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    재료의 표면을 조명하기 위한 장치
    102.
    发明公开
    재료의 표면을 조명하기 위한 장치 有权
    用于照射材料表面的装置

    公开(公告)号：KR1020150074026A

    公开(公告)日：2015-07-01

    申请号：KR1020157011964

    申请日：2013-10-23

    Applicant: 피닉스 컨택트 게엠베하 & 컴퍼니 카게

    Inventor： 그루너트,프레드 ,  해일러,프레드릭 ,  님즈,토마스

    IPC: G01N21/88 ,  G01N21/31 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/42

    CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8806

    Abstract: 본발명은재료의표면을조명하기위한장치에관한것으로, 보정광(105)을이용하여재료의표면(103)을조명하는조명장치(101), 상기보정광(105)에대응하여재료의표면(103)에서방출된측정광(109)을기록하는기록장치(107), 및상기재료의표면(103)의분산된스펙트럼반사율(diffuse spectral reflectance)을특징짓는, 측정광(109)의스펙트럼특성을기록하는처리장치(111)를포함하며, 상기조명장치(101)는, 측정광(109)의스펙트럼특성에부합하는스펙트럼특성을가지는, 재료의표면(103)을조명하기위한조명광(113)을생성하도록구성된다.

    Abstract translation: 一种用于照射材料表面的装置，包括用校准光照射材料表面的照明装置，用于记录由材料的表面响应于校准光发射的测量光的记录装置;以及 用于记录表征材料表面的漫反射光谱反射率的表征测量光的光谱特性的处理器装置，其中所述照明装置被配置为产生用于照射具有对应于所述材料的光谱特性的所述材料的表面的照明光 到测量光的光谱特性。

    광학 분석 장치
    104.
    发明公开
    광학 분석 장치 审中-实审
    光学分析仪

    公开(公告)号：KR1020140068759A

    公开(公告)日：2014-06-09

    申请号：KR1020130140457

    申请日：2013-11-19

    Applicant: 가부시키가이샤 호리바 세이사꾸쇼

    Inventor： 아리모토기미히코 ,  다카기소 ,  야다다카아키

    IPC: G01N21/25 ,  G01N21/31

    CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/42

    Abstract: The purpose of the present invention is to improve user convenience in use by classifying the correction of radiation change by an optical fiber and the correction of radiation change by a measurement cell. An optical analyzer comprises: an optical fiber (51(52)) which is arranged at least one among a gap between a light source (3) and a measurement cell (2) and a gap between the measurement cell (2) and an optical detector (4); an optical path switching means (6) which switches between a measurement cell passing condition (P) in which an optical path (L) formed by an optical transmission means (5) passes the measurement cell (2), and a measurement cell non-passing condition (Q) in which the optical path (L) formed the optical transmission means (5) passes a region different from the measurement cell (2) and performs a correction process for a first correction having a long correction period in the measurement cell passing condition (P) and a correction process for a second correction with a short correction period in the measurement cell non-passing condition (Q).

    Abstract translation: 本发明的目的是通过对光纤进行的辐射变化的校正进行分类以及测量单元对辐射变化的校正来提高使用者的使用便利性。 光学分析仪包括：光纤（51（52）），其布置在光源（3）和测量单元（2）之间的间隙中的至少一个与测量单元（2）之间的间隙和光学 检测器（4）; 在由光传输装置（5）形成的光路（L）通过测量单元（2）的测量单元通过条件（P）与测量单元非均匀性之间切换的光路切换装置（6） 通过条件（Q），其中形成光传输装置（5）的光路（L）通过不同于测量单元（2）的区域，并且在测量单元中执行具有长校正周期的第一校正的校正处理 通过条件（P）和用于在测量单元不通过条件（Q）中具有短校正周期的第二校正的校正处理。

    이미지 센서 및 이의 제조 방법
    105.
    发明公开
    이미지 센서 및 이의 제조 방법 无效
    图像传感器及其制造方法

    公开(公告)号：KR1020100057302A

    公开(公告)日：2010-05-31

    申请号：KR1020080116284

    申请日：2008-11-21

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 정태섭 ,  안정착

    IPC: H01L27/146

    CPC classification number: H01L27/14625 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/465 ,  G01J3/513 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14629 ,  Y10T29/49002

    Abstract: PURPOSE: A light guides of the manufacturing method thereof silver image sensor and image sensor are formed into the different width. The photonic efficiency of the image sensor is improved. CONSTITUTION: A plurality of photoelectric transform portion(110R, 110G, 110B) is formed in the semiconductor substrate(101) within the active area. In order to be income to the photoelectric transform portion a plurality of the light guide(330R, 330G, 330B) guides the light which is income from outside to the semiconductor substrate.

