公开(公告)号：CN103201603A

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN201180052338.6

申请日：2011-09-06

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 平尾祐亮

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01B9/02061 ,  G01J3/4535

Abstract: 干涉仪（1）基于参照光检测器（25）的检测结果来检测移动镜（16）的位置，并且对测定干涉光进行计测，参照光源（21）构成为包含由半导体激光器构成的光源（21a）。参照光学系统（20）具有将从参照光源（21）射出的激光变换成准直光的参照光用准直光学系统（22），上述准直光相对固定镜（15）倾斜入射。

公开(公告)号：CN102175327A

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN201110033824.5

申请日：2011-01-31

Applicant: 重庆大学

Inventor： 温志渝 ,  莫祥霞 ,  张智海 ,  郭媛君 ,  王伟

IPC: G01J3/45 ,  G02B26/08

CPC classification number: G01J3/4535 ,  G01J3/4532

Abstract: 本发明提出一种平动光栅光阀傅里叶微型光谱仪，采用MEMS技术，光谱分析技术，傅里叶数字变换技术；系统中包括光源，准直系统，成像系统，可编程空间光调制器阵列，和单个探测器件；激光波面到调制器处，会发生波面分割，一部分光从上表面反射，另一部分从下表面反射，两束为相干光发生干涉；通过静电驱动改变可编程空间光调制器上下表面之间的高度差，从而改变相干光光程差，实现干涉条纹调制；由单探测器测得光能量变化，利用傅里叶数字变换技术和光程差校正技术，测得样品信息；无需使用传统分光光栅或离子分束器，实现单一器件既分光又选通双重功能，简化系统，缩短光路，使得器件结构更加紧凑，集成度高，可广泛应用于各类生产研究中。

公开(公告)号：CN101583857A

公开(公告)日：2009-11-18

申请号：CN200780049736.6

申请日：2007-12-07

Applicant: SAS光子学有限责任公司

Inventor： G·雷斯勒 ,  D·W·施廷

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J3/4535 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0286

Abstract: 一种傅里叶变换红外光谱仪的干涉仪(1)包括固定组件(40)，其包括相互固定定位的外壳(41)，分束器(4)，以及镜子(9)。活动组件(22)包括相互固定定位的外壳(21)，镜子(8)，以及电动机线圈(25)。第一板簧(27a)具有用于为经过其中的射线提供无障碍光学路径的开口。第一板簧的第一端固定到固定组件，并且第一板簧的第二端固定到活动组件，用于经由第一板簧为活动组件提供相对于固定组件的运动。固定组件的分束器、镜子和活动组件的镜子之间的光学关系被保持成独立于活动组件和固定组件之间的距离。

公开(公告)号：CN101084419A

公开(公告)日：2007-12-05

申请号：CN200580043683.8

申请日：2005-12-16

Applicant: 福斯分析公司

Inventor： H·V·朱尔

IPC: G01J3/453 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/4535 ,  G01J3/28 ,  G01N21/274 ,  G01N21/276 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/127

Abstract: 本发明提供了基于光谱仪内自然存在的大气成分的光谱图来校准红外光谱仪的方法。本发明还提供了应用该方法的光谱仪。该方法在所记录光谱内选择光谱图，并确定用于一特性的，取决于波长的位置值，诸如图的中点。将该值和可从校准用仪器所记录的光谱中获取的参考值进行比较，可确定校准公式。优选地将来自CO2(g)的位于2350cm－1附近的吸收峰作为所选图。该方法无需使用参考样品，并使得校准和对感兴趣样品的光谱记录同时进行。

公开(公告)号：CN1075630C

公开(公告)日：2001-11-28

申请号：CN96102997.8

申请日：1996-03-28

Applicant: 迪维安公司

Inventor： 伊凡·普里克里尔 ,  霍利斯·奥尼尔·霍尔Ⅱ

IPC: G01J3/453 ,  G01J9/02

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/4535 ,  G01J9/02

Abstract: 一种干涉仪，包括：将光源分为测试与参考光束的分束器，探测干涉图样的图象装置，测试光束反射镜，参考光束微反射镜，参考光束聚焦装置，和对光探测器。微反射镜的横向尺寸小于参考光束中心波瓣的横向尺寸，空间滤光器用以减少象差，包括置于透明基体上的反射器，反射器横向尺寸小于会聚其上的光束空间强度分布中心波瓣的横向尺寸。还提供一种在该测试系统中的滤光方法。可消除象差影响，并且在对光操作中不必改变干燥仪的配置。

