Abstract:
Bei einem Strahlungsemittierenden Halbleiterbauelement mit einer Schichtstruktur (12), die eine Photonen emittierende aktive Schicht (16), eine n-dotierte Mantelschicht (14) und eine p-dotierte Mantelschicht (18) enthält, einem mit der n-dotierten Mantelschicht (14) verbundenen Kontakt, und einer mit der p-dotierten Mantelschicht (18) verbundenen Spiegel-schicht (20), ist die Spiegelschicht (20) erfindungsgemäß durch eine Legierung von Silber mit einem oder mehreren Metallen der Gruppe Ru, Rh, Pd, Au, Os, Ir, Pt, Cu, Ti, Ta und Cr gebildet.
Abstract:
Ein optoelektronisches Halbleiterbauelement umfasst einen optoelektronischen Halbleiterchip (11), der geeignet ist, elektromagnetische Strahlung (15) zu emittieren. Der optoelektronische Halbleiterchip (11) weist eine erste Halbleiterschicht (140) von einem ersten Leitfähigkeitstyp, eine zweite Halbleiterschicht (150) von einem zweiten Leitfähigkeitstyp, eine erste und eine zweite Stromaufweitungsschicht (180, 160), eine Vielzahl elektrischer Verbindungselemente (120) sowie eine Vielzahl erster Verbindungsbereiche (125) auf. Die erste Halbleiterschicht (140) und die zweite Halbleiterschicht (150) bilden einen Halbleiterschichtstapel. Die erste Stromaufweitungsschicht (180) ist auf einer von der zweiten Halbleiterschicht (150) abgewandten Seite der ersten Halbleiterschicht (140) angeordnet. Die erste Stromaufweitungsschicht (180) ist mit der ersten Halbleiterschicht (140) elektrisch verbunden. Die Vielzahl elektrischer Verbindungselemente (120) ist geeignet, die zweite Halbleiterschicht (150) mit der zweiten Stromaufweitungsschicht (160) elektrisch zu verbinden. Die ersten Verbindungsbereiche (125) sind mit der ersten Stromaufweitungsschicht (180) verbunden und erstrecken sich durch die zweite Stromaufweitungsschicht (160) hindurch. Eine Flächenbelegung der ersten Verbindungsbereiche (125) in einem Bereich zwischen benachbarten Teilen der zweiten Stromaufweitungsschicht (160) ist größer als 20 % der Flächenbelegung der zweiten Stromaufweitungsschicht (160).
Abstract:
Es wird ein optoelektronisches Bauelement, das elektromagnetische Strahlung von einer Strahlungsaustrittsfläche (3) des optoelektronischen Bauelements aussendet, mit den folgenden Merkmalen angegeben: einem strahlungsemittierenden Halbleiterchip (1), der elektromagnetische Strahlung erzeugt, und einem Markierungselement (5), das auf der Strahlungsaustrittsfläche (3) des optoelektronischen Bauelements aufgebracht ist, wobei das Markierungselement (5) eine Farbe (4) umfasst, die mit einem Lösungsmittel von der Strahlungsaustrittsfläche (3) des optoelektronischen Bauelements entfernbar und/oder durchlässig für die elektromagnetische Strahlung des optoelektronischen Bauelements ist. Außerdem wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements angegeben.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einem integrierten Überbrückungselement (9, 9A) angegeben, das zum Schutz vor Überspannungen dient.
