Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements angegeben, wobei das Verfahren ein induktives Anregen eines Stroms durch eine induktive Komponente (4) des optoelektronischen Bauelements (10) umfasst, so dass das optoelektronische Bauelement (10) zur Emission elektromagnetischer Strahlung (2) angeregt wird, und ein Messen mindestens einer elektrooptischen Eigenschaft des optoelektronischen Bauelements (10) erfolgt, und ein Aufbringen eines Konvertermaterials (3) auf eine Abstrahlseite (1) desoptoelektronischen Bauelements (10) erfolgt, wobei eine Menge desaufzubringenden Konvertermaterials (3) aus der Messung der elektrooptischen Eigenschaft bestimmt wird.
Abstract:
Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement (100) angegeben, umfassend einen Halbleiterkörper (1), der eine Halbleiterschichtenfolge (2) aufweist, einen Träger (10), der einen Kunststoff aufweist und eine erste Durchkontaktierung (11) und eine zweite Durchkontaktierung (12) aufweist, eine p-Kontaktschicht (6) und eine n-Kontaktschicht (8, 8A), welche zumindest bereichsweise zwischen dem Träger (10) und dem Halbleiterkörper (1) angeordnet sind, eine metallische Verstärkungsschicht (14), welche zumindest bereichsweise zwischen der n-Kontaktschicht (8, 8A) und dem Träger (10) angeordnet ist, wobei die metallische Verstärkungsschicht (14) mindestens 5 pm dick ist, und mindestens eine p-Kontaktdurchführung (7), welche zwischen der ersten Durchkontaktierung (11) und der p-Kontaktschicht (6) angeordnet ist, wobei die p-Kontaktdurchführung (7) mindestens 5 pm dick ist und in lateraler Richtung zumindest bereichsweise von der Verstärkungsschicht (14) umgeben ist. Ferner wird ein vorteilhaftes Verfahren zur Herstellung eines derartigen optoelektronischen Halbleiterbauelements (100) angegeben.
Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Nitrid-Halbleiterbauelements (10) angegeben, umfassend die Schritte: -epitaktisches Aufwachsen einer Nitrid-Halbleiterschichtenfolge (2) auf einem Aufwachssubstrat (1), wobei an einer Grenzfläche (5A)einer Halbleiterschicht (5) der Halbleiterschichtenfolge (2) Vertiefungen (7) ausgebildet werden, -Aufwachsen einer p-dotierten Kontaktschicht (8) über der Halbleiterschicht (5), wobei die p-dotierte Kontaktschicht (8) die Vertiefungen zumindest teilweise auffüllt, und wobei die p-dotierte Kontaktschicht (8) in ersten Bereichen (81), die zumindest teilweise in den Vertiefungen (7) angeordnet sind, eine geringere Dotierstoffkonzentration aufweist als in zweiten Bereichen (82), die außerhalb der Vertiefungen (7) angeordnet sind, und -Aufbringen einer Anschlussschicht (9), die ein Metall, eine Metalllegierung oder ein transparentes leitfähiges Oxid aufweist, auf diep-dotierte Kontaktschicht (8).Weiterhin wird ein mit dem Verfahren herstellbares Nitrid- Halbleiterbauelement (10) angegeben.
Abstract:
Ein Videowand-Modul umfasst eine Mehrzahl von Leuchtdiodenchips, die jeweils eine an einer Oberseite des Leuchtdiodenchips angeordnete Oberseitenelektrode und eine an einer Unterseite des Leuchtdiodenchips angeordnete Unterseitenelektrode aufweisen. Die Leuchtdiodenchips sind in einen Formkörper eingebettet. Die Oberseitenelektroden sind mit einer an einer Vorderseite des Formkörpers angeordneten Vorderseitenmetallisierung verbunden. Die Unterseitenelektroden sind mit einer an einer Rückseite des Formkörpers angeordneten Rückseitenmetallisierung verbunden. An der Rückseite des Formkörpers ist eine dielektrische Schicht angeordnet. Die Rückseitenmetallisierung ist elektrisch leitend mit einer an der dielektrischen Schicht angeordneten Außenmetallisierung verbunden.
