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    HYPERSPECTRAL IMAGING SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING A REMOTE OBJECT
    22.
    发明公开
    HYPERSPECTRAL IMAGING SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING A REMOTE OBJECT 审中-公开
    用于成像远程物体的超光谱成像系统和方法

    公开(公告)号：EP2972149A1

    公开(公告)日：2016-01-20

    申请号：EP13812287.4

    申请日：2013-12-03

    Applicant: Corning Incorporated ,  Comstock, II, Lovell Elgin ,  Wiggins, Richard, Lynton ,  Woodard, Kenneth Smith

    Inventor： COMSTOCK, Lovell Elgin, II ,  WIGGINS, Richard Lynton ,  WOODARD, Kenneth Smith

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/04 ,  G01J3/28

    CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/042 ,  G01J2003/045

    Abstract: A hyperspectral imaging system (100b) and a method are disclosed herein for providing a hyperspectral image of an area of a remote object (e.g., scene of interest 104). In one aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic (106), a rotatable disk (302) which has multiple straight slits (304) formed therein, a spectrometer (110), a two-dimensional image sensor (112), and a controller (114). In another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable disk (which has at least one spiral slit formed therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller. In yet another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable drum (which has a plurality of slits formed on the outer surface thereof and a fold mirror located therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller.

    Abstract translation: 本文公开了用于提供远程对象（例如，感兴趣的场景104）的区域的高光谱图像的高光谱成像系统（100b）和方法。 在一个方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件（106），其中形成有多个直缝（304）的旋转盘（302），光谱仪（110），二维图像传感器（112） 和控制器（114）。 另一方面，高光谱成像系统包括至少一个光学元件，旋转盘（其中形成有至少一个螺旋狭缝），分光计，二维图像传感器和控制器。 在又一方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件，可旋转的鼓（其具有在其外表面上形成的多个狭缝和位于其中的折叠镜），光谱仪，二维图像传感器，以及 一个控制器。

    スリット幅変更装置及び方法並びにスペクトル出力装置
    24.
    发明专利
    スリット幅変更装置及び方法並びにスペクトル出力装置 有权
    SLIT宽度改变装置和方法以及光谱输出装置

    公开(公告)号：JP2015102465A

    公开(公告)日：2015-06-04

    申请号：JP2013244132

    申请日：2013-11-26

    Applicant: 日本電気株式会社

    Inventor： 冨田 英也

    IPC: G01J3/04

    CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J2003/042 ,  G01J2003/045 ,  G01J3/18

    Abstract: 【課題】所定のスペクトルを有する物体の捜索を行う際に、適切な波長分解能を迅速に達成することができるスリット幅変更装置とその方法を提供する。 【解決手段】幅の異なる複数の長方形スリットを有するスリット板120と、前記長方形スリットを通過した入射光から得られる入射スペクトルを取得する取得部140と、前記入射スペクトルから前記入射スペクトルの半値波長を取得し、前記半値波長に基づいて前記複数の長方形スリットの1つを選択するスリット選択部240とを有している。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够在寻找具有规定光谱的物体时能够实现快速适当的波长分辨率的狭缝宽度改变装置; 并提供其方法。解决方案：狭缝宽度改变装置具有：狭缝板120，其具有各自具有不同宽度的多个矩形狭缝; 获取从通过矩形狭缝的入射光获得的入射光谱的获取部分140; 以及狭缝选择部240，用于从入射光谱获取入射光谱的半值波长，并且基于半值波长选择多个矩形狭缝中的一个。

    分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置
    25.
    发明专利
    分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置 有权
    光谱特征获取装置，图像评估装置和图像形成装置

    公开(公告)号：JP2014238385A

    公开(公告)日：2014-12-18

    申请号：JP2013220109

    申请日：2013-10-23

    Applicant: 株式会社リコー ,  Ricoh Co Ltd

    Inventor： SHINPO KOHEI ,  KAMIJO TADAHIRO ,  KUBOTA YOICHI

    IPC: G01J3/36 ,  G01J3/50

    CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/045 ,  G01J2003/2826 ,  G03G15/55 ,  G03G2215/00616

    Abstract: 【課題】より広い幅を高密度で測定することが可能な分光特性取得装置を提供する。【解決手段】対象物200の複数の位置からの光束が通過する複数の開口が所定方向に配列され、各々の前記開口が前記所定方向に対して傾斜した方向を長手方向とする開口列すなわち斜めスリットアレイ30と、前記開口を通過した光束を前記所定方向と直交する方向に分光する分光手段すなわち回折素子50と、前記所定方向と平行な方向に複数の画素を配列した1次元撮像手段すなわち受光素子60が所定の間隔で複数列設けられた複数列撮像手段が設置され、前記分光手段で分光された光束は複数の前記1次元撮像手段に跨って照射される。【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够以高密度测量宽宽度的光谱特征获取装置。解决方案：光谱特征采集装置包括：开口阵列，即具有多个开口的倾斜狭缝阵列30， 对象物200的多个位置的光束沿预定方向排列，每个具有相对于预定方向倾斜的方向的开口作为纵向方向; 分光装置，即沿着与预定方向正交的方向分散通过开口的光束的衍射元件50; 以及一维成像装置，即具有沿与预定方向平行的方向排列的多个像素的光接收元件60，并且以预定距离设置在多行中，其中由 光谱装置辐射在多个一维成像装置上。

