公开(公告)号：CN115219877A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210304225.0

申请日：2022-03-25

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 竹内博昭

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明的课题在于提供一种老化板，即使在插座的数量增加的情况下也能够实现老化试验的质量的下降的抑制。为此，老化板具备：基板(40)；插座(70)，安装于基板(40)；连接器(80)，安装于基板(40)；布线系统(50a1～50h10、60a～60p)，设置于基板(40)，将多个插座(70)与连接器(80)连接；以及补偿电路(90)，与布线系统(50a1～50h10、60a～60p)连接，对在布线系统(50a1～50h10、60a～60p)中传输的信号的频率特性进行补偿。

公开(公告)号：CN115219876A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210223654.5

申请日：2022-03-09

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 竹内博昭 ,  平岛浩二 ,  西贤司 ,  张琛弼 ,  吴文咏

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种即使在插座的数量增加的情况下，也能够抑制烧录试验的品质的降低的烧录板。烧录板(20)具备基板(40)、安装于基板(40)的多个插座(70A1～70T20)、安装于基板(40)的连接器(80)、以及设置于基板(40)并将多个插座(70A1～70T20)与连接器(80)连接的多个布线系统，多个布线系统包括传输第一信号的第一布线系统(50a1～50h10)和传输与第一信号不同的第二信号的第二布线系统(60a～60p)，第一布线系统(50a1～50h10)的第一连接方式的种类与第二布线系统(60a～60p)的第二连接方式的种类相互不同。

公开(公告)号：CN110794277B

公开(公告)日：2022-06-03

申请号：CN201910665959.X

申请日：2019-07-23

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐佐木博孝 ,  市川英树

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供即使为在测试中产生急剧的温度变化的类型的DUT也能够将DUT的温度控制在适当的范围内的电子部件处理装置。电子部件处理装置(50)包括：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(70)；基于温度检测电路(92)的检测结果来运算DUT(90)的温度的第一运算部(86)；控制温度调整装置(70)的温度控制部(87)；以及向温度控制部(87)输出第一信号(S1)的第一控制部(88)，温度控制部(87)执行的温度控制包括：基于由第一运算部(86)运算出的DUT(90)的温度的第一温度控制；和与第一温度控制不同的第二温度控制，在开始第一温度控制之后，在从第一控制部(88)输入了第一信号(S1)的情况下，温度控制部(87)将DUT(90)的温度控制从第一温度控制切换为所述第二温度控制。

公开(公告)号：CN114167149A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202110389500.9

申请日：2021-04-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  汐田夏基

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够连接装配有插座(5)的测试头(32)，其具备：保持板(61)，其载置由接触臂(21)输送的DUT(10)；输送单元(62)，其使DUT(10)在保持板(61)与插座(5)之间移动；顶推件(631)，其能够对载置于插座(5)的DUT(10)进行按压；以及天线单元(64)，其具有与载置于插座(5)的DUT(10)的器件天线(12)对置的测定天线(641)。

公开(公告)号：CN113812921A

公开(公告)日：2021-12-21

申请号：CN202110514935.1

申请日：2021-05-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 伊田泰一郎 ,  岩﨑秀明

IPC: A61B5/00

Abstract: 本发明提供一种光超声波测量装置、方法、程序、记录介质，一边补偿使测量装置与测量对象接触时的测量对象的表面形状的变动，一边进行测量对象的测量。光超声波测量装置具有：超声波脉冲输出部，其输出超声波脉冲；脉冲光输出部，其输出脉冲光；反射波测量部，其将超声波脉冲在测量对象中反射后的反射波与时间对应起来进行测量；光声波测量部，其将因脉冲光而在测量对象中产生的光声波与时间对应起来进行测量；超过时刻获取部，其获取反射波的测量结果超过预定的阈值的时刻即超过时刻；以及测量结果位移部，其使光声波的测量结果朝向脉冲光的输出时刻移动第一位移时间。

公开(公告)号：CN113725679A

公开(公告)日：2021-11-30

申请号：CN202110269578.7

申请日：2021-03-12

Applicant: 株式会社爱德万测试 ,  莫列斯有限公司

Inventor： 濑下贵仁 ,  涉谷敦章 ,  新井政之 ,  大山诚敬 ,  秋山茂 ,  松元绚子

IPC: H01R24/38 ,  H01R13/40

Abstract: 本发明提供一种具备同轴连接器的布线板，所述同轴连接器能够高密度地配置同轴端子，并且确保期望的电特性。布线板(1)具备布线板主体(10)以及同轴连接器(20)，同轴连接器具备多个同轴端子(30)以及壳体(70)，多个同轴端子以形成多列的方式配置，同轴端子具备信号端子(40)以及接地端子(60)，接地端子具备筒状的主体部(60a)以及接触片(67)、(64)，该接触片(67)、(64)分别具有与布线板主体接触的接触部(673)、(643)，并且分别从主体部伸出，在沿着布线板主体的法线方向透视布线板的透视俯视时，同轴端子的外侧接触片(67)的一部分与相邻的同轴端子的内侧接触片(64)的一部分重叠。

公开(公告)号：CN113451874A

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN202110260454.2

申请日：2021-03-10

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 樱井孝夫

IPC: H01S3/117 ,  H01S3/00

Abstract: 本发明在照射某波长的脉冲光后立即照射其他波长的脉冲光。激光输出装置(1)具有：将规定波长(Wl)的激光输出为规定频率的第一脉冲(P1)的激励激光器(10)；接受第一脉冲(P1)，针对每个第一脉冲将光路决定为多个光路(OPl、OP2)的某一个并输出的声光调制器(12)；使分别在多个光路(OPl、OP2)行进的行进光的行进方向平行的凸透镜(13)；接受凸透镜(13)的输出(第二脉冲(P2a))分别变化为不同的波长(W2、W3)而输出的波长变化部(14)；接受波长变化部(14)的输出并聚焦的消色差透镜(16)；以芯(18c)的端面(18E)接受消色差透镜(16)的输出的光纤(18)，消色差透镜(16)将波长变化部(14)的输出聚焦于芯(18c)的端面(18E)。

公开(公告)号：CN108957285B

公开(公告)日：2021-09-07

申请号：CN201810390768.2

申请日：2018-04-27

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 筬部明浩 ,  伊藤明彦

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种能够应对被试验电子部件的薄型化的电子部件试验装置用的载体。器件载体(710)将多个端子(HB)从底面突出的IC器件保持在设置于电子部件试验装置的IC插座(50)，具备：薄膜(750)，其为载置IC器件的片状的部件，并与多个端子(HB)的位置相对应地形成有多个小孔(753)，且构成器件载体(710)的底部；以及芯部主体(740)，其设置于在电子部件试验装置内被搬运的测试托盘(TST)，并通过多个铆接件(749)而固定薄膜(750)的外周部(750A)，铆接件(749)的最下点设定于比与薄膜(750)的最下点更高的位置。

公开(公告)号：CN113030598A

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN202011230806.1

申请日：2020-11-06

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 ,  峯尾浩之

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。

公开(公告)号：CN113030589A

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN202011306079.2

申请日：2020-11-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 ,  菊池有朋

IPC: G01R29/08 ,  G01R29/10 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。