Abstract:
Es wird eine optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einer Halbleiterschichtenfolge (2, 2') angegeben, die einen ersten Halbleiterbereich (3) eines ersten Leitfähigkeitstyps und einen zweiten Halbleiterbereich (4) eines zweiten Leitfähigkeitstyps und eine aktive Zone mit einem pn-Übergang (5) aufweist, die zwischen dem ersten Halbleiterbereich (3) und dem zweiten Halbleiterbereich (4) ausgebildet ist. Die Halbleiterschichtenfolge (2) ist auf einem Träger (8) angeordnet ist. Der Halbleiterchip (1) weist weiterhin einen ersten Kontakt auf, der zum elektrischen Anschließen des ersten Halbleiterbereichs (3) vorgesehen ist, und einen von dem ersten Kontakt verschiedenen zweiten Kontakt, der zum elektrischen Anschließen des zweiten Halbleiterbereichs (4) vorgesehen ist. Außerdem umfasst der Halbleiterchip (1) ein parallel zu dem pn-Übergang (5) geschaltetes erstes kapazitives elektrisches Element mit einem ersten dielektrischen Element, das dazu geeignet ist, bei Überspannung in Sperrrichtung des pn-Übergangs (5) zumindest einen Teil der Ladung aufzunehmen.
Abstract:
Es wird ein Wellenlängenkonversionselement (11, 12, 13, 14) mit einer Schicht (1) aus einem Keramikmaterial angegeben, das einen keramischen Wellenlängenkonversionsstoff aufweist, und mit einer auf zumindest einer ersten Hauptoberfläche (10) der Schicht (1) aus dem Keramikmaterial angeordneten transparenten Schicht (2), die einen geringeren Brechungsindex als die Schicht (1) aus dem Keramikmaterial aufweist. Weiterhin wird ein Licht emittierendes Halbleiterbauelement mit dem Wellenlängenkonversionselement angegeben.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform des optoelektronischen Halbleiterchips (1) umfasst dieser eine Halbleiterschichtenfolge (2). Die Halbleiterschichtenfolge (2) beinhaltet mindestens eine aktive Schicht (3) zur Erzeugung einer Primärstrahlung (P). Weiterhin umfasst die Halbleiterschichtenfolge (2) eine Mehrzahl von Konversionsschichten (4), wobei die Konversionsschichten (4) dazu eingerichtet sind, die Primärstrahlung (P) wenigstens teilweise zu absorbieren und in eine gegenüber der Primärstrahlung (P) längerwellige Sekundärstrahlung (S) umzuwandeln. Weiterhin weist die Halbleiterschichtenfolge (2) eine Aufrauung (5) auf, die mindestens stellenweise bis in die Konversionsschichten (4) reicht.
Abstract:
Es wird ein Halbleiterkörper (2) mit einer n-leitenden Halbleiterschicht (21) und einer p-leitenden Halbleiterschicht (22) angegeben. Die p-leitende Halbleiterschicht (22) enthält einen p-Dotierstoff und die n-leitende Halbleiterschicht (21) einen n-Dotierstoff und einen weiteren Dotierstoff. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterkörpers angegeben.
Abstract:
Es wird ein strahlungsemittierender Halbleiterkörper (1) mit einer aktiven Schicht (2) zur Erzeugung von Strahlung einer ersten Wellenlänge (λ 1 ) und einer Reemissionsschicht (3), die eine Quantentopf Struktur (4) mit einer Quantenschichtstruktur (5) und einer Barriereschichtstruktur (6) aufweist, beschrieben. Die Reemissionsschicht ist zur Erzeugung von inkohärenter Strahlung einer zweiten Wellenlänge (λ 2 ) mittels Absorption der Strahlung der ersten Wellenlänge in der Barriereschichtstruktur vorgesehen.
Abstract:
Zur Herstellung von Halbleiterchips (1) in Dünnfilmtechnik wird eine aktive Schichtenfolge auf einem Wachstumssubstrat (3) aufgebracht auf der anschließend eine strukturierte reflektierende elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht (4) ausgebildet wird. Dann wird die aktive Schichtenfolge zu aktiven Schichtstapeln (2) strukturiert, so dass sich auf jedem aktiven Schichtstapel (2) eine reflektierende elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht (4) befindet. Anschließend wird als Hilfsträgerschicht eine flexible elektrisch leitfähige Folie (6) auf die Kontaktmaterialschichten (4) aufgebracht und das Wachstumssubstrat entfernt.