公开(公告)号：CN102017115B

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN200880128825.4

申请日：2008-04-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 梅村芳春 ,  甲元芳雄

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01R1/0491 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种探针装置，包括：设置多个端子的线路板；以与线路板形成密闭空间的状态设置的、载置半导体晶片的晶片托盘；设置在线路板与晶片托盘之间的探针晶片，其装置侧连接端子与线路板的端子电连接，其多个晶片侧连接端子与各个半导体芯片一并电连接；设置在线路板和探针晶片之间的装置侧各向异性导电片；设置在探针晶片和半导体晶片之间的晶片侧各向异性导电片；以及在线路板和晶片托盘之间的密闭空间进行减压，以使晶片托盘接近线路板，直至规定的位置为止，且使线路板与探针晶片电连接、探针晶片与半导体晶片电连接的减压部。

公开(公告)号：CN102576049A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN200980161607.5

申请日：2009-09-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 甲元芳雄

IPC: G01R31/302 ,  G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R1/073

CPC classification number: G01R1/07 ,  G01R31/2886 ,  G01R31/3025

Abstract: 本发明提供一种探针装置，是与对象器件之间传送信号的测试装置，其具备：接触部，其利用与对象器件的端子接触，而电连接于对象器件；非接触部，其在未与对象器件的端子接触的状态下，与对象器件传送信号；以及保持部，其用于保持接触部和非接触部，可在连结非接触部和对象器件的对应端子的连接方向，改变接触部和非接触部的相对位置。

公开(公告)号：CN1879027B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。

公开(公告)号：CN102362187A

公开(公告)日：2012-02-22

申请号：CN201080013407.8

申请日：2010-01-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 甲元芳雄

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/60

CPC classification number: G01R31/01 ,  G01R31/2886 ,  H01L22/20 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/014 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49149 ,  Y10T29/53039 ,  Y10T29/53061 ,  Y10T29/5317 ,  Y10T29/53174 ,  Y10T29/53178 ,  H01L2924/00

Abstract: 提供一种制造装置，能免除对于晶片的测试。其具有：检测部，用于检测器件具有的器件端子的位置；生成部，在基板的与器件端子对应的位置上，生成连接器件端子的基板侧端子；及安装部，将器件安装在基板上，并使器件端子和基板侧端子连接，其中，检测部对器件进行摄像，并从拍摄的图像中检测出器件端子的位置；生成部，在基板上与器件端子对应的位置上，印刷基板侧端子的图案。

公开(公告)号：CN102317803A

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN200980124402.X

申请日：2009-07-09

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 田村贤仁

IPC: G01R31/319 ,  G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G01R31/31908 ,  G01R31/31922 ,  G11C29/56008 ,  G11C29/56012

Abstract: 提供一种减小信号的相位误差的测试装置、测试方法、及移相器。所述装置包括：基准时钟源，产生控制所述被测试设备的动作的基准时钟；再生时钟生成电路，其生成相位与所述被测试设备输出的输出数据的相位大致相等的再生时钟；数据取得部，其以基于所述再生时钟的选通信号所指示的定时取得所述输出数据的输出值；比较器，其对所述数据取得部取得的所述输出值与预设的期望值进行比较；判定部，其根据所述比较器的比较结果判定所述被测试设备的好坏；所述再生时钟生成电路具有：对所述被测试设备输出的所述输出数据的相位与所述再生时钟的相位进行比较的相位比较器；根据所述相位比较器的输出对所述基准时钟的相位进行连续移相的移相器。

公开(公告)号：CN101384916B

公开(公告)日：2011-12-28

申请号：CN200680013585.4

申请日：2006-04-20

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 池田直博

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/31922

Abstract: 本发明提供测试装置，具有，根据所给与的时序信号，将所述被测器件的测试用测试图案提供给所述被测器件的多个测试模块、生成基准时钟的基准时钟生成部、对应所述测试模块设置，根据所述基准时钟生成所述时序信号，将所述时序信号提供给各个对应的所述测试模块的多个时序供给部、根据各个所述测试模块接受所述时序信号后，到输出所述测试图案为止的各个所述测试模块的延迟量，控制各个所述时序供给部输出所述时序信号的时序，以使所述多个测试模块输出的各个所述测试图案的时序大致相同的控制部。

公开(公告)号：CN102257739A

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN200980150803.2

申请日：2009-12-04

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 渡边大辅 ,  冈安俊幸

IPC: H04B3/02 ,  H04B3/04 ,  H04B10/00 ,  H04B10/04 ,  H04B10/06 ,  H04B10/14 ,  H04B10/26 ,  H04B10/28 ,  H04L27/02

CPC classification number: H04B10/6932 ,  H04B10/6971 ,  H04L25/03012

Abstract: 提供一种传输系统，该系统是传输数据的传输系统，包括：调制部，其按照准备传输的数据调制预先规定的载波信号的振幅；电光变换部，其把调制部输出的调制信号变换为光信号；光纤，其传输光信号；光电变换部，其把光纤传输来的光信号变换为电流信号；电流电压变换部，其把电流信号线性变换为电压信号；解调部，其解调电压信号。

公开(公告)号：CN102246471A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200980149135.1

申请日：2009-05-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 石川慎一 ,  杉村一 ,  基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L12/56 ,  H04L12/26

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试被测试装置的测试装置，包括：取得部，从对被测试器件的动作进行模拟的模拟环境中取得与被测试器件之间进行通信的数据包列；数据包通信程序生成部，根据数据包列生成测试用的数据包通信程序，所述测试用的数据包通信程序由该测试装置执行，并进行与被测试器件之间的数据包列中所包含的数据包的通信，以及测试部，执行数据包通信程序，与被测试器件之间进行数据包通信的测试。

公开(公告)号：CN101228718B

公开(公告)日：2011-10-26

申请号：CN200680027160.9

申请日：2006-07-20

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 冈安俊幸 ,  渡边大辅

IPC: H04B10/04 ,  H04B10/00 ,  H04B10/06 ,  H04B10/14 ,  H04B10/26 ,  H04B10/28 ,  H04L25/49

CPC classification number: H04B10/504 ,  H04B10/541

Abstract: 本发明公开了一种信号发送装置，包括：输出与所给与的电源电流对应的强度的激光的发光单元、能够将对应多值数据跃迁的多个值的多个电流值的电源电流提供给发光单元的电流源、对应多值数据的跃迁，调制电流电源供给的电源电流的电流值的调制部；多值数据光信号由多位数码数值的输入而生成，电流源具有对应了数码数值位的个数的位电流源，每个位电流源生成与数码值的对应位的位单元对应的电流。调制部与位电流对应具有相应于数码值的位数的个数的电流控制开关，每个电流控制开关，根据数码值对应的位逻辑值，对是否将对应的电流源生成的电流提供给发光单元进行转换。

公开(公告)号：CN102193058A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN201110028842.4

申请日：2011-01-26

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 森田直志 ,  小石哲也 ,  矢口刚史

IPC: G01R31/28 ,  G05B23/02

CPC classification number: G01R31/31907

Abstract: 本发明有效地使用测试模块具有的资源，提供测试至少1个被测试设备的测试装置，该测试装置具有测试模块，其具有在与被测试设备之间传送信号，测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制上述多个测试部；所述测试模块，能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。