-
公开(公告)号:CN101462717A
公开(公告)日:2009-06-24
申请号:CN200810169624.0
申请日:2008-10-13
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: C01B31/04
CPC classification number: C30B1/10 , B82Y30/00 , B82Y40/00 , C01B32/188 , C01B2204/04 , C30B29/02
Abstract: 本发明描述了一种单晶石墨烯片、一种制备单晶石墨烯片的工艺以及一种包括单晶石墨烯片的透明电极。所述单晶石墨烯片包含多环芳香分子,其中,多个碳原子彼此共价结合,单晶石墨烯片包括层数在大约1层至大约300层之间的层,其中,Raman D带强度与Raman G带强度的峰比小于等于大约0.2。所述制备单晶石墨烯片的方法包括:形成包括单晶石墨化金属触媒片的触媒层;将含碳材料设置在触媒层上;在惰性气氛和还原性气氛中的至少一种中热处理触媒层和含碳材料。
-
公开(公告)号:CN101545136B
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN200810185914.4
申请日:2008-12-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/04
CPC classification number: C30B35/00 , H01L21/02532 , H01L21/0254 , H01L21/02573 , H01L21/02603 , H01L21/02606 , H01L33/007 , H01L33/18 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种微加热器阵列和包括微加热器阵列的PN结器件及其制造方法。本发明包括:包括在衬底上彼此垂直或平行设置的第一微加热器和第二微加热器的微加热器阵列;以及利用当将电压施加到微加热器阵列时分别从第一加热部分和第二加热部分产生的热在第一加热部分与第二加热部分之间制造PN结的方法。因此,当使用微加热器形成PN结时,可以在玻璃衬底上的大面积内制造高质量的PN结。
-
公开(公告)号:CN1955801B
公开(公告)日:2011-08-03
申请号:CN200610111961.5
申请日:2006-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G02F1/1333
Abstract: 本发明用于提供一种具有同时检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的优点的平板显示器制造系统。根据本发明实施例的平板显示器制造系统包括用于检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的磨削量检测单元,其中,磨削量检测单元包括:第一磨削量检测器,用于同时检测面板第一侧面的上边缘和下边缘的磨削量;以及第二磨削量检测器,用于同时检测面板第二侧面的上边缘和下边缘的磨削量,其中,第一和第二磨削量检测器分别形成为一个主体。
-
公开(公告)号:CN101545136A
公开(公告)日:2009-09-30
申请号:CN200810185914.4
申请日:2008-12-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: C30B25/10 , H01L21/04 , H01L21/205
CPC classification number: C30B35/00 , H01L21/02532 , H01L21/0254 , H01L21/02573 , H01L21/02603 , H01L21/02606 , H01L33/007 , H01L33/18 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种微加热器阵列和包括微加热器阵列的PN结器件及其制造方法。本发明包括:包括在衬底上彼此垂直或平行设置的第一微加热器和第二微加热器的微加热器阵列;以及利用当将电压施加到微加热器阵列时分别从第一加热部分和第二加热部分产生的热在第一加热部分与第二加热部分之间制造PN结的方法。因此,当使用微加热器形成PN结时,可以在玻璃衬底上的大面积内制造高质量的PN结。
-
公开(公告)号:CN1955801A
公开(公告)日:2007-05-02
申请号:CN200610111961.5
申请日:2006-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G02F1/1333
Abstract: 本发明用于提供一种具有同时检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的优点的平板显示器制造系统。根据本发明实施例的平板显示器制造系统包括用于检测面板至少一个侧面的上边缘和下边缘的磨削量的磨削量检测单元,其中,磨削量检测单元包括:第一磨削量检测器,用于同时检测面板第一侧面的上边缘和下边缘的磨削量;以及第二磨削量检测器,用于同时检测面板第二侧面的上边缘和下边缘的磨削量,其中,第一和第二磨削量检测器分别形成为一个主体。
-
-
-
-