单晶石墨烯片及其制备工艺和透明电极

    公开(公告)号:CN101462717A

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200810169624.0

    申请日:2008-10-13

    Abstract: 本发明描述了一种单晶石墨烯片、一种制备单晶石墨烯片的工艺以及一种包括单晶石墨烯片的透明电极。所述单晶石墨烯片包含多环芳香分子,其中,多个碳原子彼此共价结合,单晶石墨烯片包括层数在大约1层至大约300层之间的层,其中,Raman D带强度与Raman G带强度的峰比小于等于大约0.2。所述制备单晶石墨烯片的方法包括:形成包括单晶石墨化金属触媒片的触媒层;将含碳材料设置在触媒层上;在惰性气氛和还原性气氛中的至少一种中热处理触媒层和含碳材料。

    平板显示器制造系统及其控制方法

    公开(公告)号:CN1955801B

    公开(公告)日:2011-08-03

    申请号:CN200610111961.5

    申请日:2006-08-28

    Abstract: 本发明用于提供一种具有同时检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的优点的平板显示器制造系统。根据本发明实施例的平板显示器制造系统包括用于检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的磨削量检测单元,其中,磨削量检测单元包括:第一磨削量检测器,用于同时检测面板第一侧面的上边缘和下边缘的磨削量;以及第二磨削量检测器,用于同时检测面板第二侧面的上边缘和下边缘的磨削量,其中,第一和第二磨削量检测器分别形成为一个主体。

    平板显示器制造系统及其控制方法

    公开(公告)号:CN1955801A

    公开(公告)日:2007-05-02

    申请号:CN200610111961.5

    申请日:2006-08-28

    Abstract: 本发明用于提供一种具有同时检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的优点的平板显示器制造系统。根据本发明实施例的平板显示器制造系统包括用于检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的磨削量检测单元,其中,磨削量检测单元包括:第一磨削量检测器,用于同时检测面板第一侧面的上边缘和下边缘的磨削量;以及第二磨削量检测器,用于同时检测面板第二侧面的上边缘和下边缘的磨削量,其中,第一和第二磨削量检测器分别形成为一个主体。

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