一种结构光扫描提取瓷绝缘子伞裙表面积的方法及工装

    公开(公告)号:CN118463860A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410408931.9

    申请日:2024-04-07

    Abstract: 一种结构光扫描提取瓷绝缘子伞裙表面积的方法及工装,在瓷绝缘子上安装表面分布有高反射定位点的工装;利用结构光三维扫描仪对瓷绝缘子进行三维扫描,扫描时工装中的高反射定位点进入扫描仪视野覆盖范围,获得瓷绝缘子三维模型并确定其对称轴,沿径向对瓷绝缘子三维模型进行切片;获得每个切片的外轮廓,从各切片外轮廓中选择一个完整的轮廓,获得外轮廓离散点集合;利用外轮廓离散点坐标,计算得到瓷绝缘子表面积。本发明的工装,结构简单、重量轻,可由工人带上高塔,快速固定在瓷绝缘子表面,辅助开展三维结构光扫描,利用瓷绝缘子具有轴对称几何外形的特性,实现瓷绝缘子伞裙表面积的精确计算,克服三维模型残缺对表面积测量的不利影响。

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