Cu-Ni-Si系铜合金条及其制备方法

    公开(公告)号:CN107267805B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201710206398.8

    申请日:2017-03-31

    Abstract: 提供在强度提高的同时,蚀刻后的表面凹凸降低的Cu‑Ni‑Si系铜合金条及其制备方法。含有Ni:1.5~4.5质量%、Si:0.4~1.1质量%的Cu‑Ni‑Si系铜合金条,电导率为30%IACS以上,拉伸强度为800MPa以上,在将以与包含晶体的[001]取向和材料的ND方向的面垂直的方向为轴的旋转角标记为Φ,将以ND方向为轴的旋转角标记为φ1,将以[001]方向为轴的旋转角标记为φ2的情况下,对于作为通过以ND轴为旋转轴只旋转φ1后,为了使ND轴和z轴一致而只旋转Φ,最后围绕[001]轴只旋转φ2,由此材料的ND、TD、RD与晶体的[001]、[010]、[100]一致的角度的组的欧拉角(φ1,Φ,φ2),所有欧拉角的晶体取向的极密度均为12以下。

    溅射靶-背衬板接合体
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105369204B

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201510477273.X

    申请日:2015-08-06

    Inventor: 高村博 铃木了

    Abstract: 本发明涉及溅射靶‑背衬板接合体。一种溅射靶‑背衬板接合体,其为使用焊接材料将溅射靶和背衬板接合而得到的溅射靶‑背衬板接合体,其特征在于,将溅射靶和背衬板之间的焊接材料的外周用熔点为600~3500℃且轴向截面形状为圆形、椭圆形或矩形的线状材料覆盖。本发明提供有效地抑制在使用焊接材料接合溅射靶和背衬板的情况下的由焊接材料在溅射靶和背衬板之间露出引起的电弧放电产生、粉粒产生的技术。

    磁记录介质用溅射靶以及磁性薄膜

    公开(公告)号:CN108699678A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201780011770.8

    申请日:2017-01-04

    Inventor: 小庄孝志

    Abstract: 一种溅射靶或膜,其特征在于,选自Ca、K、Na、Pb、Zn中的任意一种以上元素的氧化物为0.1摩尔%~10摩尔%,Cr为45摩尔%以下,Pt为45摩尔%以下,剩余部分包含Co。本发明的课题在于提供能够大幅减少由氧化物引起的粉粒、并且能够显著地提高成膜时的成品率的溅射靶。由此,能够进行品质良好的磁记录层的成膜,并且能够改善磁记录介质的成品率等。

    光调制元件及电场传感器
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107923932A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201680049373.5

    申请日:2016-10-07

    Abstract: 在能够通过具有产生电光效应的性质的化合物半导体单晶来调制入射的激光(L)的光调制元件中,在不降低化合物半导体的载体浓度的情况下防止低频带中的信号强度的衰减。光调制元件(23)具备:入射限制单元(25),设于化合物半导体单晶(24)的能够供激光(L)入射的入射面(24a)或者其附近,限制激光(L)以外的光向入射面(24a)入射;及遮挡件(26),由具有遮光性并且介电常数低的材料形成,并覆盖化合物半导体单晶(24)的沿着入射到该上述化合物半导体单晶(24)的上述激光(L)的行进方向延伸设置的面(24c)。

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