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    Verfahren und Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe
    102.
    发明专利
    Verfahren und Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe 未知

    公开(公告)号：DE102014110341A1

    公开(公告)日：2016-01-28

    申请号：DE102014110341

    申请日：2014-07-22

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER

    IPC: G02B21/06 ,  G01N21/64

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe (5). Das Verfahren beinhaltet den Schritt des In-Kontakt-bringens der Probe (5) mit einem optisch transparenten Medium (12), das einen höheren Brechungsindex aufweist, als die Probe (5), des Erzeugens eines Beleuchtungslichtbündels (13) und des Lenkens des Beleuchtungslichtbündels (13) durch ein Beleuchtungsobjektiv (1), das das Beleuchtungslichtbündel fokussiert. Anschließend erfolgt das Umlenken des Beleuchtungslichtbündels (13) in Richtung auf die zu untersuchende Probe (5) mit einem an einem Detektionsobjektiv (2) angeordneten Umlenkmittel, derart dass das Beleuchtungslichtbündel auf eine Grenzfläche (10) zwischen dem optisch transparenten Medium (12) und der Probe (5) trifft und dort zur evaneszenten Beleuchtung der Probe (5) totalreflektiert wird. Schließlich erfolgt das Detektieren des von der Probe (5) ausgehenden und durch das Detektionsobjektiv (2) verlaufenden Fluoreszenzlichtes.

    Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe mittels optischer Projektionstomografie
    103.
    发明专利
    Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe mittels optischer Projektionstomografie 未知

    公开(公告)号：DE102013226277A1

    公开(公告)日：2015-06-18

    申请号：DE102013226277

    申请日：2013-12-17

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： FOUQUET WERNHER ,  KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/63 ,  G02B21/06

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9), bei dem eine Probe (9) mit einem Beleuchtungslichtbündel (3) beleuchtet wird und bei dem ein Transmissionslichtbündel (10), das das durch die Probe (9) hindurch transmittierte Licht des Beleuchtungslichtbündels (3) beinhaltet, mit einem Transmissionsdetektor (13) detektiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9). Es ist vorgesehen, dass das Beleuchtungslichtbündel (3) und das Transmissionslichtbündel (10) mit entgegengesetzten Ausbreitungsrichtungen durch dasselbe Objektiv (7) verlaufen.

    106.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：AT422246T

    公开(公告)日：2009-02-15

    申请号：AT04766844

    申请日：2004-09-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH ,  KNEBEL WERNER ,  MOELLMANN KYRA ,  EUTENEUER PETER

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08

    Abstract: A microscope comprises an objective and a light source that produces an illumination light beam-in particular for evanescent illumination of a sample, which exhibits a focus in the plane of the objective pupil. To adjust the penetration depth, an adjustment mechanism is provided with which the spatial position of the focus within the plane of the objective pupil may be changed.

    108.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE60205064D1

    公开(公告)日：2005-08-25

    申请号：DE60205064

    申请日：2002-05-16

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER ,  WAWROWSKY KOLJA

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00

    Abstract: The present invention concerns a method and an apparatus for for ROI-scan with high temporal resolution of a specimen (11).At least one light source (1, 2) generats an illumination light beam (4) to be scanned by a scanning device (9) across the specimen (11). The scan pattern (23) and at least one region of interest defines a first plurality of first scan lines (21) and a second plurality of second scan lines (22).Means for adjusting illumination conditions of the at least one light source are positioned in the illumination beam path prior to the scan device (9).Control means connected to the scan device (9) and the means for adjusting the illumination conditions are responsive to the position of the light beam on the specimen.

    109.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10344410A1

    公开(公告)日：2005-04-28

    申请号：DE10344410

    申请日：2003-09-25

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH ,  KNEBEL WERNER ,  MOELLMANN KYRA

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/02 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08 ,  G02B21/32

    Abstract: A scanning microscope includes a light source for evanescently illuminating a sample disposed on a slide. A point detector receives detection light emanating from a scanning point of the sample. A beam deflection device disposed in an optical path of the detection light can shift a position of the scanning point.

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