Mo-W靶材及其制造方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103797153A

    公开(公告)日:2014-05-14

    申请号:CN201280044707.1

    申请日:2012-09-13

    CPC classification number: C22C27/04 B22F3/15 C22C1/045 C23C14/3414

    Abstract: 本发明提供一种不需进行压延处理就能够提高相对密度的Mo-W靶材及其制造方法。具体为,将钼粉末在1100℃以上1300℃以下的温度下进行脱氧处理,然后,在经过脱氧处理的所述钼粉末上混合钨粉末,接下来,将所述钼粉末和所述钨粉末的混合粉末以所规定的温度进行加压烧结。由此,能够抑制烧结时的空洞(气孔)的产生,从而促进烧结体的高密度化。因此,根据上述制造方法,由于能够不通过实施压延处理就能够实现烧结体的高密度化,从而能够实现溅射成膜时的膜厚的均匀性。

    溅射靶及溅射靶的制造方法

    公开(公告)号:CN111051566A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201980004037.2

    申请日:2019-03-28

    Abstract: 本发明提供一种进一步提高溅射效率的溅射靶以及溅射靶的制造方法。为了达成上述目的,本发明的一个实施方式的溅射靶,具有溅射面,其是纯度为99.95wt%以上的钴靶。与沿着所述溅射面的密排六方晶格结构的(100)面、(002)面、(101)面、(102)面、(110)面、(103)面、(112)面以及(004)面相应的X射线衍射峰的强度比(I(002)+I(004))/(I(100)+I(002)+I(101)+I(102)+I(110)+I(103)+I(112)+I(004))为0.85以上。

    溅射靶、靶制备方法
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107109635B

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201680004797.X

    申请日:2016-09-21

    Abstract: 本发明提供不发生电弧放电,而可在树脂基板上形成不剥落的导电膜的溅射靶。在具有由树脂构成的基体的加工基板32上形成有合金薄膜的溅射靶55中,相对于含有多于50原子%的Cu、以5原子%以上且40原子%以下的范围含有Ni、且以3原子%以上且10原子%以下的范围含有Al的100原子%的基材,以0.01原子%以上的含有率含有由Zn和Mn中的任一种或两种构成的添加物。由于得到无孔隙的溅射靶,所以不发生电弧放电。

Patent Agency Ranking