带内置存储器单元恢复的非易失性存储器设备及操作方法

    公开(公告)号:CN101727981B

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN200910204682.7

    申请日:2009-10-10

    CPC classification number: G11C16/16

    Abstract: 非易失性存储器设备包括在擦除非易失性(例如,快闪)存储器单元块的操作期间支持存储器单元的恢复。非易失性存储器系统包括快闪存储器设备以及电耦接到快闪存储器设备的存储器控制器。存储器控制器被配置为,通过将第一指令发布到快闪存储器设备、接着将第二指令发布到快闪存储器设备来控制快闪存储器设备内的存储器单元的恢复操作,将第一指令发布到快闪存储器设备导致存储器块中的擦除的存储器单元变为至少部分地编程的存储器单元,将第二指令发布到快闪存储器设备导致至少部分地编程的存储器单元变为全部地被擦除。

    半导体装置、存储器读取方法和存储器编程方法

    公开(公告)号:CN101329914B

    公开(公告)日:2014-10-08

    申请号:CN200810110170.X

    申请日:2008-06-13

    CPC classification number: G11C11/5642 G11C2211/5641 G11C2211/5646

    Abstract: 本发明提供了一种具有可存储指示被写到多个存储单元的数据位的数目的信息的块状态确认单元的半导体装置、一种基于被写入的数据位的数目读取存储器数据的方法和/或一种存储指示被写入的数据位的数目的信息的存储器编程方法。该半导体装置可包括控制器和一个或多个存储块。每个存储块可包括块状态确认单元和多个存储单元,块状态确认单元存储指示被写到存储单元的数据位的数目的信息,每个存储单元存储数据。控制器可基于块状态确认单元中的信息中指示的数据位的数目来从存储块读取该数据位。

    多级半导体存储装置及其编程方法

    公开(公告)号:CN101211661B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200710300427.3

    申请日:2007-12-27

    CPC classification number: G11C11/5628 G11C16/10 G11C2211/5642

    Abstract: 提供一种多级半导体存储装置及其编程方法,在示例性实施例中,将n比特数据编程到半导体存储装置的方法可包括:从第一锁存器输出已写入存储单元的所述数据的第一比特;将所述数据的第一比特存储到第三锁存器;将所述数据的第二比特存储到第一锁存器;从第一锁存器输出所述数据的第二比特;将所述数据的第二比特存储到第二锁存器;参照存储在第三锁存器中的所述数据的第一比特的数据存储状态,将存储在第二锁存器中的所述数据的第二比特写入存储单元。

    半导体装置、存储器读取方法和存储器编程方法

    公开(公告)号:CN101329914A

    公开(公告)日:2008-12-24

    申请号:CN200810110170.X

    申请日:2008-06-13

    CPC classification number: G11C11/5642 G11C2211/5641 G11C2211/5646

    Abstract: 本发明提供了一种具有可存储指示被写到多个存储单元的数据位的数目的信息的块状态确认单元的半导体装置、一种基于被写入的数据位的数目读取存储器数据的方法和/或一种存储指示被写入的数据位的数目的信息的存储器编程方法。该半导体装置可包括控制器和一个或多个存储块。每个存储块可包括块状态确认单元和多个存储单元,块状态确认单元存储指示被写到存储单元的数据位的数目的信息,每个存储单元存储数据。控制器可基于块状态确认单元中的信息中指示的数据位的数目来从存储块读取该数据位。

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