    Abstract translation: 目的：将其制造方法的银图像传感器和图像传感器的光导形成为不同的宽度。 改善了图像传感器的光子效率。 构成：在有源区域内的半导体衬底（101）中形成有多个光电变换部（110R，110G，110B）。 为了获得光电变换部分，多个导光体（330R，330G，330B）将从外部收入的光引导到半导体基板。

    Zobrazující spektograf
    106.
    发明专利
    Zobrazující spektograf 未知

    公开(公告)号：CZ20080385A3

    公开(公告)日：2010-03-10

    申请号：CZ20080385

    申请日：2008-06-20

    Applicant: FYZIKALNI STAV AV CR

    Inventor： STRAKA PETR ,  DIVOKY MARTIN

    IPC: G01J3/12 ,  G01J3/00

    CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/51

    Abstract: Zobrazující spektrograf je tvorený první optickou soustavou (104), spektrální filtracní jednotkou, druhou optickou soustavou (124) a detektorem (114). Spektrální filtracní jednotka je tvorena alespon jedním optickým filtrem (110), pro jehož umístení vuci obema optickým soustavám (104, 124) platí z.sub.1.n.z.sub.1.n.´ = f.sub.1.n.f.sub.1.n.´ a z.sub.2.n.z.sub.2.n.´ = f.sub.2.n.f.sub.2.n.´, kde z.sub.1.n. je vzdálenost zobrazovaného predmetu (102) od predmetového ohniska první optické soustavy (104), z.sub.1.n.´ je vzdálenost filtru (110) od obrazového ohniska první optické soustavy (104), f.sub.1.n. resp. f.sub.1.n.´ je predmetová resp. obrazová ohnisková vzdálenost první optické soustavy (104), z.sub.2.n. je vzdálenost filtru (110) od predmetového ohniska druhé optické soustavy (124), z.sub.2.n.´ je vzdálenost detekcní plochy detektoru (114) od obrazového ohniska druhé optické soustavy (124) a f.sub.2.n. resp. f.sub.2.n.´ je predmetová resp. obrazová ohnisková vzdálenost druhé optické soustavy (124).

    제어 가능한 스펙트럼을 갖는 광원
    108.
    发明公开
    제어 가능한 스펙트럼을 갖는 광원 审中-公开
    光谱可控的光源

    公开(公告)号：KR20180032595A

    公开(公告)日：2018-03-30

    申请号：KR20187004622

    申请日：2016-07-21

    Applicant: INSTR SYSTEMS OPTISCHE MESSTECHNIK GMBH

    Inventor： FRANK FELIX ,  ESTERMANN MARKUS ,  KAPPEL CHRISTOPH ,  SCHEWE FLORIAN ,  HARING RETO ,  WINKLER AMY ,  GREAVES CORIN MICHAEL RICARDO

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G02B19/00 ,  G02B27/10

    CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/1286 ,  G02B19/0066 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/425

    Abstract: 본발명은, 광을발생시키는장치에관한것으로, - 복수의광원들(light soucrces)(1), - 상기광원들(1)을구동하는제어디바이스(contral device)(2), 및 - 상기광원들(1)에의해방출된광을출구개구(exit opening)(3)에서중첩시키는중첩광학유닛(superimposition optical unit)을포함한다. 본발명의목적은종래기술에비해개선된장치를제공하는것이다. 이러한목적을위하여본 발명은다음과같은중첩광학유닛을제안한다. 상기중첩광학유닛은, - 상기광원들(1)이위치된초점평면에있는제1 오목거울(4), - 상기광원들(1)에의해방출된광(6)이상기제1 오목거울(4)에의해반사되어도달되는광학격자(optical grating)(5), 및 - 제2 오목거울(7)을포함하고, 상기제2 오목거울(7)은상기광학격자(5)에서회절된광(8)을상기제2 오목거울(7)의초점에위치된출구개구(3) 상으로반사시키는것이다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种装置，用于产生光; - 一多个光源（光soucrces）（1）， - 控制设备（CONTRAL装置）（2），用于驱动所述光源（1），以及 - 所述光源 以及叠加光学单元，用于将光源（1）发射的光叠加在出口（3）处。 本发明的目的是提供一种比现有技术更好的装置。 为此目的，本发明提出如下的叠加光学单元。 叠加光学单元，所述，在光的位置上机构焦平面（6）由所述光源（1）中，第1凹面镜发射光源（1）的第一凹面镜（4）（4 以及由第一凹面镜7和第二凹面镜7反射并到达的光栅5.第二凹面镜7包括光栅5， ）到位于第二凹面镜（7）的焦点处的出口（3）。

