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公开(公告)号：CN113490519B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN201980092947.0
申请日：2019-02-26
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: A61M1/36
Abstract: 在光动力治疗装置中对患者的血液高效地照射光。本公开的光动力治疗用装置(100)包括：盒(10)，包括卷芯和以环绕所述卷芯的周围的方式配置的管；壳体(50)，收纳所述盒(10)；及光源(60)，配置于所述壳体(50)内，并对所述管照射光，在所述卷芯的周围配置的所述管的与延伸方向正交的截面具有第一方向的第一尺寸和与该第一方向正交的第二方向的第二尺寸，所述第二尺寸比该第一尺寸小，并且所述第二方向朝向所述卷芯的外方。
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公开(公告)号：CN113390353B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202110268504.1
申请日：2021-03-12
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 稻也大辅
Abstract: 本发明涉及光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序。其技术问题是使用简易的测定机构测定分光光谱，确定该分光光谱中包括的峰值或谷值的次数并且测定准确的延迟。本发明的光学测定方法，包括：对样品测定分光光谱的步骤；使用第一波长色散公式按峰值或谷值表示的每个波长计算样品的厚度，并且在基于计算出的厚度的评价值最大的条件下，临时决定第一波长色散公式所包括的系数的步骤；在多种条件下设定特定的峰值的次数，根据设定的多个条件，计算第二波长色散公式的步骤；基于包括临时决定的系数的第一波长色散公式和第二波长色散公式，确定特定的峰值的次数，并且基于确定的次数和第二波长色散公式，正式决定系数的步骤；计算延迟的步骤。
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公开(公告)号：CN113490525B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN201980092950.2
申请日：2019-02-25
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 实现能够通过有限个数的光检测器正确地检测发光元件的光量的紧凑的光动力治疗装置。本公开的光动力治疗装置包括：发光部(112、112)，具备多个光源(110)，所述多个光源(110)分别属于多个组中的某一个组；光检测器(120X、120Y)，输出与来自1个以上的所述光源(110)的光的光接收量对应的电信号；发光控制部(160)，使所述多个光源(110)按照每个所述组依次发光；及运算部(151)，基于与属于所述各组的1个以上的所述光源(110)和所述光检测器(120X、120Y)之间的距离相关的距离系数以及与来自属于该组的1个以上的所述光源的光对应地由所述光检测器(120X、120Y)输出的所述电信号的值，计算与属于所述各组的1个以上的所述光源的光量相关的组光量值。
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公开(公告)号：CN117705763A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311185281.8
申请日：2023-09-14
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/51
Abstract: 本发明提供一种具备有助于光散射测定装置的小型化的光学元件保持器的光散射测定装置。本发明提供一种光散射测定装置，其具备：光源；试样池，容纳试样，供来自光源的光射入；检测部，检测从试样池射出的出射光；光学元件保持器，具有旋转轴，并且保持包括分别以朝向旋转轴的方式设于旋转轴的周围的第一光学元件和第二光学元件的多个光学元件，该旋转轴与由出射光从试样池去往检测部的路径确定的平面正交；以及光学元件保持器支承部，将光学元件保持器支承为能绕旋转轴旋转，光学元件保持器至少能在第一光学元件位于路径上的第一姿势与第二光学元件位于路径上的第二姿势之间旋转。
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公开(公告)号：CN116685828A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202180087235.7
申请日：2021-12-22
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 下田健作
IPC: G01B11/24
Abstract: 提供一种能够抑制噪声来实现更高精度的测定的光学测定系统。光学测定系统包括光源、图像传感器以及光学系统，所述光学系统包括将来自光源的光分支为第一光和第二光的分束器。光学系统能够构成第一光学系统和第二光学系统，所述第一光学系统用于通过图像传感器来记录在不存在试样的状态下利用作为发散光的第二光将第一光进行调制所得到的第一全息图，所述第二光学系统用于通过图像传感器来记录利用第二光将利用第一光对试样进行照明所得到的光进行调制所得到的第二全息图。第二光学系统具有将利用第一光对试样进行照明所得到的光的发散限制在规定范围的限制部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111257229B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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公开(公告)号：CN116097070A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202180053824.3
申请日：2021-08-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J3/02
Abstract: 提供一种测定试样的分光反射率的光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生测定光；受光部，其接收通过将测定光照射于试样而产生的光来作为观测光；探针，其与光源及受光部以光学方式连接，所述探针能够配置于任意位置；以及运算处理部，其基于受光部的检测结果来测定试样的分光反射率，计算基于测定出的分光反射率的测定结果。探针包括：主体部，其供用户把持；以及挠性部，其能够以使测定光能够相对于试样垂直入射的方式弯曲。
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公开(公告)号：CN114325734A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210019117.9
申请日：2017-01-23
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有：第一透光构件，其具有第一参照面；第二透光构件，其与第一透光构件相向设置，具有第二参照面；第一投光部，其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光；第一受光部，其接收来自第一参照面的反射光，并且经由第一参照面接收来自试样的反射光；第二投光部，其经由第二参照面向试样照射来自光源的光；第二受光部，其接收来自第二参照面的反射光，并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光；分光部，其对由第一受光部接收的反射光和由第二受光部接收的反射光进行分光。
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公开(公告)号：CN110500963B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201910414005.1
申请日：2019-05-17
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01B11/06
Abstract: 本公开涉及一种光学测定装置以及光学测定方法，其要解决的问题在于，在对试样中的一方的表面照射光的光学测定装置中，测定探头与试样之间的距离和试样的膜厚。本公开的厚度测定装置包括：探头，包括具有参照面的透射光学构件，经由所述参照面将光照射至试样，接受来自所述参照面的第一反射光、来自所述试样的表面的第二反射光以及来自所述试样的背面的第三反射光；以及运算部，使用由所述第一反射光和所述第二反射光产生的第一反射干渉光，计算出从所述参照面到所述试样的表面的第一距离，使用由所述第二反射光和所述第三反射光产生的第二反射干渉光，计算出所述试样的厚度。
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