公开(公告)号：CN105699404A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201610127897.3

申请日：2016-03-07

Applicant: 马翼

Inventor： 马翼

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01N23/04 ,  G01N2223/03 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/3103 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于工业生产的X射线探伤机，包括壳体、控制器和底座，所述壳体上设有高压变压器和X射线窗口，所述壳体与控制器连接，所述壳体内设有温控装置，所述温控装置包括外壳、内壳、引水泵、出水管、入水管、连接管和蓄水箱，所述引水泵通过出水管与蓄水箱连接，通过该用于工业生产的X射线探伤机通过控制器中的延时控制电路，使启动命令在一定时间后运行，防止启动时X射线对工作人员的伤害，保证了工作人员对整个探伤过程的精确把控，提高了该探伤机的可靠性和安全性，同时，通过制冷装置中引水泵的工作，带动水流在探伤机内部循环流动，带走热量的同时限制了探伤机内的温度，从而延长了探伤机的寿命。

公开(公告)号：CN106537188B

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201580039683.4

申请日：2015-05-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01R13/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  H01J35/14 ,  H01J35/30 ,  H05G1/26

Abstract: 本发明的X射线检测信号处理器(10)等包括：比较器(17)，该比较器(17)在来自具有CR电路(13a)的连续复位型的前置放大器(13)的信号的电平没有超过规定的上限值的场合，发出高电平的信号，在超过规定的上限值的场合，发出低电平的信号；控制部(18)，该控制部(18)以规定时间而使来自该比较器(17)的信号从低电平变高电平的过程延迟，将其输出给时钟振荡器(15)，通过将低电平的信号输出给时钟振荡器(15)，停止振荡，由此，停止高速AD转换器(14)的高速AD转换，维持输出值。

公开(公告)号：CN107860823A

公开(公告)日：2018-03-30

申请号：CN201610839875.X

申请日：2016-09-22

Applicant: 淮阴师范学院

Inventor： 孙红兵 ,  陈勇 ,  熊树 ,  戴金桥 ,  俞阿龙

IPC: G01N29/04

CPC classification number: G01N29/041 ,  G01N29/045 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/615 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明公开了一种复合材料结构的损伤监测系统，包括压力传感器网络、压电传感器配置机构、电荷放大器和数据采集处理器；所述压力传感器网络由均匀布置在复合材料机构上的多个压电传感器组成；所述压力传感器网络经压电传感器配置机构连接至电荷放大器，所述压电传感器配置机构包括撞击监测配置模块和损伤监测配置模块；所述电荷放大器连接至数据采集处理器。本发明复合材料结构的损伤监测系统可以对复合材料结构上同时出现的多个不同类损伤信号进行分离，适用于实际构件，并能更准确的对复合材料结构损伤状态作出评估，准确性高。

公开(公告)号：CN107076683A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201480083003.4

申请日：2014-09-02

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 町井畅且 ,  早野史伦 ,  河井章利

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01N23/04 ,  G01B15/04 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/646

Abstract: 一种用于X射线检查装置的测量处理装置，所述X射线检查装置利用检测单元检测穿过试样的X射线，以基于所获取的透射图像顺序地检查多个试样，所述测量处理装置包括：设置单元，用于在所述试样的一部分上设置待检查区域；确定单元，用于通过使用穿过所述待检查区域的X射线的透射图像来确定所述待检查区域的非缺陷；校正单元，用于基于所述确定单元的确定结果对所述待检查区域执行校正；以及显示控制单元，用于显示由所述校正单元校正后的待检查的校正区域。

公开(公告)号：CN107086868A

公开(公告)日：2017-08-22

申请号：CN201710079561.9

申请日：2017-02-15

Applicant: 亚德诺半导体集团

Inventor： P·布兰尼克 ,  C·G·莱登 ,  D·J·麦克卡特内 ,  G·巴纳里

IPC: H03M1/12 ,  H03M1/54 ,  G01N23/04

CPC classification number: H02J7/007 ,  G04F10/005 ,  H02J7/345 ,  H03M1/201 ,  H03M1/50 ,  H03M1/52 ,  H03M1/60 ,  H03M1/1245 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/305 ,  H03M1/54

Abstract: 本公开涉及具有电荷重新平衡集成器的模拟/数字转换。电荷再平衡积分电路可以帮助保持前端积分电路的输出节点在指定的范围内，例如而无需积分电容器的复位。监视和重新平衡积分电路的处理可以比积分时间长度短得多的时间操作，其可允许在积分时间段的多个电荷平衡的电荷转移事件，和每个积分时间周期一次采样积分电容器，诸如在积分时间段的结束。关于电荷再平衡的信息可用于调整随后的离散时间信号处理，诸如样本的数字化值。改进的动态范围和噪声性能是可能的。描述了计算机断层扫描(CT)成像和其他使用案例，包括具有可变积分周期的那些。

公开(公告)号：CN107076684A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201480083007.2

申请日：2014-09-02

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 町井畅且 ,  早野史伦 ,  河井章利

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01B15/04 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/401

