Abstract:
샘플의 임계 각도에 배향된 분광 장치는 샘플의 분광 특성을 검지하는 것으로 기재되어 있는데, 여기서 분광 장치는 샘플의 임계 각도에서 또는 그 부근에서의 입사 각도의 위치에서 샘플에 도입된 전자기 방사선으로 샘플을 여기시키도록 구성된 전자기 방사선 소스와, 상기 전자기 방사선 소스 및 샘플과 통신하고 상기 전자기 방사선을 내부적으로 반사하도록 구성된 고굴절율을 갖는 투과 크리스탈과, 상기 투과 크리스탈과 샘플 사이의 임계 각도 또는 그 근처의 입사 각도의 위치에서 샘플에 전자기 방사선을 도입하도록 구성된 반사기와, 상기 샘플로부터의 전자기 방사선을 검지하기 위한 검지기로 구성되어 있다. 또한, 본 발명에는 주변-임계 반사 분광 장치가 통합되어 있는 키트, 시스템 및 방법이 제공된다.
Abstract:
본 발명은 5mJ 이상의 펄스 에너지에서 2000Hz인 것 보다 큰 펄스율로 펄스된 자외선 레이저 시스템에서 장기 수명 빔 퀄리티를 모니터링할 수 있는 자외선 레이저용 파장계(7A)를 제공한다. 바람직한 실시예에서 향상된 조명 구성은 통상적인 종래기술 구성에 비해 에탈론(184)의 펄스 조명 당 28인 인수만큼 감소시킨다. 본 바람직한 실시예에서 에탈론에 의해 산출된 간섭 패턴을 측정하도록 위치된 선형 광다이오드 어레이(180)를 일루미네이팅하기 위해 필요한 양만큼으로만 에탈론에 입사하는 광을 감소시키는 광학기구가 제공된다. 본 실시예에서 빔 스플리터(173)의 두 표면으로부터의 반사에 의해 산출된 두 개의 샘플 빔은 확산성 디퓨저(181D)에 의해 확산되고 확산성 디퓨저의 출력은 스펙트럼적으로 등가인 두 확산 빔을 두 개의 개별 디퓨저에 효과적으로 조합하는 두 개의 개별 이차 디퓨저(181G, 181R)상에 포커싱된다. 하나의 빔은 파장 및 대역폭 측정에 사용되고 다른 빔은 교정을 위해 사용된다. 바람직한 실시예에서 에탈론 챔버는 1.6 내지 2.4 퍼센트사이의 산소 농도를 갖는 질소를 함유한다.
Abstract:
검사대상물의 내부를 통과해 온 투과광을 광섬유에 입광시키고, 그 광을 분광분석해서 검사대상물의 내부품질이나 성분을 측정, 검사하기 위해 소형 패키지화한 분광센서유닛이다. 소정 입사각이내의 광만을 통과시키는 광섬유다발을, 그 수광면으로부터 입광된 광의 편차가 출광측에서 균등하게 분산하도록 꼬아합치고, 또한 이 광섬유다발의 출광면의 형상이 광확산체의 입광측 끝면 및 광전변환소자의 수광면의 크기와 일치하도록 정형유지홀더에 의해 유지시키고, 또한 그 광섬유다발의 출광면으로부터의 광을 확산투과시키는 광확산체와, 그 광확산체의 출광끝면에 설치되는 연속가변 간섭필터와, 이 연속가변 간섭필터에 계속해서 설치되는 광전변환소자를 구비하고, 또한, 상기 광섬유다발과 광확산체와 연속가변 간섭필터의 각각의 광로를 일치시키고, 또한 이들을 패키지내에서 기밀상태로 시일유지시킨다.
Abstract:
전자기 복사를 안내 및 흡수하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는 상기 전자기 복사를 흡수하기 위한 흡수 수단; 및 상기 흡수 수단으로 상기 전자기 복사를 안내하기 위해 상기 흡수 수단에 연결되는 도파관을 포함하고, 상기 도파관 및 상기 흡수 수단은 제1 클래딩층, 상기 제1 클래딩층 상부의 제2 클래딩층 그리고 상기 제1 및 제2 클래딩층들 사이의 양자 우물층을 구비하는 구조로부터 형성되며, 상기 양자 우물층은 상기 제1 및 제2 클래딩층들에 대해 다른 조성을 갖는 물질로 형성되고, 상기 양자 우물층의 두께와 조성은 상기 흡수 수단 내의 전자기 복사의 흡수를 위한 적절한 밴드 갭을 제공하면서 상기 도파관 내의 전자기 복사의 흡수의 허용 레벨을 제공하도록 최적화된다.
Abstract:
본 발명에 관한 측정 프로브(40)에서는, 측정광은, 제1 확산판(19)에 의해 산란되고, 복수의 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 통해서 복수의 수광 센서(13B, 14B, 15B)로 수광될 때에, 제2 확산판(13C, 14C, 15C)을 통해서 각 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에 입사된다. 그리고, 이들 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)는, 상기 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에의 입사광의 입사 각도에 대한 강도 분포의 조건에 따라, 측정 파라미터에 대응한 투과율 특성이 얻어지도록 형성된다. 이로 인해, 본 발명에 관한 측정 프로브(40)는, 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 사용하면서, 그 입사 각도에 의한 투과율 특성의 어긋남의 영향을 저감할 수 있다.
Abstract:
An infrared ray spectroscopy analyzer includes a light source unit, an attenuation prism, a detecting unit-photosensitive array assembly, and a housing. The light source unit is composed of two or more infrared light sources, and is positioned on the bottom of one side of the attenuation prism where beams radiated from the infrared light sources enter along a direction vertical to a direction of passing the attenuation prism. The attenuation prism has a rectangular ladder shape, and has both sides coated with an optical absorbing layer. A sample is placed on the attenuation prism. The detecting unit-photosensitive array assembly comprises: a detecting unit where a linear variable filter (LVF) with a high sensitivity to a specific wavelength band is mounted in order to generate an optical spectrum; and a photosensitive array which detects the spectrum in the detecting unit. In addition, the detecting unit-photosensitive array assembly is positioned on the bottom of the other side of the attenuation prism where beams radiated from the infrared light sources enter along a direction vertical to a direction of passing the attenuation prism. Therefore, the infrared ray spectroscopy analyzer can accurately measure and analyze a minimum sample with a low concentration by maximizing an effective signal through minimized optical loss and improved thermal diffusional properties and thermal insulation properties, maximizing a signal to noise ratio (SNR), and ensuring the collimation of the optical source.