光刻设备和器件制造方法

    公开(公告)号:CN102072742A

    公开(公告)日:2011-05-25

    申请号:CN201010544831.7

    申请日:2010-11-11

    CPC classification number: G03F7/70775 G01D5/38

    Abstract: 本发明公开了一种光刻设备和一种器件制造方法。具体地,公开了一种位置测量系统,用以测量可移动物体相对于另一物体的位置,所述系统包括:两个或更多个一维(1D)编码器头,其安装在可移动物体和所述另一物体中的一个上,并且每一个配置成沿测量方向发射测量束;一个或更多个参照目标,其安装在可移动物体和另一物体中的另一个上,每个所述参照目标包括具有栅格或光栅的平面表面、以与所述两个或更多个一维(1D)编码器头协作;和处理器,配置成基于所述两个或更多个一维编码器头的输出计算可移动物体的位置,其中所述两个或更多个一维编码器头的每一个的测量方向不垂直于相应的所述参照目标的平面表面。

    具有主动阻尼组件的光刻设备

    公开(公告)号:CN101446771A

    公开(公告)日:2009-06-03

    申请号:CN200810170899.6

    申请日:2008-10-23

    CPC classification number: G03F7/709 G03F7/70883

    Abstract: 本发明公开了一种具有主动阻尼组件的光刻设备,包括用以将图案化的辐射束投影到衬底的投影系统,和用于衰减至少一部分该投影系统的振动的阻尼系统,所述阻尼系统包括界面阻尼块体和用以衰减至少一部分该界面阻尼块体振动的主动阻尼子系统,所述界面阻尼块体连接到该投影系统,而所述主动阻尼子系统连接到所述界面阻尼块体,所述主动阻尼子系统包括用于检测所述界面阻尼块体位置的量的传感器和用于根据所述传感器提供的信号施加作用力到界面阻尼块体的致动器。所述阻尼系统还包括连接到界面阻尼块体上并构造成阻滞所述界面阻尼块体以界面阻尼块体的本征频率移动的界面阻尼装置。

    光刻设备和器件制造方法

    公开(公告)号:CN102072742B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201010544831.7

    申请日:2010-11-11

    CPC classification number: G03F7/70775 G01D5/38

    Abstract: 本发明公开了一种光刻设备和一种器件制造方法。具体地,公开了一种位置测量系统,用以测量可移动物体相对于另一物体的位置,所述系统包括:两个或更多个一维(1D)编码器头,其安装在可移动物体和所述另一物体中的一个上,并且每一个配置成沿测量方向发射测量束;一个或更多个参照目标,其安装在可移动物体和另一物体中的另一个上,每个所述参照目标包括具有栅格或光栅的平面表面、以与所述两个或更多个一维(1D)编码器头协作;和处理器,配置成基于所述两个或更多个一维编码器头的输出计算可移动物体的位置,其中所述两个或更多个一维编码器头的每一个的测量方向不垂直于相应的所述参照目标的平面表面。

    具有主动阻尼组件的光刻设备

    公开(公告)号:CN101446771B

    公开(公告)日:2011-03-16

    申请号:CN200810170899.6

    申请日:2008-10-23

    CPC classification number: G03F7/709 G03F7/70883

    Abstract: 本发明公开了一种具有主动阻尼组件的光刻设备,包括用以将图案化的辐射束投影到衬底的投影系统,和用于衰减至少一部分该投影系统的振动的阻尼系统,所述阻尼系统包括界面阻尼块体和用以衰减至少一部分该界面阻尼块体振动的主动阻尼子系统,所述界面阻尼块体连接到该投影系统,而所述主动阻尼子系统连接到所述界面阻尼块体,所述主动阻尼子系统包括用于检测所述界面阻尼块体位置的量的传感器和用于根据所述传感器提供的信号施加作用力到界面阻尼块体的致动器。所述阻尼系统还包括连接到界面阻尼块体上并构造成阻滞所述界面阻尼块体以界面阻尼块体的本征频率移动的界面阻尼装置。

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