一种绝缘纸厚度测试方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118463819A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410283679.3

    申请日:2024-03-13

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘纸厚度测试方法、系统、设备及存储介质,涉及绝缘纸厚度测试技术领域,包括获取单层绝缘纸样品和多层绝缘纸样品;分别测量单层绝缘纸样品和多层绝缘纸样品的厚度以及对应的近红外光谱;建立单层绝缘纸样品的厚度与对应的近红外光谱之间的线性模型;建立多层绝缘纸样品的厚度与对应的近红外光谱之间的分类模型;采集不同应用场景下的待测绝缘纸的近红外光谱,将待测绝缘纸的近红外光谱代入至对应的线性模型或分类模型,对待测绝缘纸的厚度进行测试。本发明相比于X射线具有使用安全性好,便携性好。相比于超声技术,本发明方法测厚准确度和穿透性都较好。应用漫反射光谱测试,相比于太赫兹技术,不受测试角度和形状限制。

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