    SPECTROMETRY DEVICE AND SPECTROMETRY METHOD
    26.
    发明公开
    SPECTROMETRY DEVICE AND SPECTROMETRY METHOD 审中-公开

    公开(公告)号：US20240110830A1

    公开(公告)日：2024-04-04

    申请号：US18275245

    申请日：2021-12-20

    Applicant: Osaka University

    Inventor： Katsumasa FUJITA ,  Kazuki BANDO

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/04 ,  G01J3/28

    CPC classification number: G01J3/0216 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/04 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/045

    Abstract: A spectrometry apparatus (1) according to an embodiment includes a detection object lens that signal light from a sample S enters, a slit (41) through which the signal light passes, a wavelength dispersive element that disperses the signal light having passed the slit (41) in accordance with a wavelength, an optical detector (50) that detects the signal light that has been subjected to wavelength dispersion in the wavelength dispersive element, scanning means for scanning a detection region of the optical detector (50) in the sample, a processing unit (51) that generates a spectral image, based on a detection signal of the optical detector (50), and an illumination optical system (10) that illuminates the sample from a side of the detection object lens.

    MODULAR IMAGING SPECTROMETER ASSEMBLY AND METHOD
    28.
    发明申请
    MODULAR IMAGING SPECTROMETER ASSEMBLY AND METHOD 审中-公开

    公开(公告)号：US20180292258A1

    公开(公告)日：2018-10-11

    申请号：US15481834

    申请日：2017-04-07

    Applicant: RAYTHEON COMPANY

    Inventor： Susan B. Spencer ,  Lacy G. Cook ,  Andrew L. Bullard ,  John F. Silny

    IPC: G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/045

    Abstract: Aspects and embodiments are generally directed to modular imaging spectrometer assemblies and methods of operation thereof. In one example, a modular imaging spectrometer assembly includes foreoptics to receive electromagnetic radiation and produce a real exit pupil, the foreoptics having a first f-number, a first imaging spectrometer to receive and disperse the electromagnetic radiation into a first plurality of spectral bands at a first image plane, the first imaging spectrometer having a second f-number independent of the first f-number, a second imaging spectrometer separated from the first imaging spectrometer, the second imaging spectrometer to receive and disperse the electromagnetic radiation into a second plurality of spectral bands, the second imaging spectrometer having a third f-number independent of the first f-number, and at least one slit aperture positioned to receive the electromagnetic radiation from the real exit pupil and direct the electromagnetic radiation to the first and second imaging spectrometers.

    Micromechanical monochromator with integrated slit aperture for microspectrometers in the UV, visible and infrared range
    30.
    发明申请
    Micromechanical monochromator with integrated slit aperture for microspectrometers in the UV, visible and infrared range 审中-公开
    具有集成狭缝孔径的微机械单色仪，用于微观光谱仪的紫外线，可见光和红外范围

    公开(公告)号：US20040057049A1

    公开(公告)日：2004-03-25

    申请号：US10668025

    申请日：2003-09-19

    Applicant: Applied Photonics Worldwide, Inc.

    Inventor： Reinhard Bruch ,  Uwe Fritzsch ,  Thomas Gessner ,  Thomas Otto ,  Volker Stock

    IPC: G01J003/28

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/045

    Abstract: The present invention relates to different types of micromirror spectrometers using MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) for various applications in the UV, VIS, NIR and MIR wavelength regions. The invention enables a wavelength selection using micro scanning mirror and integrated grating on a much smaller scale than previously encountered conventional diffraction grating monochromators. Especially small designs are obtained via simultaneous usage of collimation optics for both spatial filters, by using entrance and exit slit apertures, which are located very close together. Until now, the spatial filters themselves are not part of the miniaturization. The utilization of the precision from this technology allows for reproducible slits with defined geometries and surface roughness and accurate spatial classification towards the rotation axis of the diffraction grating. Therefore the assembly and adjustment effort of the monochromator is reduced. Due to the option of additional slit apertures, several independent monochromator channels with crossed beam paths can be created; whereas all remaining optical elements (diffraction grating and collimator optic) are utilized together. Such additional channels can serve, for example, as reference measurements of a radiation source, or enable the direct optical control of the grating torsion angle as a monitoring channel. The goal of the invention is to define a simple design and arrangement for monochromators based upon micromechanical elements, which avoids all disadvantages described above.

    Abstract translation: 本发明涉及使用MEMS（微机电系统）的不同类型的微镜光谱仪，用于UV，VIS，NIR和MIR波长区域中的各种应用。 本发明使得能够以比先前遇到的常规衍射光栅单色仪小得多的尺寸使用微扫描镜和集成光栅进行波长选择。 通过使用位于非常靠近的入口和出口狭缝孔，通过同时使用用于两个空间滤光器的准直光学器件来获得特别小的设计。 到目前为止，空间滤波器本身不是小型化的一部分。 利用这种技术的精度，允许具有确定的几何形状和表面粗糙度的可重复切割以及对于衍射光栅的旋转轴的准确的空间分类。 因此，单色仪的组装和调整工作减少了。 由于可选择附加的狭缝孔，可以产生具有交叉光束路径的几个独立的单色仪通道; 而所有剩余的光学元件（衍射光栅和准直器光学元件）被一起使用。 这样的附加通道可以例如用作辐射源的参考测量，或者可以将光栅扭转角的直接光学控制作为监视通道。 本发明的目标是基于微机械元件来定义用于单色仪的简单设计和布置，这避免了上述的所有缺点。

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