尚三 ,  森本正通 ,  田边敦 ,  横田修一

IPC: G06K7/14

CPC classification number: G06K9/2036

Abstract: 本发明的视觉识别装置能拍摄没有背景图像、适于图像处理的图像。为此，通过确定照明装置及摄像机的配置和镜状覆盖物的配置及其形状，使覆盖保持器的覆盖物反射自照明装置射向保持器方向的光，令其不射至摄像机。

公开(公告)号：CN1254768C

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN01812455.0

申请日：2001-07-06

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 田边敦 ,  佐野公昭 ,  秦纯一 ,  蜂谷荣一 ,  梁池征志郎

IPC: G06T1/00 ,  G01B11/24 ,  H05K13/08 ,  G01N21/956

CPC classification number: G06K9/32 ,  G06K9/626 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/30141 ,  G06T2207/30148 ,  H05K13/0413 ,  H05K13/0813 ,  H05K13/0882

Abstract: 在不使操作者知道识别算法的特性的条件下，当电子零件被识别时，生成用于参考的零件识别数据。该零件识别数据通过以下生成：输入关于电子零件的整体和电极信息，基于关于整体和电极的信息指定电子零件的模型，选择适于所指定的零件模型的识别算法，以及从整体和电极信息中，通过所选择的识别算法，自动地提取识别所必需的零件形状数据。

公开(公告)号：CN1205847C

公开(公告)日：2005-06-08

申请号：CN99803275.1

申请日：1999-02-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森本正通 ,  蜂谷荣一 ,  田边敦 ,  纳土章 ,  佐野公昭

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/0812 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49133 ,  Y10T29/49462 ,  Y10T29/53543

Abstract: 通过对高度检测器(8)所检测的高度测量区进行限定，从而只对连接部分进行检测，而对其他的干扰目标不进行检测。亮度图象索取装置(3)用于获得电子元件(2)的整个底面的亮度图象数据，及高度图象索取装置(8)，用于获得电子器件(2)的整个底面的高度图象数据。通过单独选择使用亮度图象索取装置(3)所进行的二维位置检测和高度图象索取装置(8)的三维位置检测而进行电子元件(2)的位置检测。具有多个凸电极(2a)的电子元件(2)的整个底部的高度图象被高度检测检测器(3)索取作为二维图象数据，从高度图象数据获取各个凸电极(2a)，从而检测各个凸电极(2a)的体积和形状。当凸电极(2a)的体积和形状不满足预定的标准时，就认为电子元件(2)为非正常。

公开(公告)号：CN1250589A

公开(公告)日：2000-04-12

申请号：CN98803262.7

申请日：1998-03-11

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 蜂谷荣一 ,  纳士章 ,  田边敦

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/0812 ,  Y10T29/53261

Abstract: 所述识别装置(8)包括具有一维CCD阵列的行摄像机(11)、具有快门功能的快门摄像机(12)和选择装置(30),其中所述选择装置用于根据所述电子元件(2)的尺寸或形状选择所述行摄像机(11)或所述快门摄像机(12)。从而在所述安装头(7)移动时通过拍摄电子元件图像获得的图像数据可以识别所述电子元件(2)以进行精确安装。