公开(公告)号：CN1053686A

公开(公告)日：1991-08-07

申请号：CN90110257.1

申请日：1990-12-29

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 吉川治

IPC: G02B7/18 ,  G01J3/00

CPC classification number: G01J3/4535 ,  H02P23/22

Abstract: 本发明揭示了一种用来控制干涉仪中可动镜往复运动的方法和装置，其中，首先设定一与所需的可动镜往复速度相应的分频比，然后根据该分频比对来自一振荡器的一脉冲信号进行分频以便产生一分频后的信号，然后将该分频信号与一干涉信号进行比较以产生一控制可动镜往复速度的一误差信号。最好，该分频信号能加以改变，使使用者能按需要改变与所使用的检测器类型相适应的可动镜往复速度，从而能在最佳条件下进行测量。

公开(公告)号：CN105103030B

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201480013316.2

申请日：2014-01-28

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： M·梅德哈特 ,  B·莫塔达 ,  A·O·埃尔沙特 ,  M·纳吉 ,  M·加德西夫 ,  B·A·萨达尼 ,  A·N·哈菲兹

IPC: G02B26/06 ,  G01J3/06 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01B9/02071 ,  G01J3/4535 ,  G01N2021/3595 ,  G02B26/06 ,  G02B26/0841

Abstract: 一种微机电系统(MEMS)干涉仪提供了可移动反射镜的反射镜定位的自校准。可移动反射镜被耦合至具有可变电容的MEMS致动器。MEMS干涉仪包括用于确定在可移动反射镜的两个或更多个已知位置处的MEMS致动器的电容的电容感测电路和用于使用在已知位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移的校准模块。

公开(公告)号：CN105842204A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610032448.0

申请日：2016-01-18

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 田中丰彦

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01J3/4535 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/425 ,  G01N21/55

Abstract: 本发明提供一种可测定各种形状的试料的树脂识别装置。所述树脂识别装置设为如下构成：包括红外分光光度计及试料载置板(31)、试料载置板(32)，所述红外分光光度计包括：红外光源部(10)，对试料(S)照射红外光；红外光检测部(20)，对从试料(S)反射的红外光的光强度信息进行检测；以及控制部(50)，获取所述光强度信息；所述试料载置板(31)、试料载置板(32)包括开口(33)；并且通过将试料(S)以堵塞开口(33)的方式载置在规定位置，使得红外光源部(10)对试料(S)的下表面照射红外光，红外光检测部(20)对通过试料(S)下表面而反射的红外光的光强度信息进行检测。

公开(公告)号：CN105358932A

公开(公告)日：2016-02-24

申请号：CN201480037632.3

申请日：2014-04-28

Applicant: R·杰克逊

Inventor： R·杰克逊

IPC: G01B9/02 ,  G01J3/45

CPC classification number: G01B9/02049 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/4535

Abstract: 一种允许干涉仪的镜片的精确运动的机构，其包括具有高横向刚度的两个或多个膜片挠性件，创造了卓越性能的迈克尔逊干涉仪。当与反射镜表面的精确控制和参考激光相结合时，上述机构创造了卓越性能的傅里叶变换光谱仪。

公开(公告)号：CN103885179A

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201310593817.X

申请日：2013-11-21

Applicant: 安捷伦科技有限公司

Inventor： G.雷斯勒 ,  J.H.萨勒

IPC: G02B26/10 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01B9/02 ,  G01B9/02015 ,  G01J3/06 ,  G01J3/45 ,  G01J3/4535 ,  G01J2003/061 ,  G01N21/35 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/10 ,  G02B7/182

Abstract: 一种干涉仪包括固定组件和可移动组件，所述固定组件包括基座、分束器组件和固定反射镜，所述可移动组件包括上扫描架、下扫描架和连接到下扫描架的可移动反射镜。一对内挠曲支承件连接到基座和上扫描架，允许上扫描架相对于基座的运动，并且一对外挠曲支承件连接到上和下扫描架，允许下扫描架相对于上扫描架的运动。上和下扫描架的运动允许可移动反射镜在扫描方向上的扫描运动，所述扫描运动被限制成使得在扫描运动期间，扫描运动保持包含可移动反射镜的平面，平行于在可移动和固定组件之间的相应距离处的包含可移动反射镜的多个平面。