Abstract: 一种用于X射线检查装置的测量处理装置，所述X射线检查装置检测穿过放置在放置单元上的试样的预定区域的X射线，以对所述试样的预定区域的形状进行检查，所述测量处理装置包括：设置单元，用于在所述试样上设置待检测的三维区域；以及切片选择单元，用于在所述待检测区域上设置多个切片区域，当所述多个切片区域被视为所述预定区域时，对于所述多个切片区域中的每一个切片区域，计算检测所述待检测区域所需的所述预定区域的位移量，并且基于每个计算的位移量，从所述多个切片区域中选择用于检查的切片区域。

公开(公告)号：CN106841252A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201710031308.6

申请日：2017-01-17

Applicant: 新疆医科大学

Inventor： 刘慧强 ,  樊孝喜 ,  张学良 ,  段颖妮 ,  温浩 ,  林仁勇 ,  刘文亚 ,  季学闻 ,  赵园

IPC: G01N23/06

CPC classification number: G01N23/06 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/612

Abstract: 本发明公开一种弱吸收物体同步辐射X射线同轴相衬成像的相位恢复方法，包括如下步骤：采用同步辐射X射线同轴相衬成像法获取弱吸收物体样品的相衬数据；按式I对获取的相衬数据进行相位恢复，得到样品的相位信息的空间分布，式I：其中，和分别代表傅立叶变换和逆傅立叶变换，代表空间坐标系，代表傅立叶空间坐标系，代表样品到探测器的距离，代表入射X射线的波长，代表样品的吸收和相位比率，代表样品的投影光强分布，代表入射光强分布；对得到的相位信息的空间分布进行图像重构。本发明方法可大幅提高弱吸收物体的空间分辨和密度分辨的探测能力，同时具有高信噪比，降低辐照剂量的特点，实现对弱吸收物体的微米级无损、高分辨三维成像。

公开(公告)号：CN104931516A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201410812511.3

申请日：2014-12-23

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 佐久田昌博

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2201/103 ,  G01N2201/125 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/408 ,  G01N2223/427 ,  G06F1/1692 ,  G06F3/017 ,  G06F3/03547 ,  G06F3/03548 ,  G06F3/0416 ,  G06F3/0484 ,  G06F3/04842 ,  G06F3/04845 ,  G06F3/04847 ,  G06F2203/04104

Abstract: 本发明提供X射线分析装置，在宽大的试样工作台中能够提高用于进行精密定位的操作性，其具备：试样台；X射线源，对试样照射一次X射线；检测器，检测从试样产生的二次X射线；位置调整机构，调整试样台与一次X射线的相对位置；观察机构，对试样台上的试样观察像进行摄像；和计算机，具有在观察用画面(9a)上显示试样观察像的显示器部和能利用指针(P)输入显示器部的画面上的位置且能进行拖放操作的输入单元，计算机具有以下的功能，当利用输入单元在观察用画面的中心区域(A1)内进行拖曳操作并在保持状态下使指针(P)移动到中心区域外的任意位置时，以与任意位置相对于中心区域的方向以及距离相对应的移动方向以及移动速度使试样台进行移动。

公开(公告)号：CN108169254A

公开(公告)日：2018-06-15

申请号：CN201611116487.5

申请日：2016-12-07

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 康克军 ,  程建平 ,  陈志强 ,  赵自然 ,  李君利 ,  王学武 ,  曾志 ,  曾鸣 ,  王义 ,  张清军 ,  顾建平 ,  易茜 ,  刘必成 ,  徐光明 ,  王永强

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/06 ,  G01N23/20

CPC classification number: G01N23/04 ,  G01N23/046 ,  G01N23/06 ,  G01N23/20008 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/33 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/652 ,  G01V5/0016 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/0091

Abstract: 公开了一种检查设备和检查方法。该检查方法包括步骤：对被检查物体进行X射线扫描以产生被检查物体的图像；对所述被检查物体的图像进行分割以确定至少一个感兴趣区域；探测宇宙射线与所述感兴趣区域的相互作用，得到探测值；基于所述感兴趣区域的尺寸信息和所述探测值计算宇宙射线在所述感兴趣区域的散射特性值和/或吸收特性值；以及利用所述散射特性值和/或吸收特性值分辨所述感兴趣区域的材料属性。利用上述方案，能够对提高检查的准确性和检查效率。

公开(公告)号：CN107238619A

公开(公告)日：2017-10-10

申请号：CN201710051018.8

申请日：2017-01-20

Applicant: 奥林巴斯科技美国公司

Inventor： M·巴特亚尼

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01T1/175 ,  G01N23/223 ,  G01T1/17 ,  G01T1/366 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304

Abstract: 本发明涉及一种X射线检测器复位控制电路。公开了用于对具有来自X射线检测器的输入和至ADC的输出的电荷灵敏前置放大器的电压进行复位的电子系统。增大前置放大器增益，以使得RMS ADC噪声小于代表性的数字X射线信号的1％。复位逻辑被配置为避免X射线计数丢失，并防止前置放大器输出超出ADC的允许输入范围。在前置放大器输出上升超过比ADC的最大允许输入低的高电平的情况下，开始复位。也可在检测到堆叠事件的情况下开始复位，只要这种复位不会导致前置放大器输出下降到低于ADC的最小允许输入即可。在每次复位时，从前置放大器移除已知的电荷量，且复位时间被连续调节以确保该电荷量不会漂移。