半导体存储器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1467747A

    公开(公告)日:2004-01-14

    申请号:CN03138344.0

    申请日:2003-05-27

    Inventor: 折笠宪一

    CPC classification number: G11C11/4099 G11C7/06 G11C11/4085 G11C11/4091

    Abstract: 本发明提供一种电路面积较小的、可以提高存储单元的数据保持特性的半导体存储器件。在字线电压发生器中,将比提供给存储单元的第1电源电压Vdd还高的第2电源电压Vdd3施加给第1运算放大器电路及参考电压发生电路,参考电压发生电路产生的电压比与第1电源电压Vdd成比例的电压还高出因对P沟道晶体管进行二极管连接而产生的发生电压,作为第1参考电压Vref,第1运算放大器电路输出与第1参考电压Vref相等的电压,作为字线驱动电压Vwl。因此,不需要充电泵电路等就能减少存储单元截止时的漏电流。

    半导体集成电路装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN1194411C

    公开(公告)日:2005-03-23

    申请号:CN02152792.X

    申请日:2002-11-28

    CPC classification number: H02M3/07 H02M2003/071

    Abstract: 一种半导体集成电路装置,包括:充电电路,向负电压节点输出设定的负电压;电压检测电路,当上述负电压节点的电压达到第一检测电压时产生第一检测信号,当上述负电压节点的电压达到第二检测电压时产生第二检测信号;环状振荡器,由上述第一检测信号驱动,产生驱动上述充电电路的信号;负电压升压电路,由上述的二检测信号驱动,具有接在上述负电压节点的输出端子,通过上述输出端子的输出使负电压节点的电压上升。可以使VBB电压迅速上升,通过快速地控制VBB电压提高电压的稳定度。

    半导体存储器件
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1329922C

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN03138344.0

    申请日:2003-05-27

    Inventor: 折笠宪一

    Abstract: 本发明提供一种电路面积较小的、可以提高存储单元的数据保持特性的半导体存储器件。在字线电压发生器中,将比提供给存储单元的第1电源电压Vdd还高的第2电源电压Vdd3施加给第1运算放大器电路及参考电压发生电路,参考电压发生电路产生的电压比与第1电源电压Vdd成比例的电压还高出因对P沟道晶体管进行二极管连接而产生的发生电压,作为第1参考电压Vref,第1运算放大器电路输出与第1参考电压Vref相等的电压,作为字线驱动电压Vwl。因此,不需要充电泵电路等就能减少存储单元截止时的漏电流。

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