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公开(公告)号：CN114119505B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202111316044.1
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T7/73 , G01N23/00 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T5/70 , G06T5/77 , G06T5/60
Abstract: 本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素。本申请实施例提供的检测芯片粘连区域缺陷的方法，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN116224027A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310190635.1
申请日：2023-02-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28 , G06F11/263
Abstract: 一种复杂数字集成电路测试向量学习生成装置，包括向量学习生成模块、通讯模块、电源模块、学习接口模块、典型应用板、上位机，以FPGA为核心部件，利用其高并发性能可以实现多通道实时监测、时钟触发和数据采集分析等功能。通过并列布置多块FPGA形成向量学习生成模块，并利用可监测的数字通道数目可以有效覆盖目前的大部分数字集成电路，监督并采集DUT学习流程中所有周期的输入输出特征，并将其转换为特定格式的测试向量，结束整个学习过程。
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公开(公告)号：CN102332307B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201110214108.7
申请日：2011-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。
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公开(公告)号：CN119849404A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411821384.3
申请日：2024-12-11
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/367 , G16C10/00
Abstract: 本发明公开了一种双极型带隙基准电路单粒子效应自动化仿真方法，包括：S1，对电路网表文件进行分析，提取出晶体管名称和节点信息；S2，对电路进行直流特性仿真，得到各晶体管的直流工作点，并确定各晶体管的类型；S3，建立晶体管模型，进行管级单粒子效应仿真，得到晶体管级单粒子效应仿真结果；S4，建立瞬态脉冲波形数据库、峰值数据库；S5，筛选得到敏感晶体管；S6，选取一个敏感晶体管，提取得到其对应的瞬态脉冲数据；S7，对电路网表文件进行修改，并进行电路级单粒子瞬态特性仿真，得到瞬态特性仿真结果数据；S8，重复上述步骤S6～S7，得到全部敏感晶体管对应的瞬态特性仿真结果数据。本发明实现了模拟类器件效应薄弱环节定位。
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公开(公告)号：CN114218758B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202111404835.X
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 一种用于形式验证的宇航通用门级逻辑建模方法，对宇航级大规模集成电路的抗辐射加固逻辑门电路进行抗辐射冗余特点分析和建模，可基于该模型对宇航级大规模集成电路进行基于形式验证的安全属性评测和逻辑完备性检查，解决了空间辐射环境和航天器高可靠应用条件下的宇航大规模集成电路安全属性评测难题，操作简便、自动化程度高、评测效率高，减少了评测的操作环节，提高了评测的可操作性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103698682B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310714296.9
申请日：2013-12-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G05B19/042
CPC classification number: Y02P90/265
Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。
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公开(公告)号：CN116227424A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211691056.7
申请日：2022-12-27
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/398 , G06F30/394 , G06F119/10
Abstract: 一种低压差线性稳压器噪声抑制通用板、设计及测试方法，能够全面的对器件噪声抑制功能进行验证，对于低压差稳压器的器件应用验证具有重要意义，可对不同型号的低压差线性稳压器进行验证，是一种通用型的验证方法，并且其设计简单，对测试设备要求低，开发的验证装置可覆盖不同类型的低压差线性稳压器，大大提高了验证效率。
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公开(公告)号：CN114218758A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111404835.X
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 一种用于形式验证的宇航通用门级逻辑建模方法，对宇航级大规模集成电路的抗辐射加固逻辑门电路进行抗辐射冗余特点分析和建模，可基于该模型对宇航级大规模集成电路进行基于形式验证的安全属性评测和逻辑完备性检查，解决了空间辐射环境和航天器高可靠应用条件下的宇航大规模集成电路安全属性评测难题，操作简便、自动化程度高、评测效率高，减少了评测的操作环节，提高了评测的可操作性。
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公开(公告)号：CN114119505A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111316044.1
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素。本申请实施例提供的检测芯片粘连区域缺陷的方法，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN111125876A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911129146.5
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供了一种无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估方法，该方法包括以下步骤：步骤1：进行锡须生长激发试验；步骤2：锡须特征参数测定；步骤3：锡须生长分布规律分析及锡须生长特征模型建立；步骤4：无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估。本发明以无铅元器件为研究对象，针对无铅元器件互连焊点的锡须生长问题，进行锡须生长试验，结合锡须生长特征参数，进行锡须生长长度、锡须生长密度、锡须生长角度的测定，针对试验数据进行统计分析，得到锡须的生长分布规律和生长特征模型，利用蒙特卡洛分析算法评估无铅元器件互连焊点锡须的触碰风险。本发明为评估无铅元器件互连焊点锡须触碰风险提供了可靠的技术基础。
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