Abstract:
Es wird eine optoelektronische Anordnung angegeben, umfassend - einen Formkörper (2) mit einer Bodenfläche (2b), - eine erste Pixelgruppe (41), der eine Vielzahl von Pixeln (1) zugeordnet ist, jeweils aufweisend einen ersten Halbleiterbereich (11), einen zweiten Halbleiterbereich (12) und einen aktiven Bereich (10), - eine Vielzahl von Trennstrukturen (3), die zwischen den Pixeln (1) angeordnet sind, und - zumindest eine erste Kontaktstruktur (51, 52, 53) aufweisend eine erste Kontaktebene (51) und eine erste Kontaktstelle (52), die an der Bodenfläche (2b) frei zugänglich ist, wobei - die Pixel (1) der ersten Pixelgruppe (41) nebeneinander an der Deckfläche (2a) angeordnet sind, - die ersten Halbleiterbereiche (11) und/oder die zweiten Halbleiterbereiche (12) benachbarter Pixel (1) der ersten Pixelgruppe (41) mittels der Trennstrukturen (3) voneinander elektrisch isoliert sind, - der ersten Pixelgruppe (41) eine erste Kontaktstruktur (51, 52, 53) eineindeutig zugeordnet ist, und - die ersten Halbleiterbereiche (11) der Pixel (1) der ersten Pixelgruppe (41) mittels der ersten Kontaktebene (51) elektrisch leitend miteinander verbunden sind und mittels der ersten Kontaktstelle (52) elektrisch kontaktierbar sind.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Leuchtvorrichtung, umfassend: - ein optoelektronisches Halbleiterbauteil mit einer eine lichtemittierenden Fläche umfassende Oberseite, - ein das Halbleiterbauteil einbettendes und die lichtemittierende Fläche freilassendes Gehäuse, - wobei eine Gehäusefläche mit einer lichtstreuenden dielektrischen Lackschicht beschichtet ist, die auf eine der Gehäusefläche abgewandten Fläche der Lackschicht einfallendes Licht streuen kann. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Herstellen einer optoelektronischen Leuchtvorrichtung.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Konversionselement, welches auf einem pixelierten strahlungsemittierenden Halbleiterchip anordbar ist. Das Konversionselement weist eine Trägerschicht, eine Konversionsschicht und eine zwischen der Trägerschicht und der Konversionsschicht angeordnete Zwischenschicht auf. Die Trägerschicht weist ein strahlungsdurchlässiges Trägermaterial auf. Die Konversionsschicht weist ein Konversionsmaterial zur Strahlungskonversion auf. Die Zwischenschicht weist ein Zwischenschichtmaterial mit einem Brechungsindex auf, welcher kleiner ist als ein Brechungsindex des Trägermaterials und ein Brechungsindex des Konversionsmaterials. Die Erfindung betrifft des Weiteren ein optoelektronisches Bauelement aufweisend einen pixelierten strahlungsemittierenden Halbleiterchip und ein Konversionselement, und ein Verfahren zum Herstellen eines Konversionselements.
Abstract:
Es wird ein Licht emittierendes Halbleiterbauelement angegeben, das zumindest einen Licht emittierenden Halbleiterchip (1) mit einer Halbleiterschichtenfolge, einer Lichtauskoppelfläche (10), einer der Lichtauskoppelfläche (10) gegenüber liegenden Rückseitenfläche (11) und Seitenflächen (12), die die Lichtauskoppelfläche (10) und die Rückseitenfläche (11) verbinden, undeinen Trägerkörper (3) aufweist, der einen Formkörper (4) aufweist, der die Seitenflächen (12) des Licht emittierenden Halbleiterchips (1) formschlüssig und unmittelbar bedeckt, wobei der Trägerkörper (3) an der Lichtauskoppelfläche (10) des Licht emittierenden Halbleiterchips (1) eine Oberseite (30) aufweist, auf der ein dielektrischer Spiegel (5) aufgebracht ist.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einem integrierten Überbrückungselement (9, 9A) angegeben, das zum Schutz vor Überspannungen dient.
Abstract:
Es wird eine optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einer Halbleiterschichtenfolge (2, 2') angegeben, die einen ersten Halbleiterbereich (3) eines ersten Leitfähigkeitstyps und einen zweiten Halbleiterbereich (4) eines zweiten Leitfähigkeitstyps und eine aktive Zone mit einem pn-Übergang (5) aufweist, die zwischen dem ersten Halbleiterbereich (3) und dem zweiten Halbleiterbereich (4) ausgebildet ist. Die Halbleiterschichtenfolge (2) ist auf einem Träger (8) angeordnet ist. Der Halbleiterchip (1) weist weiterhin einen ersten Kontakt auf, der zum elektrischen Anschließen des ersten Halbleiterbereichs (3) vorgesehen ist, und einen von dem ersten Kontakt verschiedenen zweiten Kontakt, der zum elektrischen Anschließen des zweiten Halbleiterbereichs (4) vorgesehen ist. Außerdem umfasst der Halbleiterchip (1) ein parallel zu dem pn-Übergang (5) geschaltetes erstes kapazitives elektrisches Element mit einem ersten dielektrischen Element, das dazu geeignet ist, bei Überspannung in Sperrrichtung des pn-Übergangs (5) zumindest einen Teil der Ladung aufzunehmen.