用于BEOL热管理的散热器的集成

    公开(公告)号:CN105470217A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510626500.0

    申请日:2015-09-28

    Abstract: 本发明涉及用于BEOL热管理的散热器的集成。一种微电子装置(100),包括组件(104)的电极(114)和电极(116)上的散热器层(118)和散热器层(120)以及散热器层(118)和散热器层(120)上的金属互连件(122)和金属互连件(124)。散热器层(118)和散热器层(120)被布置在半导体装置(100)的基板(102)的顶表面上方。散热器层(118)和散热器层(120)的厚度为100纳米至3微米,具有至少150瓦/(米·开尔文)的面向热导率以及小于100微欧姆·厘米的电阻率。

    经过附加处理的热引导沟槽

    公开(公告)号:CN108122868B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN201711186765.9

    申请日:2017-11-24

    Abstract: 本申请涉及经过附加处理的热引导沟槽,其中公开了一种集成电路(100),其具有包括半导体材料(104)的衬底(102)以及设置在衬底(102)之上的互连区(106)。该集成电路(100)包括衬底(102)中的热引导沟槽(130)。热引导沟槽(130)包括其中相邻纳米颗粒(135)彼此粘附的粘附纳米颗粒膜(134)。热引导沟槽(130)具有比接触热引导沟槽(130)的半导体材料(104)更高的热导率。粘附纳米颗粒膜(134)通过附加工艺来形成。

    石墨烯与氮化硼异质结构器件的集成

    公开(公告)号:CN111788657B

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN201980015992.6

    申请日:2019-03-04

    Abstract: 一种微电子器件(100),其包括门控石墨烯组件(102)。门控石墨烯组件(102)具有包含一层或更多层石墨烯的石墨层(114)。石墨层(114)具有沟道区域(116)、邻近沟道区域(116)的第一接触区域(118)和邻近沟道区域(116)的第二接触区域(120)。图案化六方氮化硼(hBN)层(128)被设置在沟道区域(116)上方的石墨层(114)上。栅极(130)位于沟道区域(116)上方、图案化hBN层(128)之上。第一连接(122)在第一接触区域(118)中被设置在石墨层(114)上,并且第二连接(124)在第二接触区域(120)中被设置在石墨层(114)上。图案化hBN层(128)没有完全延伸到第一连接(122)之下,也没有完全延伸到第二连接(124)之下。

    用于BEOL热管理的散热器的集成

    公开(公告)号:CN105470217B

    公开(公告)日:2019-08-27

    申请号:CN201510626500.0

    申请日:2015-09-28

    Abstract: 本发明涉及用于BEOL热管理的散热器的集成。一种微电子装置(100),包括组件(104)的电极(114)和电极(116)上的散热器层(118)和散热器层(120)以及散热器层(118)和散热器层(120)上的金属互连件(122)和金属互连件(124)。散热器层(118)和散热器层(120)被布置在半导体装置(100)的基板(102)的顶表面上方。散热器层(118)和散热器层(120)的厚度为100纳米至3微米,具有至少150瓦/(米·开尔文)的面向热导率以及小于100微欧姆·厘米的电阻率。

    石墨烯和氮化硼异质结构器件在半导体层上的集成

    公开(公告)号:CN111801780A

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN201980014329.4

    申请日:2019-03-04

    Abstract: 一种微电子器件(100),其包括在半导体材料(106)上方的栅控石墨烯组件(102)。栅控石墨烯组件(102)包括具有至少一层石墨烯的石墨层(126)。石墨层(126)具有沟道区(128)。第一连接(134)和第二连接(136)电连接到与沟道区(128)相邻的石墨层(126)。石墨层(126)与半导体材料(106)隔离。具有第一导电类型的背栅区(142)设置在沟道区(128)下方的半导体材料(106)中。第一接触场区(144)和第二接触场区(146)分别设置在第一连接(134)和第二连接(136)下方的半导体材料(106)中。第一接触场区(144)和第二接触场区(146)中的至少一个具有相反的第二导电类型。

    用于高频应用的异质结构互连

    公开(公告)号:CN110337720A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201880012923.5

    申请日:2018-02-21

    Abstract: 在所描述的示例中,集成电路(100)包括互连(124),互连(124)包括金属层(130)、在金属层(130)的顶部表面或者金属层(130)的底部表面中的至少一个上的石墨烯层(132)以及在石墨烯层(132)上与金属层(130)相对的六方氮化硼(hBN)层(134)。集成电路的介电材料(116)接触hBN层(134)。石墨烯层(132)具有一个或更多个石墨烯原子层。hBN层(134)的厚度为一至三个原子层。互连(124)可以在金属层(130)的底部表面上具有下石墨烯层(128)以及下hBN层(126),并且在金属层(130)的顶部表面上具有上石墨烯层(132)以及上hBN层(134)。

Patent Agency Ranking