    분광모듈
    109.
    发明授权
    분광모듈 有权
    光谱模块

    公开(公告)号：KR101774186B1

    公开(公告)日：2017-09-01

    申请号：KR1020167011626

    申请日：2009-05-07

    Applicant: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤

    Inventor： 시바야마가츠미 ,  요키노다카후미 ,  히로세마사키 ,  이토마사시

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G02B5/18

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0297 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1852 ,  G02B5/1861 ,  G02B7/025 ,  G02B27/4244

    Abstract: 분광모듈(1)은, 전면(2a)으로부터입사한광(L1)을투과시키는기판(2)과기판(2)에입사한광(L1)을투과시키는렌즈부(3)와렌즈부(3)에입사한광(L1)을분광하고, 아울러, 반사하는분광부(4)와, 분광부(4)에의해서반사된광(L2)을검출하는광검출소자(5)를구비하고있다. 기판(2)에는, 광검출소자(5)를위치결정하기위한기준부가되는얼라이먼트마크(12a, 12b) 등에대해서소정의위치관계를가지는오목부(19)가형성되어있고, 렌즈부(3)는오목부(19)에끼워맞춰져있다. 분광모듈(1)에의하면, 렌즈부(3)를오목부(19)에끼워맞춰지게하는것만으로, 분광부(4)로광검출소자(5)와의패시브(passive) 얼라이먼트가실현된다.

    Abstract translation: 分光模块1中，前透镜单元3和用于在基片上传输入射汉王（L1）（2）技术板（2）的镜头单元3，其由（2a）的透过入射汉王（L1） 入射光谱汉王（L1）和，以及，和反映分钟4的一部分，一个微小部分chulsoja光学检测（5），用于检测由它反射的光（L2）（4）。 的基板（2），光学检测chulsoja 5和是由相对于等对准标记的预定位置关系的凹部19形式类型（12A，12B）的加入标准，以确定位置时，镜头单元3 凹部（19）设置在空腔中。 通过仅将透镜部分3与凹入部分19对准，可以在分光镜模块1中实现与光学检测器5的被动对准。

    재료의 표면을 조명하기 위한 장치
    110.
    发明授权
    재료의 표면을 조명하기 위한 장치 有权
    用于照射材料表面的装置

    公开(公告)号：KR101692653B1

    公开(公告)日：2017-01-03

    申请号：KR1020157011964

    申请日：2013-10-23

    Applicant: 피닉스 컨택트 게엠베하 & 컴퍼니 카게

    Inventor： 그루너트,프레드 ,  해일러,프레드릭 ,  님즈,토마스

    IPC: G01N21/88 ,  G01N21/31 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/42

    CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8806

    Abstract: 본발명은재료의표면을조명하기위한장치에관한것으로, 보정광(105)을이용하여재료의표면(103)을조명하는조명장치(101), 상기보정광(105)에대응하여재료의표면(103)에서방출된측정광(109)을기록하는기록장치(107), 및상기재료의표면(103)의분산된스펙트럼반사율(diffuse spectral reflectance)을특징짓는, 측정광(109)의스펙트럼특성을기록하는처리장치(111)를포함하며, 상기조명장치(101)는, 측정광(109)의스펙트럼특성에부합하는스펙트럼특성을가지는, 재료의표면(103)을조명하기위한조명광(113)을생성하도록구성된다.

    Abstract translation: 一种用于照射材料表面的装置，包括用校准光照射材料表面的照明装置，用于记录由材料的表面响应于校准光发射的测量光的记录装置，以及 用于记录表征材料表面的漫反射光谱反射率的表征测量光的光谱特性的处理器装置，其中所述照明装置被配置为产生用于照射具有对应于所述材料的光谱特性的所述材料的表面的照明光 到测量光的光谱特性。

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