抛光装置与抛光方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1512929A

    公开(公告)日:2004-07-14

    申请号:CN02810852.3

    申请日:2002-05-29

    Inventor: 户川哲二

    CPC classification number: B24B37/30 H01L21/3212

    Abstract: 一种抛光装置,包括:第一抛光台,具有第一抛光表面;基片托板,用于夹持基片,并将基片定位,使基片的一个表面与第一抛光表面接触;加压装置,用于使基片的表面压贴在第一抛光表面上,该基片已经由基片托板将其与第一抛光表面接触;保持环,安装在基片托板上,环绕基片设置,该基片已经被加压装置压贴在第一抛光表面上;和保持环位置调节装置,用于使保持环相对于基片沿朝向或远离第一抛光表面的方向可调节地定位,该基片已经被压贴在第一抛光表面上。

    研磨头以及研磨装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110919527A

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201910887678.9

    申请日:2019-09-19

    Abstract: 在使用被划分为圆状或环状的薄膜的基板研磨装置中,在方形的基板的角部以及边部的中央的附近局部地对按压力进行调节是困难的。本发明公开了一种研磨头以及研磨装置,该研磨头是用于通过安装于研磨台的研磨垫来对方形的基板进行研磨的研磨装置的研磨头,具备:头主体部;多个弹性袋,该多个弹性袋设置于头主体部的应与研磨台相对的表面;以及基板保持板,该基板保持板用于保持基板,并且由弹性袋向远离头主体部的方向按压该基板保持板,在头主体部设置有与各个弹性袋连通的袋用流路,研磨头还具备设置于弹性袋与基板保持板之间的至少两块支撑板,弹性袋隔着支撑板而按压基板保持板。

    用于面朝上式的研磨装置的研磨头、具备该研磨头的研磨装置及使用该研磨装置的研磨方法

    公开(公告)号:CN110000689A

    公开(公告)日:2019-07-12

    申请号:CN201910007722.2

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明提供了用于面朝上式的研磨装置的研磨头、具备该研磨头的研磨装置及使用了该研磨装置的研磨方法。在面朝上式的研磨装置中,不经由旋转接头就供给研磨液。作为一实施方式,本申请公开了一种研磨头,该研磨头在下表面安装研磨垫来使用,该研磨头用于面朝上式的研磨装置,该研磨头具备:液体贮存部,该液体贮存部设于研磨头的旋转轴的周围,且用于接收液体;及液体排出口,该液体排出口设于研磨头的下表面,且用于排出由液体贮存部接收到的液体,在研磨头的上部形成有以研磨头的旋转轴为中心的环状的开口,液体贮存部经由开口而研磨头的外部的空间连通。

    抛光设备
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105904335B

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201610230339.X

    申请日:2005-10-31

    Abstract: 抛光设备(1)具有抛光垫(22)、用于夹持半导体晶片(W)的顶环(20)、可操作地沿垂直方向移动顶环(20)的垂直运动机构(24)、当顶环(20)的下表面接触抛光垫(22)时可操作地检测顶环(20)的距离测量传感器(46)、可操作地基于距离测量传感器(46)检测到的位置计算顶环(20)抛光半导体晶片(W)的最佳位置的控制器(47)。垂直运动机构(24)包括可操作地将顶环(20)移动到最佳位置的滚珠丝杆机构(30,32,38,42)。

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